Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng lý học

Trong hơn 40 năm, hệ thống quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng đồng bộ Rigaku Simultix (WDXRF) đã được sử dụng rộng rãi như một công cụ phân tích nguyên tố để kiểm soát quá trình trong các ngành công nghiệp đòi hỏi thông lượng và độ chính xác cao, chẳng hạn như thép và xi măng. Gần 1.000 máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng Simultix đã được giao cho khách hàng trên toàn thế giới. Với những tiến bộ công nghệ trong những năm qua, các yêu cầu của khách hàng cũng trở nên * và đa dạng.Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng lý họcHệ thống Simultix 15 Được phát triển để đáp ứng những nhu cầu thay đổi này. Nó cung cấp hiệu suất, chức năng và khả năng sử dụng được cải thiện đáng kể. Nhỏ gọn và thông minh Simultix 15 là một công cụ phân tích yếu tố mạnh mẽ với hiệu suất được chứng minh trong nhiều lĩnh vực công nghiệp.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng là một dụng cụ được sử dụng để phân tích thành phần của vật chất. Nó được phân tích bằng cách sử dụng bức xạ huỳnh quang đặc trưng từ sự tương tác của tia X với vật chất. Dưới đây là những điểm chính giới thiệu cho máy quang phổ này:

1. Nguyên tắc cơ bản: Bằng cách phân tán các tia X tới thông qua nhiễu xạ tinh thể thành các bước sóng khác nhau của ánh sáng, sau đó sử dụng máy dò để đo cường độ bức xạ huỳnh quang ở các bước sóng khác nhau. Mỗi nguyên tố có bước sóng bức xạ huỳnh quang cụ thể, và bằng cách đo các bước sóng này, sự hiện diện của các nguyên tố khác nhau trong mẫu và hàm lượng tương đối của chúng có thể được xác định.

2. Thành phần dụng cụ: Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng điển hình bao gồm nguồn tia X, giá đỡ mẫu, nhiễu xạ tinh thể, máy dò và hệ thống xử lý dữ liệu. Các nguồn tia X tạo ra tia X năng lượng cao, với các mẫu được đặt trên giá đỡ để phân tích, nhiễu xạ tinh thể được sử dụng để phân tán tia X tới, trong khi máy dò được sử dụng để đo cường độ bức xạ huỳnh quang và truyền dữ liệu đến hệ thống xử lý dữ liệu để phân tích và giải thích.

3. Ứng dụng phân tích:Máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng lý họcSản phẩm Simultix 15Nó được sử dụng rộng rãi trong khoa học vật liệu, địa chất, giám sát môi trường, phân tích kim loại và các lĩnh vực khác. Nó có thể nhanh chóng và không phá hủy xác định các thành phần nguyên tố trong mẫu, với độ nhạy cao và phạm vi đo rộng hơn.

4. Ưu điểm và hạn chế: Ưu điểm của độ phân giải cao, độ chính xác và khả năng tái tạo. Tuy nhiên, nó có thể bị hạn chế bởi nhiễu nền trong việc phát hiện các nguyên tố có nồng độ thấp và khả năng phân tích tương đối yếu đối với các nguyên tố rất nhẹ như hydro và lithium.

Tóm lại, máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng là một công cụ phân tích quan trọng có thể được sử dụng để xác định nhanh chóng và chính xác các thành phần của các nguyên tố trong vật chất và hoạt động trong nhiều lĩnh vực khoa học và công nghiệp.

XRF để phân tích phần tử nhanh và chính xác

Phân tích berili (Be) thành uranium (U) trong hầu hết các ma trận mẫu. Các chỉ số quan trọng nhất để kiểm soát quá trình tự động là độ chính xác, độ chính xác và thông lượng mẫu. Với tối đa 30 (và tùy chọn 40) kênh phần tử rời rạc và tối ưu hóa và công suất ống tia X 4kW (hoặc tùy chọn 3kW) cung cấp tốc độ phân tích và độ nhạy. Kết hợp với phần mềm mạnh mẽ nhưng dễ sử dụng với một loạt các chức năng đơn giản hóa dữ liệu và bảo trì, công cụ này là một công cụ đo lường phân tích yếu tố.

Phân tích phần tử XRF tự động

Đối với các ứng dụng thông lượng cao, tự động hóa là một yêu cầu cơ bản. Có thể được trang bị bộ nạp mẫu tự động 48 bit (ASC). Đối với tự động hóa hoàn toàn, đơn vị tải mẫu tùy chọn cung cấp thức ăn băng tải bên phải hoặc bên trái từ hệ thống tự động hóa chuẩn bị mẫu của bên thứ ba.

Phân tích phần tử bằng cách đồng bộ hóa WDXRF

Tính năng

đa lớp tổng hợp, RX-SERIES

Tinh thể đa lớp tổng hợp mới "RX85" tạo ra cường độ cao hơn khoảng 30% so với các tinh thể đa lớp Be-Ka và B-Ka hiện có.

Kênh XRD

Simultix 15 được trang bị kênh XRD và có thể phân tích định lượng thông qua XRF và XRD.

Pha lê hyperbolic

Các tinh thể hai bề mặt tùy chọn có thể được trang bị cho các kênh cố định. Sức mạnh của tinh thể hai mặt tăng lên so với tinh thể một mặt.

Phần mềm cải tiến dễ sử dụng

Phần mềm Simultix 15 sử dụng cùng một thanh quy trình phân tích định lượng như phần mềm ZSX, tăng cường khả năng hoạt động của các thiết lập điều kiện định lượng.

Công cụ tìm góc quét nặng và nhẹ

Máy đo góc phạm vi phần tử rộng tùy chọn hỗ trợ bán định lượng mẫu không chuẩn (FP) và có thể được sử dụng để xác định định tính hoặc định lượng các phần tử không thông thường.

Đo BG của các nguyên tố vi lượng

Đo nền tùy chọn (BG) cho các kênh cố định, do đó cải thiện độ chính xác của tổng hợp hiệu chuẩn.

Kiểm soát áp suất tự động (APC)

Hệ thống APC tùy chọn duy trì độ chân không liên tục trong buồng quang học để cải thiện đáng kể độ chính xác của phân tích các yếu tố nhẹ.

Tỷ lệ tán xạ định lượng

Khi phân tích quặng và tập trung sử dụng tỷ lệ tán xạ Compton, tỷ lệ tán xạ định lượng tùy chọn tạo ra alpha lý thuyết để hiệu chuẩn tỷ lệ tán xạ.

Lên đến 40 kênh cố định

Cấu hình 30 kênh cố định tiêu chuẩn với tùy chọn nâng cấp lên 40 kênh.

Tự động hóa

Thiết bị tải mẫu tùy chọn cung cấp thức ăn băng tải từ hệ thống tự động chuẩn bị mẫu của bên thứ ba.