Thông số kỹ thuật của máy quang phổ huỳnh quang Spike X XEPOS

Thông số kỹ thuật của máy quang phổ huỳnh quang Spike X XEPOS

Công ty thiết bị phân tích Spike của Đức đã phát triển một kỹ thuật cực kỳ thành công, áp dụng tia X phân cực cho phân tích huỳnh quang. Cũng giống như các bộ lọc phân cực ngày nay là một công cụ không thể thay thế khi chụp ảnh chất lượng cao, kỹ thuật phân tích này đã trở thành một phương tiện không thể thay thế để xác định các yếu tố chính, thứ cấp và dấu vết trong phòng thí nghiệm. Spike Analytics Instruments tiếp tục phát triển công nghệ này và giới thiệu một thế hệ thiết bị mới - Spectro XEPOS Desktop Polarized X-Ray Fluorescent Spectrometer.
Thông số kỹ thuật của máy quang phổ huỳnh quang Spike X XEPOS

Spectro XEPOS sử dụng các thành phần hiệu suất cao bên trong để đạt được độ nhạy và độ chính xác tốt. Sử dụng mục tiêu thứ cấp phân cực để đảm bảo kích thích tối ưu, bộ chuyển đổi tự động mẫu 12 bit, gói ứng dụng được cài đặt sẵn và mô-đun phần mềm thông minh, làm cho Spectro XEPOS trở thành một máy phân tích phần tử đa chức năng thực sự.

Spectro XEPOS đi kèm với các gói ứng dụng được cài đặt sẵn, bao gồm các phương pháp phân tích và phần cứng khác nhau được điều chỉnh trước tại nhà máy. Thích hợp để phân tích: đất, bùn, phụ gia trong dầu, xi măng, xỉ, vật liệu chịu lửa, kiểm tra RoHS linh kiện điện tử, v.v.

Máy quang phổ huỳnh quang tia X XEPOS có thể được sử dụng rộng rãi trong các vật liệu điện tử khác nhau và phân tích các nguyên tố như chì, cadmium, (thủy ngân) trong nhựa, phát hiện giới hạn thấp hơn, độ nhạy cao và ổn định tốt, có thể đáp ứng các chỉ thị WEEE, RoHS của châu Âu.