Chào mừng khách hàng!

Thành viên

Trợ giúp

Tô Châu Xizheng Công nghệ Công ty TNHH
Nhà sản xuất tùy chỉnh

Sản phẩm chính:

hóa chất 17>Sản phẩm
Danh mục sản phẩm

Tô Châu Xizheng Công nghệ Công ty TNHH

  • Thông tin E-mail

    frank.yang@acuitik.com

  • Điện thoại

    13817395811

  • Địa chỉ

    Tầng 4, 298 Xiangke Road, Pudong Xinqu, Thượng Hải

Liên hệ bây giờ

Máy tính để bàn tự động độ dày màng

Có thể đàm phánCập nhật vào02/09
Mô hình
Thiên nhiên của nhà sản xuất
Nhà sản xuất
Danh mục sản phẩm
Nơi xuất xứ
Tổng quan
Sê-ri NS-30 (Máy đo độ dày màng tự động kiểu bàn) là hệ thống phân tích đo độ dày màng tự động kiểu bàn. Trên cơ sở đo độ dày màng, lặp đi lặp lại các bảng lấy mẫu tự động, cho phép đo tự động các điểm được thiết lập và tiếp tục tạo ra bản đồ phân phối dữ liệu 2D và 3D. Sê-ri NS-30 phù hợp để đo độ dày màng wafer hoặc đo độ dày màng tế bào quang điện, v.v.
Chi tiết sản phẩm
Sê-ri NS-30 (Máy đo độ dày màng tự động kiểu bàn) là hệ thống phân tích đo độ dày màng tự động kiểu bàn. Có thể đạt đượcChỉ số khúc xạ hấp thụ chỉ số đo hệ số tuyệt chủng,Trên cơ sở đo độ dày màng, lặp đi lặp lại các bảng lấy mẫu tự động, cho phép đo tự động các điểm được thiết lập và tiếp tục tạo ra bản đồ phân phối dữ liệu 2D và 3D. Sê-ri NS-30 phù hợp để đo độ dày màng wafer hoặc đo độ dày màng tế bào quang điện, v.v.

NS-30 自动 mapping 膜厚仪

Thiết bị vớt váng dầu mỡ cho xử lý nước thải -PetroXtractor - Well Oil Skimmer (

1, đo mẫu tự động, kích thước nền tảng 100mm~450mm tùy chọn;
2, Phần mềm tự động tạo phân phối điểm đo theo nhu cầu;
3, hiệu ứng bản đồ 2D và 3D, bao gồm độ dày/chiết suất/phản xạ và các thông tin khác;
4, Đo căng thẳng phim và uốn bề mặt (Stress/Bow);
II. Thông số kỹ thuật của máy đo độ dày màng tự động NS-30
model NS-30UV NS-30 Sản phẩm NS-30NIR
Phạm vi bước sóng 190 nm - 1100 nm 380 nm đến 1050 nm Từ 950 nm đến 1700 nm
Phạm vi đo độ dày1 1 nm đến 40 μm 15 nm đến 80 μm 150 nm đến 250 μm
Độ chính xác2 1 nmhoặc0.2% 2 nmhoặc0.2% 3 nmhoặc0.4%
Độ chính xác3 0,02 nm 0,02 nm 0,1 nm
Tính ổn định4 0,05 nm 0,05 nm 0,12 nm
kích thước vết sáng 1,5 mm 1,5 mm 1,5 mm
Tốc độ đo < 1 giây(Đo một lần) < 1 giây(Đo một lần) < 1 giây(Đo một lần)
Nguồn sáng Đèn halogen vonfram+Đèn Deuterium Đèn halogen vonfram Đèn halogen vonfram
Kích thước mẫu Đường kính từ1 mmĐến300mmhoặc lớn hơn Đường kính từ1 mmĐến300mmhoặc lớn hơn Đường kính từ1 mmĐến300mmhoặc lớn hơn
1 Phụ thuộc vào vật liệu cụ thể
2 Si/SiO2 (500~1000nm) mẫu
3 Tính toán độ lệch chuẩn 1x của tấm tiêu chuẩn SiO2 500nm 100 lần đo, tính trung bình độ lệch chuẩn 1x của 20 ngày đo hiệu quả
4 Tính trung bình của 100 phép đo SiO2 500nm và độ lệch chuẩn gấp đôi giá trị trung bình của 20 ngày đo hiệu quả