Máy đo độ dày màng bề mặt cong (cầm tay)

Có thể đàm phánCập nhật vào02/09

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Máy đo độ dày màng bề mặt cong NS-Touch (cầm tay) là một hệ thống đo màng cầm tay tuyệt vời với lợi thế giá đáng kể. Khả năng nhanh chóng phân tích dữ liệu quang phổ phản xạ của bộ phim trong vài giây và phân tích độ dày của cả hai lớp phim đơn và nhiều lớp. Đầu dò cầm tay chuyên dụng thuận tiện cho việc đo các bề mặt cong như kính, đèn pha, v.v.

Chi tiết sản phẩm

Máy đo độ dày màng bề mặt cong NS-Touch (cầm tay) là một hệ thống đo màng cầm tay tuyệt vời với lợi thế giá đáng kể,Có thể được sử dụng để kiểm tra độ dày màng cứng kính. Có thể nhanh chóng phân tích dữ liệu quang phổ phản xạ của bộ phim trong vài giây và phân tích độ dày của cả hai lớp phim đơn và nhiều lớp. Đầu dò cầm tay chuyên dụng thuận tiện cho việc đo các bề mặt cong như kính, đèn pha, v.v.

ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪

Một,ACUITIK NS-Touch Độ dày bề mặtChức năng chính của dụng cụ

B5-03=giá trị thông số Ki, (cài 3)

- Dễ vận hành: Đo màng giảm phản xạ trên kính hồ quang cũng như màng giảm phản xạ trên các ống kính quang học khác.

Độ dày màng cứng (Hard Coating)

- Độ dày của lớp phủ cứng và lớp sơn lót có thể được đo cùng một lúc.

Đo độ dày tầng kỵ nước (Hydrophobic Layer)

- Lớp kỵ nước rất mỏng, chỉ dày khoảng một trăm nguyên tử, do đó cần sử dụng tia cực tím bước sóng ngắn để đo.

B5-05=giá trị thông số Kd, (cài 2)

Hiệu chuẩn dễ dàng: Thuật toán AutoCal giúp người dùng thoát khỏi sự nhàm chán của việc hiệu chuẩn hàng ngày.

2, Cải thiện độ chính xác: Giảm thiểu nhiễu phản xạ ngược và đảm bảo kết quả đo chính xác và đáng tin cậy hơn.

3, Hoạt động dễ dàng: Được hưởng lợi từ thuật toán phát hiện mẫu tự động, làm cho quá trình đo trực quan và dễ sử dụng.

III. Thông số kỹ thuật của dòng NS-Touch

model	Sản phẩm NS-TouchUV	Chạm NS-Touch	NS-Touch NIR
Phạm vi bước sóng	190 nm - 1100 nm	380 nm đến 1050 nm	Từ 950 nm đến 1700 nm
Phạm vi đo độ dày1	0,02 μm - 40 μm	0,05 μm - 80 μm	0,1 μm - 250 μm
Độ chính xác2	0,01 μm hoặc 0,2%	0,01 μm hoặc 0,2%	0,02 μm hoặc 0,4%
Độ chính xác3	0,001 μm	0,001 μm	0,002 μm
Tính ổn định4	0,001 μm	0,001 μm	0,002 μm
kích thước vết sáng	100 μm	100 μm	100 μm
Tốc độ đo	< 1 giây(Đo một lần)	< 1 giây(Đo một lần)	< 1 giây(Đo một lần)
Nguồn sáng	Đèn halogen vonfram+Đèn Deuterium	Đèn halogen vonfram	Đèn halogen vonfram
Kích thước mẫu	Đường kính từ1 mmĐến300mmhoặc lớn hơn	Đường kính từ1 mmĐến300mmhoặc lớn hơn	Đường kính từ1 mmĐến300mmhoặc lớn hơn

1, phụ thuộc vào vật liệu cụ thể

2, Si/SiO2 (500~1000nm) mẫu

3, Tính toán độ lệch chuẩn 1x của tấm tiêu chuẩn SiO2 500nm 100 lần đo, tính trung bình độ lệch chuẩn 1x của 20 ngày đo hiệu quả

Tính trung bình của 100 phép đo SiO2 500nm và độ lệch chuẩn gấp đôi giá trị trung bình của 20 ngày đo hiệu quả

Ví dụ đo NS-Touch, đo độ dày màng của lớp phủ giảm phản xạ (AR coating) trên ống kính

NS-Touch lặp lại ví dụ về độ chính xác, độ dày màng cứng trên ống kính đo độ ổn định 1-sigma Độ lệch chuẩn nhỏ hơn 0,001 micron.
NS-Touch重复精度示例

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị