Kính hi?n vi tia X Zeiss Xradia 610& 620 Versa

Kính hiển vi tia X Zeiss Versa đã trở thành một "trợ thủ đắc lực" cho các nhà nghiên cứu và nhà khoa học trên toàn thế giới nhờ vào các đặc tính tuyệt vời của độ phân giải cao (RaaD). Độ phân giải cao cũng được duy trì ở khoảng cách làm việc tương đối lớn, giúp tạo ra những hiểu biết và khám phá khoa học có ý nghĩa phi thường. Với sự phát triển nhanh chóng của công nghệ ngày nay, các yêu cầu cao hơn đối với các thiết bị phân tích cũng được đặt ra và dòng Zeiss Xradio 600 Versa được thiết kế đặc biệt để đáp ứng thách thức này.
Kính hiển vi tia X Zeiss Xradia 610&620 Versa với nguồn sáng và công nghệ quang học được cải tiến
Hai thách thức lớn đối với lĩnh vực chụp cắt lớp máy tính X-quang là: đạt được hình ảnh độ phân giải cao và thông lượng cao ở các mẫu kích thước lớn và khoảng cách làm việc lớn. Hai kính hiển vi tia X do Zeiss giới thiệu đã giải quyết những thách thức này bằng những ưu điểm sau: Hệ thống cung cấp nguồn tia X công suất cao, tăng đáng kể lưu lượng tia X, do đó tăng tốc độ chụp cắt lớp. Làm việc hiệu quả gấp đôi và không ảnh hưởng đến độ phân giải không gian. Đồng thời, sự ổn định của nguồn sáng tia X được cải thiện và tuổi thọ dài hơn.
Kính hiển vi tia X Zeiss Xradia 610&620 Versa bao gồm:
✔ Độ phân giải không gian cao zui 500nm, zoom zui 40 nm
✔ Tăng gấp đôi năng suất so với dòng Zeiss Xradia 500Versa
✔ Dễ sử dụng hơn, bao gồm kích hoạt nguồn nhanh
✔ Khả năng quan sát các tính năng submicron của mẫu có kích thước và loại mẫu rộng hơn ở khoảng cách làm việc lớn hơn
Độ phân giải và thông lượng cao hơn
Kỹ thuật chụp cắt lớp truyền thống dựa trên một độ phóng đại hình học duy nhất, trong khi kính hiển vi tia X Zeiss Xradia Versa sẽ có cả độ phóng đại quang học và hình học, đồng thời sử dụng các nguồn tia X thông lượng cao có thể đạt được độ phân giải dưới micron nhanh hơn. Công nghệ hình ảnh độ phân giải cao (RaaD) ở khoảng cách làm việc lớn cho phép chụp ảnh 3D độ phân giải cao không phá hủy các mẫu có kích thước lớn hơn và dày đặc hơn, bao gồm các bộ phận và thiết bị. Ngoài ra, công nghệ phát hiện tấm phẳng tùy chọn (FPX) có khả năng quét vĩ mô nhanh các mẫu khối lượng lớn (nặng tới 25 kg), cung cấp định vị để quét các khu vực quan tâm bên trong mẫu.
Đạt được một mức độ tự do mới
Hoàn thành nghiên cứu khoa học tiên tiến và nghiên cứu công nghiệp với các giải pháp hình ảnh X-quang 3D xuất sắc trong ngành: Sử dụng zui để mở rộng khả năng hấp thụ và pha để giúp bạn xác định thông tin và đặc điểm vật liệu phong phú hơn. Sử dụng kỹ thuật chụp cắt lớp xen kẽ nhiễu xạ (LabDCT) để tiết lộ thông tin về cấu trúc tinh thể 3D. Công nghệ thu thập hình ảnh tiên tiến cho phép quét chính xác cao các mẫu lớn hoặc các mẫu có hình dạng bất thường. Sử dụng các thuật toán machine learning để giúp bạn xử lý và phân chia mẫu.
Giải pháp 4D/tại chỗ tuyệt vời
Dòng Zeiss Xradia 600 Versa có khả năng thực hiện các quá trình năng động để mô tả cấu trúc vi mô không phá hủy 3D của vật liệu trong môi trường được kiểm soát. Với Xradia Versa vẫn duy trì các đặc tính của hình ảnh độ phân giải cao ở khoảng cách làm việc lớn, các mẫu có thể được đặt trong khoang mẫu hoặc trong thiết bị tải tại chỗ có độ chính xác cao để chụp ảnh độ phân giải cao. Versa tích hợp liền mạch với các kính hiển vi khác của Zeiss để giải quyết những thách thức về hình ảnh đa quy mô.