Chào mừng khách hàng!

Thành viên

Trợ giúp

Công ty TNHH Thiết bị khoa học Guochuang (Tô Châu)
Nhà sản xuất tùy chỉnh

Sản phẩm chính:

hóa chất 17>Sản phẩm

Công ty TNHH Thiết bị khoa học Guochuang (Tô Châu)

  • Thông tin E-mail

    info_gcinstruments@163.com

  • Điện thoại

    18698644445

  • Địa chỉ

    Tòa nhà số 1, 286 đường Thanh Long Cảng, thành phố mới của đường sắt cao tốc quận Tương Thành, thành phố Tô Châu A201

Liên hệ bây giờ

Đặc tính XAFS

Có thể đàm phánCập nhật vào02/09
Mô hình
Thiên nhiên của nhà sản xuất
Nhà sản xuất
Danh mục sản phẩm
Nơi xuất xứ
Tổng quan
Đặc tính XAFS thu được thông tin về cấu trúc điện tử cục bộ, cấu trúc nguyên tử và môi trường hóa học của nguyên tử hấp thụ trung tâm bằng cách đo đường cong thay đổi của hệ số hấp thụ tia X của mẫu với năng lượng photon tới. Đường cong này thể hiện hiện tượng dao động ở phía năng lượng cao của cạnh hấp thụ bắt nguồn từ hiệu ứng giao thoa của sóng quang điện tử kích thích bởi tia X với sóng tán xạ của các nguyên tử lân cận.
Chi tiết sản phẩm
XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) là một kỹ thuật dựa trên phổ hấp thụ tia X để phân tích cấu trúc cục bộ và môi trường hóa học của vật liệu ở quy mô nguyên tử. Dưới đây là một mô tả chi tiết về đặc tính của XAFS:
Nguyên tắc cơ bản của đặc tính XAFS
Đặc tính XAFS thu được thông tin về cấu trúc điện tử cục bộ, cấu trúc nguyên tử và môi trường hóa học của nguyên tử hấp thụ trung tâm bằng cách đo đường cong thay đổi của hệ số hấp thụ tia X của mẫu với năng lượng photon tới. Đường cong này thể hiện hiện tượng dao động ở phía năng lượng cao của cạnh hấp thụ bắt nguồn từ hiệu ứng giao thoa của sóng quang điện tử kích thích bởi tia X với sóng tán xạ của các nguyên tử lân cận. Tùy thuộc vào phạm vi năng lượng, phổ XAFS có thể được chia thành hai khu vực chính:
Cấu trúc gần hấp thụ tia X (XANES):
Nằm gần cạnh hấp thụ (khoảng 30-50 eV), nó rất nhạy cảm với trạng thái oxy hóa, cấu hình phối hợp và trạng thái điện tử của các nguyên tử hấp thụ trung tâm. Thông tin này có thể thu được định tính hoặc bán định lượng bằng cách phân tích đỉnh, cường độ và hình dạng của phổ XANES.
Cấu trúc hấp thụ tia X mở rộng (EXAFS):
Phạm vi năng lượng cao hơn (khoảng 50-1000 eV) sau khi bao phủ các cạnh hấp thụ, chuyển đổi dao động của không gian năng lượng thành hàm phân phối xuyên tâm (không gian R) thông qua biến đổi Fourier, trung tâm phân tích định lượng hấp thụ các thông số cấu trúc như loại, khoảng cách, phối số và độ mất trật tự của các nguyên tử phối hợp xung quanh nguyên tử.
II. Lợi thế kỹ thuật của đặc tính XAFS
Độ phân giải nguyên tử:
Khả năng phát hiện môi trường cục bộ của các nguyên tử riêng lẻ trong vật liệu, bao gồm các loại, khoảng cách và phối hợp của các nguyên tử, v.v., cung cấp cơ sở cấu trúc vi mô để hiểu các tính chất của vật liệu.
Không phụ thuộc vào cấu trúc dài hạn:
Không giống như các kỹ thuật nhiễu xạ truyền thống, XAFS đặc trưng không yêu cầu mẫu phải kết tinh và phù hợp để phân tích cấu trúc của các vật liệu không tinh thể, mất trật tự cao như dung dịch, thủy tinh và vật liệu nano.
Độ nhạy môi trường hóa học:
Độ nhạy cao với trạng thái oxy hóa của các nguyên tử hấp thụ trung tâm, môi trường hóa học phối hợp (ví dụ: các loại nguyên tử phối hợp, chiều dài liên kết) có thể tiết lộ những thay đổi động lực của vật liệu trong phản ứng hóa học hoặc quá trình vật lý.
Khả năng đặc tính tại chỗ:
Nó có thể mang theo tất cả các loại thiết bị phản ứng tại chỗ, theo dõi sự phát triển cấu trúc của vật liệu trong thời gian thực trong điều kiện khắc nghiệt như nhiệt độ cao, điện áp cao và điện hóa, cung cấp dữ liệu quan trọng để nghiên cứu cơ chế phản ứng.
Tính phổ biến của các yếu tố:
Phổ XAFS của gần như tất cả các nguyên tố trong bảng tuần hoàn có thể đo được, bao gồm các nguyên tố nhẹ (ví dụ: carbon, oxy) và các nguyên tố kim loại chuyển tiếp, phù hợp để phân tích các hệ thống phức tạp nhiều thành phần.
III. Ứng dụng đặc tính XAFS
Nghiên cứu vật liệu nano:
Phân tích kích thước, hình dạng và cấu trúc phối hợp bề mặt của các hạt nano tiết lộ cơ chế hoạt động hóa học sinh học trên giao diện vật liệu nano-hệ thống sinh học.
Khoa học xúc tác:
Mô tả cấu trúc cấp nguyên tử của trung tâm hoạt động của chất xúc tác và hiểu cơ chế phản ứng xúc tác. Ví dụ, công nghệ XAFS có thể tiết lộ sự thay đổi động lực của các loài hoạt động trong chất xúc tác hợp kim loãng, cung cấp hướng dẫn lý thuyết để thiết kế hợp lý các chất xúc tác hiệu quả cao.
Vật liệu năng lượng:
Nghiên cứu sự thay đổi trạng thái oxy hóa của các hoạt chất trong quá trình sạc và xả pin ion, sự phát triển cấu trúc cục bộ của vật liệu điện cực và tương tác giao diện điện phân-điện cực. Đặc tính XAFS cung cấp hỗ trợ lý thuyết vững chắc để phát triển pin ion hiệu suất cao hơn.
Y sinh học:
Phân tích môi trường phối hợp của các phụ kiện kim loại trong các đại phân tử sinh học và hiểu cơ chế chức năng của các phân tử sinh học. Ví dụ, công nghệ XAFS có thể mô tả cấu trúc phối hợp cục bộ của các nguyên tử sắt trong ferritin nanase, tiết lộ sự khác biệt trong hoạt động của nó trong việc loại bỏ các gốc tự do superoxide.
Khoa học môi trường:
Nghiên cứu cơ chế phân bố hình thái và chuyển đổi các chất ô nhiễm, cung cấp cơ sở khoa học cho quản lý môi trường. Phân tích hình thái hóa học và cách các chất ô nhiễm kim loại nặng liên kết với môi trường, đánh giá rủi ro sinh thái của chúng.
Phương pháp thử nghiệm đặc tính XAFS
Phương pháp truyền:
Thích hợp cho các mẫu truyền qua phim, bột, v.v., hệ số hấp thụ thu được bằng cách đo tỷ lệ cường độ của tia X tới và tia X truyền qua.
Phương pháp huỳnh quang:
Thích hợp cho mẫu có nồng độ thấp hoặc mẫu dày, thông tin hấp thụ được thu thập bằng cách phát hiện tín hiệu huỳnh quang được tạo ra bởi sự kích thích của mẫu bằng tia X.
Phương pháp phản xạ đầy đủ:
Kết hợp với nguyên lý phản xạ đầy đủ, cải thiện độ nhạy bề mặt, thích hợp cho nghiên cứu khoa học bề mặt và vật liệu màng.
Kỹ thuật đặc tính tại chỗ:
Kết hợp đặc tính XAFS với các tế bào điện hóa, lò nhiệt độ cao, thiết bị điện áp cao, v.v., để đạt được sự giám sát diễn biến cấu trúc của vật liệu trong điều kiện làm việc thực tế.