Đa chức năng X-Ray hấp thụ Spectrometer

Công cụ sáng tạo quốc giaĐa chức năng X-Ray hấp thụ SpectrometerSản phẩm SuperXAFS M9000

Thông số cốt lõi

1. Phạm vi năng lượng: 4,5-20keV, có thể nâng cấp lên 25keV

2. Thông lượng ánh sáng tại mẫu: ≥4 × 10⁶photon / s @ 7-9 keV

3. Độ phân giải năng lượng: 0,5-1,5 eV@7-9 keV

4. lặp lại năng lượng: ≤30 meV@24h

5. Độ chính xác của cơ chế điều chỉnh: Bước quét năng lượng tối thiểu 0,1eV

Chế độ làm việc

1. Hỗ trợ chức năng quét gần.

2. Hỗ trợ phổ hấp thụ chế độ truyền/huỳnh quang, phổ phát xạ.

Tính năng nổi bật

1. Thu thập tự động nhiều mẫu tùy chỉnh, giảm số lần lấy mẫu.

2. Cung cấp cơ sở dữ liệu mẫu để đơn giản hóa phân tích người dùng.

3. Hỗ trợ tùy chỉnh cảnh tại chỗ, cung cấp hướng dẫn phân tích dữ liệu chuyên nghiệp hấp thụ phổ.

Công cụ sáng tạo quốc giaĐa chức năng X-Ray hấp thụ SpectrometerSản phẩm SuperXAFS M9000

Máy quang phổ cấu trúc tốt hấp thụ tia X (XAFS/XES) là một kỹ thuật không phá hủy được sử dụng để nghiên cứu cấu trúc cục bộ và trạng thái điện tử của vật liệu. Kỹ thuật này sử dụng sự tương tác của tia X với vật chất để thu được phổ hấp thụ gần (XANES) của các nguyên tố được chỉ định, phổ hấp thụ xa mở rộng (EXAFS) và phổ phát xạ dải năng lượng cụ thể, được sử dụng để phân tích trạng thái hóa học và hóa trị của các nguyên tố, cấu trúc phối hợp của môi trường cục bộ xung quanh nguyên tử và sàng lọc các loại nguyên tử phối hợp của các nguyên tố được đo, là một phương tiện quan trọng để mô tả cấu trúc vi phối hợp của các vật liệu tinh thể và phi tinh thể. XAFS/XES chủ yếu được sử dụng trong các chất xúc tác, hợp kim, gốm sứ, chất gây ô nhiễm môi trường, tất cả các loại vật liệu tinh thể và phi tinh thể và phân tích trạng thái hóa trị, cấu trúc phối hợp và phân tích trạng thái điện tử của các ion kim loại trong các mẫu sinh học, cũng như nghiên cứu quá trình tiến hóa động của cấu trúc cục bộ của vật liệu dưới sự thay đổi của trường nhiệt, trường ánh sáng, điện trường và từ trường.