Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X

Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X Ux-720: Máy đo độ dày lớp phủ chuyên nghiệp thế hệ mới Ux-720, sử dụng Si-PIN có độ phân giải cao (hoặc máy dò trôi silicon SDD), độ chính xác đo lường và kết quả đo lường ngành công nghiệp. Sử dụng công nghệ FlexFP-Multi, cho dù đó là kiểm soát chất lượng trong quá trình sản xuất hay kiểm tra ngẫu nhiên và kiểm tra đầy đủ trong kiểm tra vật liệu đến và kiểm tra tính chất vật liệu, chúng tôi sẽ cung cấp trải nghiệm thân thiện và đáp ứng nhu cầu kiểm tra.

　　Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X UX-720Hoa Duy

　　Chỉ số sản phẩm:

Công nghệ đo độ dày: Công nghệ đo độ dày huỳnh quang tia X

Loại mẫu thử nghiệm: mạ kim loại, mạ hợp kim

Giới hạn đo dưới: 0,003um

Giới hạn trên của phép đo: 30-50um (được xác định bởi các yếu tố vật liệu)

Số tầng đo: 10 tầng

Thời gian đo: 30-120 giây

Loại máy dò: Điện lạnh Si-PIN

Độ phân giải máy dò: 145eV

Phạm vi áp suất cao: 0-50Kv, 50W

Thông số ống X-ray: 0-50Kv, 50W, lớp cửa sổ bên;

Mục tiêu ống quang: Mục tiêu Mo;

Bộ lọc: 3 loại chuyển đổi tự động;

Quan sát CCD: 2,6 megapixel

Phạm vi vi chuyển động: XY15mm

Điện áp đầu vào: AC220V, 50/60Hz

Môi trường thử nghiệm: Điều kiện không chân không

Giao tiếp dữ liệu: Chế độ USB2.0

Chuẩn trực: Ø1mm, Ø2mm, Ø4mm

Phương pháp phần mềm: FlexFP-Multi

Không gian làm việc: Tùy chỉnh không gian làm việc mở

khoang mẫu: 330 × 360 × 100mm

　　Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia XUX-720Giới thiệu sản phẩm:

Ux-720 thế hệ mới của máy đo độ dày mạ chuyên nghiệp trong nước, sử dụng độ phân giải cao Si-PIN (hoặc SDD Silicone Drift Detector), độ chính xác đo lường và kết quả đo lường ngành công nghiệp.

Sử dụng công nghệ FlexFP-Multi, cho dù đó là kiểm soát chất lượng trong quá trình sản xuất hay kiểm tra ngẫu nhiên và kiểm tra đầy đủ trong kiểm tra vật liệu đến và kiểm tra tính chất vật liệu, chúng tôi sẽ cung cấp trải nghiệm thân thiện và đáp ứng nhu cầu kiểm tra.

Nền tảng vi di động UX-720 kết hợp với HD CCD, điều chỉnh núm được thiết kế bên ngoài vỏ, quan sát vị trí di chuyển đơn giản và thuận tiện.

Công nghệ huỳnh quang tia X kiểm tra việc áp dụng độ dày của lớp phủ, cải thiện điều kiện kiểm tra sản xuất hàng loạt các sản phẩm mạ điện, không phá hủy, nhanh chóng và chính xác hơn, đảm bảo chất lượng trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn.

Máy đo độ dày lớp phủ Ux-720 sử dụng công nghệ Huawei FlexFp-Multi, không bị giới hạn bởi mẫu tiêu chuẩn, có thể kiểm tra độ dày lớp phủ của mẫu trực tiếp mà không cần mẫu mạ, kết quả kiểm tra chịu được xác minh khoa học.

Thiết kế di chuyển mẫu là điều chỉnh bên ngoài khoang mẫu, di chuyển mẫu thuận tiện và nhanh chóng khi thử nghiệm đa điểm, giúp nâng cao hiệu quả.

Thiết kế khoa học hơn, phù hợp với phần mềm và phần cứng, liên kết cơ điện, an toàn bức xạ cao hơn yêu cầu tiêu chuẩn quốc gia GBZ115-2002.

Hoạt động phần mềm có quyền quản lý phân cấp của người điều hành, người điều hành chung, người giám sát sử dụng tên người dùng và mật khẩu khác nhau để đăng nhập, báo cáo hồ sơ kiểm tra đồng thời tự động thêm tên đăng nhập của người kiểm tra.

UX-720Phụ kiện tiêu chuẩn

Giá đỡ cố định mẫu 1 chiếc

Phim hỗ trợ cửa sổ: 100 tờ

Ống bảo hiểm: 3 cái

Máy chủ máy tính: Thương hiệu+lõi kép

Màn hình: LCD 19 inch

Máy in: Máy in phun

UX-720Phụ kiện tùy chọn

Có thể nâng cấp lên máy dò SDD

Có thể nhận ra chức năng hoạt động một phím hoàn toàn tự động, chuyển đổi tự động của chuẩn trực, chuyển đổi tự động của bộ lọc, tự động dừng lại với nắp mở, ảnh thử nghiệm mẫu tự động chụp, tự động lưu, báo cáo thử nghiệm tự động bật lên, thông tin nhà cung cấp tự động lọc và lưu