Máy chụp ảnh nhiễu xạ tia X

Có thể đàm phánCập nhật vào05/07

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Nền tảng cốt lõi của thiết bị hình ảnh nhiễu xạ tia X dựa trên sự tích lũy kỹ thuật sâu sắc của đội ngũ sau tiến sĩ của Viện Hàn lâm Khoa học Trung Quốc, trải qua nhiều năm kiên trì, đã phát triển thành công thiết bị hình ảnh nhiễu xạ tia X wafer (XRT) được thiết kế đặc biệt để giám sát sản xuất. Thiết bị sử dụng công nghệ tia X có độ chính xác cao, cấu trúc lưới bên trong vật liệu phối cảnh không phá hủy, có thể đo các khuyết tật bên trong wafer trần vật liệu khác nhau như silicon đơn tinh thể/silicon carbide/gallium nitride ngoại tuyến/hoàn toàn tự động, có thể kiểm tra các vết nứt vi mô bên trong/sai lệch vị trí/bao gồm/microtube/trầm tích/trượt/xếp chồng lỗi lớp/bề mặt trầy xước/sub-hạt và các khuyết tật khác, và đi kèm với thuật toán, có thể cung cấp dịch vụ tùy chỉnh phi tiêu chuẩn.

Chi tiết sản phẩm

Máy chụp ảnh nhiễu xạ tia XSo với các sản phẩm cạnh tranh quốc tế Nhật Bản của Mỹ, nền tảng cốt lõi XRT thực hiện khả năng tự điều khiển các thành phần cốt lõi. Điều này không chỉ có nghĩa là giá cả phải chăng, giảm đáng kể chi phí nhập khẩu cho các doanh nghiệp, mà còn có nghĩa là thời gian thực hiện rút ngắn xuống còn 3-6 tháng và không bị ảnh hưởng bởi biến động chuỗi cung ứng quốc tế.

Thiết bị sử dụng công nghệ tia X có độ chính xác cao, cấu trúc lưới bên trong vật liệu phối cảnh không phá hủy, có thể đo các khuyết tật bên trong wafer trần vật liệu khác nhau như silicon đơn tinh thể/silicon carbide/gallium nitride ngoại tuyến/hoàn toàn tự động, có thể kiểm tra các vết nứt vi mô bên trong/sai lệch vị trí/bao gồm/microtube/trầm tích/trượt/xếp chồng lỗi lớp/bề mặt trầy xước/sub-hạt và các khuyết tật khác, và đi kèm với thuật toán, có thể cung cấp dịch vụ tùy chỉnh phi tiêu chuẩn.

晶圆X射线衍射成像仪（XRT）简介_01.png

Tại sao XRT là lựa chọn tốt nhất cho NDT?

Phương pháp phát hiện	Ưu điểm	Nhược điểm
Phương pháp nhuộm	Chi phí thấp	Phát hiện phá hoại, không thể phát hiện khiếm khuyết đóng bên trong
Hình ảnh nhiệt hồng ngoại	Không tiếp xúc	Độ nhạy thấp, dễ bị rò rỉ
Kiểm tra siêu âm	Có thể phát hiện khuyết tật nội bộ	Không đủ trực quan, khả năng phát hiện vết nứt cấp micron hạn chế
Phát hiện XRT	Không phá hủy, nhanh chóng, chính xác, trực quan	Chi phí thiết bị tương đối cao

Nhà nước thay thế thế lực mới

X射线衍射成像仪

So sánh lợi thế offline online

X射线衍射成像仪

Máy chụp ảnh nhiễu xạ tia XGiới thiệu thiết bị:

X射线衍射成像仪

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị