-
Thông tin E-mail
hha.contact@hitachi-hightech.com
- Điện thoại
-
Địa chỉ
V5-0602 (1) Trần Quốc Tuấn
Công ty TNHH Thiết bị phân tích Hitachi (Thượng Hải)
hha.contact@hitachi-hightech.com
V5-0602 (1) Trần Quốc Tuấn
Tại sao chọn EA8000AMáy phân tích tia X?
Việc sử dụng sáng tạo và phối hợp hình ảnh truyền tia X với phổ huỳnh quang tia X tiên tiến cho phép quét EA8000A nhanh hơn 100 lần so với các phương pháp khác. Ví dụ, chỉ mất 30 phút để phát hiện và phân tích thành phần các hạt kim loại có kích thước 20 µm trong khu vực 200 x 250mm.
EA8000A có thể phát hiện các vật thể kim loại lạ bằng hình ảnh chiếu tia X, sau đó tự động quét các khu vực này bằng công nghệ XRF.
Công nghệ hình ảnh Hitachi sử dụng đảm bảo phát hiện vật thể lạ kim loại trong toàn bộ khối lượng mẫu. Cơ chế quang học mao dẫn XRF tiên tiến cung cấp chùm tia X tập trung cao và mạnh mẽ để phân tích các vật thể nước ngoài kim loại dưới bề mặt của tấm điện cực và màng hữu cơ.
Với các tính năng linh hoạt, tốc độ cao và tự động hóa, EA8000A có thể hỗ trợ sản xuất hàng loạt. Nó có khả năng quét nhanh, vì vậy nó rất phù hợp để phân tích nguyên liệu thô, kiểm soát quá trình và phân tích lỗi, đảm bảo tất cả các khía cạnh của sản xuất pin lithium-ion đều đáp ứng các tiêu chuẩn chất lượng cao.
