Dụng cụ đo góc giọt nước

Định vị sản phẩm
Máy đo góc tiếp xúc SL200L+là một thiết bị được thiết kế đặc biệt để phân tích độ sạch bề mặt và độ ẩm của các vật liệu chính xác như tinh thể lỏng, wafer, chất bán dẫn, silicon và photoxelate. Dựa trên nền tảng di động lớn và khái niệm thiết kế mô-đun, thiết bị này hỗ trợ kiểm tra chất lỏng tự động, góc tiếp xúc động và độ căng giao diện, cung cấp hỗ trợ dữ liệu chính xác cho kiểm tra chất lượng công nghiệp và nghiên cứu phát triển.

Lợi thế công nghệ cốt lõi

1. Thiết kế nền tảng di động lớn：

   • Thích hợp để đo độ sạch và góc tiếp xúc của các mẫu kích thước lớn như bảng mạch PCB, màn hình IPAD, màn hình cảm ứng.

   • Hỗ trợ đánh giá độ ẩm bề mặt của các vật liệu chính xác như tinh thể lỏng, wafer, chất bán dẫn.

2. Hệ thống quang học chính xác cao：

   • Ống kính hồ sơ cấp công nghiệp: Hình ảnh rõ ràng, đảm bảo đường nét giọt dịch được nhận dạng chính xác.

   • Nguồn ánh sáng linh hoạt Quartz Glass: Chiếu sáng nền đồng nhất, tăng độ tương phản hình ảnh.

3. Hệ thống phần mềm thông minh (CAST) ™ 3.0）：

   • Phân tích góc tiếp xúc động: Hỗ trợ góc tiến/lùi, góc cuộn và đo góc tiếp xúc phụ thuộc thời gian.

   • Tính toán năng lượng tự do bề mặt: Phân tích lực phân tán, lực phân cực, lực liên kết hydro và các thành phần khác để đánh giá các đặc tính bề mặt của vật liệu.

   • Kiểm tra căng thẳng giao diện lỏng-khí/lỏng-lỏngĐo lường chính xác dựa trên phương pháp giọt treo (pendant drop).

4. Hệ thống nạp chất lỏng tự động：

   • Kiểm soát giọt có độ chính xác cao, phù hợp với thử nghiệm mẫu vi lượng, giảm tiêu thụ thuốc thử.

Công nghiệp Pain Point Solutions

• Kiểm tra độ sạch bề mặt: Đánh giá nhanh dư lượng chất gây ô nhiễm bề mặt của tinh thể lỏng, wafer, chất bán dẫn và các vật liệu khác thông qua kiểm tra độ căng của góc tiếp xúc và giao diện.

• Phân tích độ ẩm của Photoclate: Ưu hóa tính đồng nhất và độ bám dính của lớp phủ trong công nghệ khắc quang, nâng cao tỷ lệ sản xuất tốt.

Lĩnh vực ứng dụng

• Màn hình LCD: Đánh giá độ sạch bề mặt màn hình so với độ ẩm của lớp phủ.

• Sản xuất Semiconductor: Phát hiện chất ô nhiễm bề mặt wafer, silicon và phân tích độ ẩm.

• Nghiên cứu và phát triển Photoclate: Tối ưu hóa hiệu suất sơn thạch cao, nâng cao tính ổn định của quá trình.

• Kiểm tra chất lượng màn hình cảm ứng: Đánh giá độ sạch bề mặt và độ bám dính của lớp phủ.

Lợi thế kỹ thuật

• Kiểm soát độ chính xác cao: Độ chính xác định vị cấp micron, giảm nhiễu rung cơ học.

• Thiết kế mô-đun: Hỗ trợ mở rộng chức năng, phù hợp với nhu cầu kiểm tra đa dạng.

• Hoạt động thân thiện: Giao diện phần mềm dẫn đường kết hợp với chức năng thao tác một phím, giảm mức sử dụng.

Hỗ trợ dịch vụ
Cung cấp dịch vụ kỹ thuật chuyên nghiệp và các chương trình tùy chỉnh để đảm bảo ứng dụng hiệu quả của thiết bị trong nghiên cứu và phát triển và kiểm soát chất lượng.

Máy đo góc tiếp xúc SL200L Series Tính năng và lợi thế sản phẩm

Công nghiệp Pain Point Solutions

1. Chức năng góc tiếp xúc 3D Top View：

   • Nó được sử dụng để đánh giá cấu trúc bề mặt vật liệu có độ chính xác cao như tinh thể lỏng, wafer, chất bán dẫn và ảnh hưởng của sự đa dạng hóa học đối với độ ẩm, để giải quyết các vấn đề khó khăn mà các phương pháp truyền thống không thể phân tích chính xác bề mặt vi mô thô và thành phần hóa học phức tạp.

2. Kiểm tra độ căng bề mặt tấm platinum cơ học：

   • Phát hiện dư lượng chất ô nhiễm hữu cơ trên bề mặt silicon, photoxelate bằng phương pháp tấm bạch kim cơ học có độ chính xác cao, giải quyết các điểm đau trong ngành để sàng lọc nhanh các chất ô nhiễm trong quá trình sản xuất.

Công nghệ cốt lõi và cấu hình

1. Hệ thống điều khiển chính xác cao

• Công nghệ đường sắt tuyến tính chéo：

  • Độ chính xác điều khiển bằng tay 0,01mm, độ chính xác điều khiển phần mềm 0,5μm, đảm bảo đo ổn định các mẫu chính xác như wafer, chất bán dẫn.

• Thiết kế kết cấu cơ khí 9 chiều：

  • Hệ thống điều chỉnh ngang 2XYZ+3, phối hợp hoạt động của bàn mẫu, máy ảnh, hệ thống lấy mẫu, phù hợp với thử nghiệm màn hình hiển thị kích thước lớn (như IPAD, màn hình cảm ứng).

• Nạp nâng cấp hệ thống bơm tiêm：

  • Độ chính xác kiểm soát giọt nhỏ lên đến 0,02 μL (có thể mở rộng đến cấp nL), đáp ứng nhu cầu kiểm tra lớp phủ vi lượng của Photoclate.

2. Hệ thống hình ảnh quang học chuyên nghiệp

• Ống kính công nghiệp độ sâu trường cao(Độ phóng đại 0,35-4,5X):

  • Nắm bắt rõ ràng hình thái giọt vi mô của bề mặt tinh thể lỏng, silicon, hỗ trợ kỹ thuật điều chỉnh bề mặt để phân tích góc tiếp xúc bề mặt lồi.

• Hệ thống camera tốc độ cao：

  • Máy ảnh 87 khung hình/giây gốc của Đức (có thể nâng cấp lên 1000 khung hình/giây), tự động ghi lại quá trình làm ẩm bằng keo quang.

• Điều chỉnh nguồn ánh sáng lạnh LED：

  • Tránh nhiễu dễ bay hơi giọt và đảm bảo sự ổn định được kiểm tra bởi các vật liệu nhạy cảm với ánh sáng như Photography.

Thông số sản phẩm Thông tin sản phẩm Bình Luận( ™ 2.0）

• Phân tích góc tiếp xúc động：

  • Hỗ trợ các góc chuyển tiếp/lùi, góc lăn và đo góc tiếp xúc phụ thuộc vào thời gian, phù hợp với nghiên cứu hấp phụ động chất gây ô nhiễm bề mặt bán dẫn.

• Mô hình năng lượng tự do bề mặt：

  • 12 thuật toán (như phương pháp Acid-base) phân tích lực phân tán, lực phân cực, đánh giá độ sạch bề mặt vật liệu tương thích với lớp phủ.

• Kiểm tra căng thẳng giao diện lỏng-lỏng：

  • Dựa trên sự phù hợp của phương trình Young-Laplace, hỗ trợ phân tích hành vi giao diện giữa photoxels và chất lỏng phát triển.

4. Chức năng mở rộng và khả năng tương thích

• Hệ thống lấy mẫu Modular：

  • Tương thích với ống kim PTFE, ống kim mịn, phù hợp với thử nghiệm keo quang và vật liệu kỵ nước có độ nhớt cao.

• Chuẩn hóa chế độ video：

  • Hỗ trợ nâng cấp máy chủ đa thương hiệu, dữ liệu có thể được xuất sang định dạng Excel/BMP để đáp ứng các bài báo khoa học và báo cáo công nghiệp.

• Thiết kế chống tĩnh điện：

  • Công nghệ gió ion loại bỏ nhiễu tĩnh trong kiểm tra wafer, chất bán dẫn và tăng độ chính xác đo lường.

Cảnh áp dụng

• Công nghiệp hiển thị LCD: Kiểm tra độ sạch bề mặt màn hình và độ ẩm của lớp phủ.

• Sản xuất Semiconductor: Sàng lọc các chất gây ô nhiễm wafer/silicon, đánh giá tính đồng nhất của lớp phủ photoxelate.

• Kiểm tra chất lượng màn hình cảm ứng: Phân tích độ bám dính bề mặt và độ sạch.

• Nghiên cứu và phát triển Photoclate: Ưu hóa tính năng ẩm ướt của công thức, nâng cao tỷ lệ công nghệ.

Lợi thế kỹ thuật

• Thích hợp chính xác với vật liệu chính xác cao: Được thiết kế đặc biệt cho ngành công nghiệp vi điện tử, giải quyết các điểm đau của cấu trúc bề mặt phức tạp và các chất gây ô nhiễm khó phát hiện.

• Tự động hóa toàn bộ quy trình: Một phím để hoàn thành việc bắt hình ảnh, tính toán và lưu dữ liệu, giảm lỗi của con người.

• Thiết kế chống nhiễu: Hệ thống điều chỉnh ngang nhiều lớp kết hợp với công nghệ chống tĩnh điện để đảm bảoĐặc biệtKiểm tra sự ổn định trong môi trường.

Thông số kỹ thuật

Các kích thước sau*"Đây là sự khác biệt chính giữa các mô hình.

CAST^®A Sa.^®Từ ADSA^®TrueDrop^®Từ RealDrop^®Từ TheDrop^®Từ MicroDrop^®Từ LMCA^®của Shsolon^®Solon.^®Đăng ký thương hiệu cho Shanghai Solon.

Chẳng hạn như hàng hóa hoặc dịch vụ mà nhãn hiệu trên được sử dụng cho máy đo góc tiếp xúc, máy đo độ căng bề mặt, máy đo độ căng giao diện. Vi phạm bản quyền tất truy cứu!