Kính hiển vi kiểm tra wafer

Kính hiển vi kiểm tra wafer(kính hiển vi phát hiện tinh thể nền tảng lớn) là một sản phẩm công nghệ cao kết hợp công nghệ kính hiển vi quang học tinh nhuệ, công nghệ chuyển đổi quang điện, công nghệ hình ảnh máy tính lại với nhau để phát triển và nghiên cứu chế tạo thành công. Vừa có thể quan sát hình ảnh kim tướng một cách nhân tạo, vừa có thể quan sát hình ảnh kim tướng đúng lúc trên máy tính và chụp lại bất cứ lúc nào, từ đó tiến hành phân tích, xếp hạng, v. v., còn có thể lưu hoặc in ra hình ảnh kim tướng điểm ảnh cao.

Kính hiển vi kiểm tra waferHệ thống là sự kết hợp hữu cơ giữa kính hiển vi quang học truyền thống và máy tính (máy ảnh kỹ thuật số) thông qua chuyển đổi quang điện, không chỉ có thể quan sát vi mô trên thị kính, mà còn có thể quan sát hình ảnh động thời gian thực trên màn hình hiển thị máy tính (máy ảnh kỹ thuật số) và có thể chỉnh sửa, lưu và in các hình ảnh cần thiết.

(Kính hiển vi phát hiện wafer nền tảng lớn) Được trang bị bàn mang, đèn chiếu sáng thả, mục tiêu tiêu sai trường phẳng, thị kính tầm nhìn lớn, hình ảnh rõ ràng và lót tốt, đồng thời được trang bị thiết bị phân cực. Nó là một công cụ lý tưởng cho nghiên cứu kim loại học, khoáng vật học, kỹ thuật chính xác, điện tử và các nghiên cứu khác. Thích hợp cho các trường học, nghiên cứu khoa học, nhà máy và các bộ phận khác để sử dụng.