Máy dò khuyết tật bề mặt kim loại quang siêu âm

Thời hạn và giá cả của sản phẩm này xin vui lòng tư vấn với dịch vụ khách hàng! Cảm ơn!

Máy dò khuyết tật bề mặt kim loại siêu âm Shimazu Nhật Bản

Công nghệ hình ảnh quang học của Shimazu, kết hợp dao động siêu âm và máy dò nhấp nháy, sử dụng dao động siêu âm trên bề mặt mẫu vật, bề mặt do truyền siêu âm phải di chuyển các bit nhỏ bằng tia laser chiếu xạ và máy ảnh quang học để nhận ra hình ảnh, do đó theo sự gián đoạn của siêu âm để phát hiện khuyết tật. Thiết bị phát hiện khuyết tật quang học siêu âm MIV-X có thể cho phép hình dung các khuyết tật bên trong khó phát hiện bằng siêu âm truyền thống.

Thiết bị phát hiện khuyết tật quang siêu âm MIV-X dựa trên công nghệ hình ảnh quang học, kết hợp máy rung siêu âm và máy dò nhấp nháy, có thể dễ dàng và không phá hủy phát hiện các khuyết tật trên bề mặt gần của vật liệu, bao gồm bong tróc liên kết của các vật liệu khác nhau, cũng như sơn, phun nhiệt và lớp phủ, v.v.

1, Công nghệ hình ảnh quang học: Công nghệ phát hiện khuyết tật bằng ánh sáng siêu âm là công nghệ để phát hiện sự dịch chuyển bề mặt bằng cách kích thích bề mặt mẫu vật và bằng phương pháp quang học, do đó quan sát tình huống truyền sóng siêu âm trên bề mặt.

2, Bất cứ ai cũng có thể nhanh chóng và dễ dàng thực hiện kiểm tra bề mặt trực quan: chỉ cần đặt bộ dao động siêu âm đơn giản trên mẫu, sau đó điều chỉnh vị trí máy ảnh; Điều kiện truyền siêu âm có thể được hiển thị trong một thời gian ngắn và các khiếm khuyết dễ dàng được xác định từ video; Phần mềm có nhiều tính năng và hoạt động đơn giản, và các tính năng như đánh dấu khuyết tật, đo kích thước, v.v. được tăng cường đáng kể.

3, Sự khác biệt với phát hiện khuyết tật siêu âm (UT): Thiết bị phát hiện khuyết tật quang siêu âm MIV-X có thể bù đắp cho các khu vực khó phát hiện bằng siêu âm (UT), tốt trong việc phát hiện vùng bề mặt và gần bề mặt.

Máy dò khuyết tật bề mặt kim loại quang siêu âm

Hãy làm cho nó có thể nhìn thấy!

• - Hình dung các khuyết tật ẩn như vết nứt, khoảng trống, bong tróc, v.v., không thể được xác nhận bằng mắt thường -

• ★ Bất cứ ai cũng có thể nhanh chóng và dễ dàng thực hiện kiểm tra bề mặt trực quan

• Công nghệ hình ảnh quang học: Công nghệ phát hiện khuyết tật bằng ánh sáng siêu âm là công nghệ quan sát sự lây lan của sóng siêu âm trên bề mặt bằng cách kích thích bề mặt mẫu vật và phát hiện sự dịch chuyển bề mặt bằng phương pháp quang học.

• Đơn giản chỉ cần đặt bộ dao động siêu âm trên mẫu và điều chỉnh vị trí máy ảnh.

• Việc truyền siêu âm có thể được hiển thị trong một thời gian ngắn và các khiếm khuyết dễ dàng được xác định từ video.

• Phần mềm có nhiều tính năng và hoạt động đơn giản, và các tính năng như đánh dấu khuyết tật, đo kích thước, v.v. được tăng cường đáng kể.

• Bộ sưu tập bao gồm một bộ zoom quang học tùy chọn có thể phát hiện các khuyết tật nhỏ hơn.

Được sử dụng rộng rãi trong các ngành công nghiệp khác nhau:

Phát hiện khuyết tật quang học siêu âm có thể cho phép phát hiện các khuyết tật bên trong khó phát hiện bằng siêu âm truyền thống (độ sâu khoảng 1 mm). Trong quá trình nghiên cứu và phát triển liên quan đến một loạt các vật liệu, nó có thể dễ dàng phát hiện các khiếm khuyết trong khớp và bề mặt liên kết được tạo ra bằng cách kết hợp các vật liệu khác nhau để tăng sức mạnh và giảm trọng lượng.