Máy quang phổ điện tử X-ray Nexsa

Có thể đàm phánCập nhật vào01/09

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Thermo Scientific Nexsa Hệ thống quang phổ năng lượng điện tử tia X (XPS) duy trì kết quả kiểm tra phân tích chất lượng cao ở cấp độ nghiên cứu trong khi cung cấp phân tích đa kỹ thuật hoàn toàn tự động, thông lượng cao. Tích hợp với ISS, UPS, REELS, Raman và nhiều công nghệ phân tích khác, do đó người dùng có thể thực hiện phân tích đa công nghệ chung theo đúng nghĩa của từ đó giải phóng tiềm năng cho những tiến bộ hơn nữa trong vi điện tử, màng mỏng, phát triển công nghệ nano và nhiều ứng dụng khác.

Chi tiết sản phẩm

Máy quang phổ điện tử X-ray NexsaMô tả:

Máy quang phổ điện tử X-ray NexsaPhân tích và phát triển vật liệu

Máy đo phổ năng lượng Nexsa có tính linh hoạt phân tích để phát hiện tối đa tiềm năng vật liệu. Cung cấp sự linh hoạt dưới dạng kết hợp đa công nghệ tùy chọn trong khi vẫn duy trì kết quả ở mức chất lượng nghiên cứu, cho phép phát hiện phân tích và thông lượng cao theo nghĩa thực sự của kết hợp đa công nghệ.

Các tính năng tiêu chuẩn hóa tạo ra hiệu suất mạnh mẽ:

· Phân tích chất cách điện

· Hiệu suất XPS hiệu suất cao

· Phân tích sâu

· Liên minh đa công nghệ

· Nguồn ion chế độ kép cho phép mở rộng chức năng phân tích sâu

· Mô-đun nghiêng để đo ARXPS

· Phần mềm Avantage để kiểm soát dụng cụ, xử lý dữ liệu và sản xuất báo cáo

· Phân tích đốm nhỏ

Nâng cấp tùy chọn: Tích hợp nhiều kỹ thuật phân tích vào phân tích phát hiện của bạn. Loại tự động chạy

ISS: Phổ tán xạ ion, phân tích thông tin về các nguyên tố lớp nguyên tử 1-2 bề mặt nhất của vật liệu, thông qua phân giải khối lượng có thể phân tích một số thông tin về sự phong phú của đồng vị.

· UPS: Phổ năng lượng điện tử UV được sử dụng để phân tích thông tin cấu trúc mức giá của vật liệu kim loại/bán dẫn và thông tin chức năng bề mặt vật liệu

Raman: Công nghệ quang phổ Raman được sử dụng để cung cấp thông tin vân tay ở cấp độ cấu trúc phân tử

· REELS: Phổ tổn thất năng lượng điện tử phản xạ có thể được sử dụng để phát hiện hàm lượng nguyên tố H và thông tin về cấu trúc mức năng lượng của vật liệu và khe băng

Tập trung vào các tính năng mẫu với chế độ xem quang học của SnapMap. Chế độ xem quang học có thể giúp bạn nhanh chóng xác định vị trí các khu vực quan tâm trong khi tạo ra hình ảnh XPS tập trung để tiếp tục thiết lập thử nghiệm của bạn.

1. X-quang chiếu vào một khu vực nhỏ trên mẫu.

2. Thu thập quang điện tử từ khu vực nhỏ này và thu thập chúng trong máy phân tích

3. Liên tục thu thập bản đồ các yếu tố khi bàn mẫu di chuyển

Giám sát các vị trí bàn mẫu trong suốt quá trình thu thập dữ liệu và hình ảnh phổ của các vị trí này được sử dụng để tạo SnapMap

Máy quang phổ điện tử X-ray NexsaLĩnh vực ứng dụng

· Pin

· Y sinh học

· Chất xúc tác

· gốm sứ

· Lớp phủ thủy tinh

· Graphene

· Kim loại và oxit