Hệ thống kính hiển vi độ sâu trường ảnh

Hệ thống kính hiển vi độ sâu trường ảnhGiới thiệu

Hệ thống phân tích vật liệu video độ sâu siêu trường Kính hiển vi chụp ảnh đa góc là một công cụ phân tích tích hợp công nghệ quang học, công nghệ chuyển đổi quang điện và công nghệ hiển thị điện tử. Đặc điểm cốt lõi của nó là kết hợp công nghệ hiển vi thị giác với công nghệ hiển vi kim loại, phá vỡ giới hạn độ sâu cảnh của kính hiển vi quang học truyền thống và đạt được chức năng hình ảnh không gian ba chiều. Hệ thống này thông qua công nghệ chiếu sáng vòng tròn và hệ thống nhân đôi đường chiếu song song, có nhiều chức năng như hình ảnh hình dạng 3 chiều, đo đường kính, đo chiều cao và chiều rộng, v. v. Chủ yếu được sử dụng trong các lĩnh vực nghiên cứu khoa học trái đất, quan sát mẫu sinh học, phân tích bề mặt di tích và phát hiện chính xác ngành công nghiệp điện tử.

Hệ thống kính hiển vi độ sâu trường ảnhTham số

Cảm biến: 24BIT True Color CCD, Loại ánh sáng ban ngày/Loại ánh sáng, Hiệu chỉnh nguồn sáng D65

Hệ thống quang học: Hệ thống quang học đa tiêu điểm CFS

* Điểm ảnh đầu ra: 2K (1920X1080)/4K (4325X2430)

Độ phân giải ngang:>2000 TV lines

Loại cảm biến: HP CCD (quét dây)

Loại dữ liệu: True Color 24Bit R × G × B × 8

Kích thước bề mặt mục tiêu: 1/2 inch

Phương pháp quét: Quét từng dòng

Đáp ứng phổ: 400nm~1000nm (hỗ trợ hệ thống hiển vi huỳnh quang)

Độ nhạy: 1.0V/ lux-sec@550nm

Phương pháp quét: Quét từng dòng

Cân bằng trắng: theo dõi tự động tốc độ cao+thủ công

Thời gian phơi sáng: Điều chỉnh tự động hoặc bằng tay (38 ms - 5000 ms)

Cách màu: Đen trắng/Màu

Độ tương phản: Điều chỉnh bằng tay hoặc tự động

Giá trị gamma: Điều chỉnh bằng tay hoặc tự động

2. Giao diện và thước đo Giao diện C-MOUNT tiêu chuẩn được tích hợp, có thể nhận ra kết nối của bất kỳ kính hiển vi thông thường nào, thước đo lõi trường 0,01mm để nhận ra định lượng chính xác của hệ thống kính hiển vi

Nhóm kính quang học cao và thấp (phần phóng đại quang học)

2.1 Bộ gương quang học Cơ thể đồng trục tích hợp và ống kính phóng đại thấp PZ-WN-YH400L

* Tỷ lệ nhân đôi quang học: 12: 1

Phương pháp nhân đôi: nhân đôi liên tục, khoảng cách làm việc không đổi

Khoảng cách làm việc: WD 80mm (Khoảng cách làm việc không đổi)

* Độ phóng đại: 24X (MIN) --- 280X (MAX), nhân đôi liên tục

Phạm vi xem: 12mmx8mm -------- 1mmx0,75mm

* Phương pháp nhân đôi: nhân đôi điện, độ phóng đại hiển thị nhận dạng thông minh

* Đường dẫn quang đồng trục: đã được cài đặt trong đường dẫn quang chính

Chế độ chiếu sáng Hỗ trợ chiếu sáng vòng/chiếu sáng tới xiên/chiếu sáng đồng trục

2.2 PZ-WN-YH400C Bộ mục tiêu đồng trục cao, mục tiêu thay thế nhanh

Ứng dụng của kính hiển vi độ sâu trường ảnh

Trong ngành công nghiệp điện tử, bán dẫn: nó có thể được áp dụng cho pin lithium burr quan sát và đo lường, xem bảng điều khiển PCB, bánh vàng bán dẫn, hạt thiếc, độ sâu hàn, màn hình LCD film phim trầy xước, màng quang học, khiếm khuyết bề mặt dây bạc bán dẫn, v.v.

Trong ngành công nghiệp hóa chất: nó có thể được áp dụng để quan sát hình dạng và hình dạng của sợi, nứt thủy tinh, lưới phần của tấm PV.

Trong ngành công nghiệp kim loại: có thể được áp dụng để quan sát các vết nứt dao, vòng bi gương, tường ống nhôm, phán đoán nguồn vết nứt kim loại, đo chiều cao điểm lồi bề mặt vật liệu kim loại cho tàu.

Trong ngành công nghiệp địa chất: có thể được áp dụng để quan sát các mẫu địa chất chuẩn bị, chẳng hạn như lát mỏng, tấm đánh bóng; Các mẫu địa chất chưa được chuẩn bị, chẳng hạn như vi hóa thạch, hạt khoáng, mẫu đá, lõi, microcarrier, hóa thạch.

Trong ngành công nghiệp thực phẩm và dược phẩm: nó có thể được áp dụng để quan sát túi bị vỡ, màng phủ bề mặt của máy tính bảng, xác định lá trà.

Trong ngành khoa học đời sống: có thể áp dụng cho quan sát vảy lông trên bề mặt tóc, quan sát mặt cắt của lá cây, mô côn trùng.

Cung cấp đầy đủ các giải pháp cho kính hiển vi độ sâu trường ảnh.