Hệ thống kiểm tra không phá hủy quang học khiếm khuyết chất nền silicon carbide

Hệ thống kiểm tra không phá hủy quang học khiếm khuyết chất nền silicon carbideTính năng:

Thiết bị đặc biệt để phát hiện lỗi lót SiC

Kiểm tra không phá hủy quang học không tiếp xúc

Nhận dạng phân loại BPD, TSD, TED

Chất nền SiC: 4'/6'/8'; dẫn điện, bán cách điện

Hệ thống kiểm tra không phá hủy quang học khiếm khuyết chất nền silicon carbideTốc độ phát hiện tối đa:<17 phút/viên (6')

Công ty TNHH Công nghệ Quang phổ Đại Liên Chuang Rui dựa trên công nghệ quang phổ phân biệt thời gian sáng tạo độc lập, cam kết thúc đẩy ứng dụng chuyên sâu của công nghệ quang phổ trong lĩnh vực nghiên cứu khoa học và công nghiệp. Trong lĩnh vực thiết bị nghiên cứu khoa học, quang phổ sáng tạo được dẫn dắt bởi các chuyên gia hàng đầu, và hiện nay trong nước có rất ít đội ngũ nghiên cứu và phát triển độc lập - sản xuất - ứng dụng hệ thống năng lực hoàn chỉnh của quang phổ thoáng qua. Quang phổ sáng tạo sử dụng công nghệ cốt lõi quang phổ phân biệt thời gian, hệ thống quang phổ hấp thụ thoáng qua siêu nhanh làm sản phẩm cốt lõi, phá vỡ mô hình độc quyền nhập khẩu. Các sản phẩm chính bao gồm hệ thống quang phổ hấp thụ thoáng qua, hệ thống hình ảnh huỳnh quang đồng tập trung, laser nano DPSS và máy dò tốc độ cao. Trong lĩnh vực phát hiện chất bán dẫn công nghiệp, với sự đổi mới công nghệ quang phổ làm chỗ đứng cốt lõi, công ty đã nhanh chóng hoàn thành việc bố trí nhiều lĩnh vực như chất nền silicon carbide, phần mở rộng, gallium nitride và pin perovskite.