Chào mừng khách hàng!

Thành viên

Trợ giúp

Sichuan Xiangfu Rui Instrument Co., Ltd
Nhà sản xuất tùy chỉnh

Sản phẩm chính:

instrumentb2b>Sản phẩm

Sichuan Xiangfu Rui Instrument Co., Ltd

  • Thông tin E-mail

  • Điện thoại

  • Địa chỉ

    Số 9 đường Dazhao, thành phố Deyang, tỉnh Tứ Xuyên

Liên hệ bây giờ

Máy đo nhiễu xạ X-quang loại bàn nhỏ Olivas

Có thể đàm phánCập nhật vào05/07
Mô hình
Thiên nhiên của nhà sản xuất
Nhà sản xuất
Danh mục sản phẩm
Nơi xuất xứ

Tổng quan

Máy nhiễu xạ tia X để bàn nhỏ của Olympus sử dụng một thiết bị ghép nối điện tích kích thích trực tiếp (CCD) được phát triển đặc biệt, có thể thu thập dữ liệu photon tia X đồng thời cho các phép đo huỳnh quang tia X và nhiễu xạ tia X. Điều này là do camera tích hợp có thể phát hiện cả vị trí photon và năng lượng photon cùng một lúc. Độ phân giải năng lượng khoảng 200 #160; eV #160; BTX (5.9#160;keV) cho phép phân tích XRF rất dễ dàng, chẳng hạn như xem quang phổ phần mềm

Chi tiết sản phẩm

Máy đo nhiễu xạ X-quang loại bàn nhỏ OlivasMáy phân tích BTX của Olympus, ban đầu được phát triển để kiểm tra hóa học và khoáng vật cho Phòng thí nghiệm Khoa học Sao Hỏa (MSL) của NASA, đã phát triển thành một thiết bị máy tính để bàn được trang bị đầy đủ để sử dụng hai công nghệ tiên tiến XRD/XRF cho các ứng dụng thực tế hàng ngày. BTX sử dụng kết hợp các sáng kiến của Olympus và NASA, tiên phong trong việc đo lường bằng cách sử dụng cả nhiễu xạ tia X và công nghệ huỳnh quang tia X. BTX sử dụng một thiết bị ghép nối điện tích kích thích trực tiếp (CCD) được phát triển đặc biệt, có thể thu thập dữ liệu photon tia X cho cả nhiễu xạ tia X và đo huỳnh quang tia X. Điều này là do camera tích hợp có thể phát hiện cả vị trí photon và năng lượng photon cùng một lúc. Với độ phân giải năng lượng khoảng 200 eV (5,9 keV), BTX rất thuận tiện cho việc phân tích XRF, chẳng hạn như xem màn hình phổ phần mềm.
Máy đo nhiễu xạ X-quang loại bàn nhỏ OlivasQuy trình chuẩn bị mẫu đơn giảnBTX đơn giản hóa đáng kể việc thu thập và chuẩn bị mẫu trong các thí nghiệm nhiễu xạ tia X. Nói chung, để đảm bảo rằng các hạt có thể nhiễu xạ vô trật tự theo nhiều hướng đủ, mẫu nên được nghiền thành bột và nghiền thành các quả bóng nhỏ. Mô-đun rung mẫu BTX thu được miễn cho người dùng bước này. Chỉ với 15 mg mẫu, quá trình truyền nhiệt đối lưu của buồng rung có thể cung cấp nhiều hướng nhiễu xạ của cấu trúc hạt cho thiết bị quang học của thiết bị. Điều này có thể tạo ra một mẫu hình phát ra tia X rất lý tưởng, hơn nữa về cơ bản sẽ không xuất hiện vấn đề về hướng ưu tú mà bạn sẽ gặp phải khi sử dụng phương thức chuẩn bị truyền thống. Nhờ hệ thống xử lý bột, máy đo góc không cơ học và rất ít bộ phận chuyển động phức tạp, BTX có thể cung cấp cho người dùng khả năng phân tích XRD bột ở cấp độ phòng thí nghiệm với chi phí tối thiểu.
Cùng với BTX gửi cho người dùng có một phần mềm cần thiết (XPowder) để xử lý kết quả dữ liệu nhiễu xạ tia X. Phần mềm này chứa cơ sở dữ liệu quặng AMSCD. Tùy thuộc vào mong muốn của người dùng, XPowder cũng có thể cung cấp khả năng sử dụng tệp nhiễu xạ bột ICDD (PDF).
Để phân tích định lượng, XPowder cung cấp cách phân tích định lượng tỷ lệ mật độ tham chiếu (RIR) cũng như các công cụ để phân tích các mẫu nhiễu xạ khác nhau. Ngoài ra, BTX có thể cung cấp dữ liệu mẫu XRD ở nhiều định dạng tệp, giúp người dùng dễ dàng nhận được thông tin phán đoán về mẫu XRD trong các dự án của bên thứ ba.
Kết nốiBTX có thể hoạt động độc lập với phần mềm được nhúng vào chính thiết bị. Người dùng có thể truy cập hệ điều hành thông qua kết nối Ethernet hoặc không dây (802.11b/g). Phương pháp điều khiển từ xa này cung cấp sự linh hoạt tuyệt vời trong việc điều khiển các công cụ và xử lý dữ liệu tiếp theo.
image.png