Máy quét lỗi laser

Có thể đàm phánCập nhật vào01/27

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Laser Scan Defect Imager là phiên bản nâng cấp của thử nghiệm dòng cảm ứng chùm tia laser (LBIC). Nó sử dụng các chùm tia laser có bước sóng năng lượng lớn hơn khoảng cách dải bán dẫn để chiếu vào chất bán dẫn, tạo ra các cặp lỗ điện tử. Phân phối hình ảnh tiết lộ những thay đổi trong dòng điện bên trong thu được bằng cách quét nhanh bề mặt mẫu, do đó phân tích các phân bố khiếm khuyết khác nhau. Điều này giúp phân tích chất lượng chuẩn bị mẫu và góp phần cải thiện quy trình.

Chi tiết sản phẩm

Giới thiệu sản phẩm

Nắm bắt toàn bộ hình ảnh trong 4 phút, quét khu vực 100 mm x 100 mm ở độ phân giải 50 micron

　　Kích thíchÁnh sángScan Defect Imager là phiên bản nâng cấp của thử nghiệm dòng cảm ứng chùm tia laser (LBIC). Nó sử dụng các chùm tia laser có bước sóng năng lượng lớn hơn khoảng cách năng lượng của chất bán dẫn để chiếu vào chất bán dẫn, tạo ra cặp lỗ điện tử. Phân phối hình ảnh tiết lộ sự thay đổi dòng điện bên trong bằng cách quét nhanh bề mặt mẫu để phân tích các phân bố khiếm khuyết khác nhau. Điều này giúp phân tích chất lượng chuẩn bị mẫu và giúp cải thiện quy trình sản xuất.

Tính năng

●Phân phối dòng điện quang quét

●Phân phối quang điện áp quét

●Quét phân phối điện áp mạch hở và dòng ngắn mạch

●Phân tích ô nhiễm bề mặt

●Phân tích phân phối các vùng ngắn mạch

●Xác định và phân tích các khu vực microcrack

●Phân tích phân phối độ dài khuếch tán của một số tàu sân bay (chức năng tùy chọn)

Ứng dụng

雷射扫描缺陷图谱仪

Phân phối quang hiện tại của pin mặt trời silicon (405 nm)

雷射扫描缺陷图谱仪

Quét pin mặt trời silicon tinh thể 6 inch (17 giây)

雷射扫描缺陷图谱仪

pin mặt trời perovskite

雷射扫描缺陷图谱仪

Biểu đồ phân phối dòng phản ứng quang LSD4-OPV

雷射扫描缺陷图谱仪

Biểu đồ phân phối dòng phản ứng quang LSD4-OPV

Phân tích không đồng nhất với độ phân giải 50 µm

Phát hiện tỷ lệ khung hình Busbar/Cổng (phân tích mặt cắt ngang)

Độ lặp lại cao (6 reps)

quy cách

dự án	Mô tả các tham số.
chức năng	A. Sử dụng chùm tia laser bước sóng có năng lượng cao hơn dải bán dẫn để tạo ra các cặp lỗ điện tử trong chất bán dẫn, khám phá ảnh hưởng của vùng cạn kiệt đối với sự thay đổi dòng điện bên trong, hiểu và phân tích các phân bố khiếm khuyết khác nhau như hướng cải tiến quy trình. b. Có khả năng quét sự phân bố của dòng điện quang trên bề mặt mẫu. C. Có khả năng quét phân phối điện áp quang trên bề mặt mẫu. d. Có khả năng quét phân phối điện áp mạch hở và dòng ngắn mạch. e. Khả năng phân tích ô nhiễm bề mặt. F. Khả năng phân tích sự phân bố của các vùng ngắn mạch. G. Khả năng xác định và phân tích các khu vực microcrack. H. Có khả năng phân tích phân phối chiều dài khuếch tán của một số ít tàu sân bay (tùy chọn).
Kích thích	Laser 405 ± 10nm Laser 520 ± 10nm Laser 635 ± 10nm Laser 830 ± 10nm
Khu vực quét	≥ 100mm × 100mm
Kích thước điểm laser	Tiếp cận điểm chế độ TEM00
Độ phân giải bản đồ	A. Độ phân giải quét ≤50 µm b. Độ phân giải quét có thể được thiết lập bằng phần mềm
Thời gian vẽ bản đồ	<4 phút (100mm × 100mm, độ phân giải 50um)
Các khía cạnh	60 cm * 60 cm * 100 cm
Phần mềm	A. Hình ảnh 3D LBIC b. Phân tích mặt cắt ngang 2D (tỷ lệ khung hình điện cực) c. Phân tích phân phối đáp ứng dòng điện quang (kết hợp với nguồn laser bước sóng dài) d. Chức năng lưu và xuất dữ liệu

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị