Chào mừng khách hàng!

Thành viên

Trợ giúp

Thượng Hải Hansen Khoa học Instrument Co, Ltd
Nhà sản xuất tùy chỉnh

Sản phẩm chính:

hóa chất 17>Sản phẩm

Thượng Hải Hansen Khoa học Instrument Co, Ltd

  • Thông tin E-mail

    1276198359@qq.com

  • Điện thoại

    13621795675

  • Địa chỉ

    Phòng 202, Tòa nhà B, Tòa nhà Khoa học và Công nghệ Zhengjee, Số 1-7, Ngõ 1356, Đường Xinyuan, Quận Minhang, Thượng Hải

Liên hệ bây giờ

Máy phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser

Có thể đàm phánCập nhật vào01/01
Mô hình
Thiên nhiên của nhà sản xuất
Nhà sản xuất
Danh mục sản phẩm
Nơi xuất xứ
Tổng quan
Máy phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser Beckmann Kurt thế hệ mới LS 13 320 XR đưa phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser lên một cấp độ cao hơn, phiên bản nâng cấp của công nghệ PIDS, tối ưu hóa 132 máy dò, đảm bảo độ phân giải cao hơn của thiết bị, kết quả chính xác hơn và khả năng tái tạo tốt hơn. Bạn không chỉ có thể đo các hạt có kích thước hạt rộng hơn, mà còn phát hiện sự khác biệt rất nhỏ giữa các hạt nhanh hơn.
Chi tiết sản phẩm

Beckmancourt thế hệ mới LS 13 320 XR đưa phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser lên một cấp độ cao hơn, nâng cấp công nghệ PIDS (số: 4953978; 5104221), tối ưu hóa 132 máy dò, đảm bảo độ phân giải cao hơn của thiết bị, kết quả chính xác hơn và khả năng tái tạo tốt hơn. Bạn không chỉ có thể đo các hạt có kích thước hạt rộng hơn, mà còn phát hiện sự khác biệt rất nhỏ giữa các hạt nhanh hơn. Công nghệ PIDS, thực sự đạt được phép đo kích thước hạt 10nm; Mô-đun mẫu ướt và khô mới, "Plug and Play", đáp ứng các yêu cầu phân tích khác nhau, linh hoạt và thuận tiện; Phần mềm trực quan và thiết kế màn hình cảm ứng giúp đơn giản hóa đáng kể hoạt động của thiết bị và có được dữ liệu mong muốn chỉ với một vài cú nhấp chuột. LS 13 320 XR sẽ mang đến cho bạn trải nghiệm đo lường mới!
Máy phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laserCác tính năng chính
• Tốt hơn tiêu chuẩn kỹ thuật ISO 13 320
• Tuân thủ 21 CFR Phần 11 của FDA
• Số lượng máy dò nhiều hơn, lên đến 132 máy dò vị trí vật lý độc lập, tương ứng với 136 kênh dữ liệu thực, có thể phân biệt rõ ràng sự khác biệt về phổ cường độ tán xạ giữa các cấp độ hạt khác nhau, đảm bảo không thiếu thông tin nhỏ nhất, đo kích thước hạt thực nhanh và chính xác.
• Thiết kế mảng dò logarit loại "X" có thể ghi lại chính xác các tín hiệu cường độ ánh sáng tán xạ, bất kể đỉnh đơn hay đỉnh đa, phân tích chính xác sự phân bố kích thước hạt.
• Chức năng phân tích hoạt động hoàn toàn tự động, phát hiện tự động đa đỉnh, không cần đoán trước loại đỉnh, không cần chọn mô hình phân tích, cung cấp báo cáo khách quan.
• Công nghệ PIDS nâng cấp cung cấp khả năng phân tích kích thước hạt nano độ phân giải cao sáng tạo, thực sự cho phép đo đỉnh giới hạn dưới 10nm.
• Công nghệ PIDS có thể phát hiện trực tiếp không chỉ các hạt nhỏ đến 10 nm mà còn cả phân phối đa đỉnh ở cấp độ nano.
• Kết hợp với phân tích micron, chức năng phân tích nano rất mạnh mẽ và các phép đo 10nm thực sự cho phép nó được sử dụng như một máy phân tích kích thước hạt nano độc lập, có độ phân giải cao.
• Nguồn sáng laser rắn thế hệ mới, không cần làm nóng trước, tuổi thọ khởi động trên 70.000 giờ.
• Thu thập và truyền tín hiệu song song, đảm bảo tín hiệu duy trì tỷ lệ tín hiệu tiếng ồn cao, không chênh lệch múi giờ, thông lượng cao.
• Các kỹ thuật phân tích ánh sáng đa bước sóng và phân cực cho phép phân tích độ chính xác của phân phối kích thước hạt trên một dải động rộng được đảm bảo cao.
• Nhiều hệ thống phân tán mẫu tự động, "plug and play", có thể hoàn thành chuyển đổi trong vài giây, hiệu quả và tiện lợi.
• Phần mềm phân tích ADAPT thiết kế màn hình cảm ứng thế hệ mới, thao tác trực quan hơn, không cần kinh nghiệm thao tác, hoàn thành đo lường trong ba bước đơn giản, bánh xe điều hướng trực quan và nổi bật, chỉ cần một bước để thực hiện hiển thị và xuất dữ liệu.
• Phần mềm ADAPT tự động hóa kết quả đo tiêu chuẩn màu xanh lá cây hoặc đỏ, tự động quản lý sự phù hợp/không phù hợp để đạt được kiểm soát chất lượng trực tiếp.
• Phần mềm được trang bị cơ sở dữ liệu mạnh mẽ về các thông số quang học với hệ thống mô hình quang học tức thời "Zero Time" sáng tạo để xây dựng các mô hình quang học mới chỉ trong một giây, cung cấp báo cáo phân tích khách quan và chính xác.
• Dụng cụ được trang bị chức năng chẩn đoán tự kiểm tra, hiển thị tình trạng đo bất cứ lúc nào trong quá trình kiểm tra.
Thông số kỹ thuật:
• Phạm vi kích thước hạt: 10 nanomet - 3500 micron (đỉnh)
• Nguồn sáng laser đường quang chính: Laser rắn được kết nối bằng sợi quang
• Máy dò: 132 máy dò góc vật lý độc lập
• Kênh phân tích thực tế: 136
• Đo đa bước sóng: 475nm, 613nm, 785nm và 900nm
• Mô hình lý thuyết quang học: Lý thuyết Mie toàn bộ quá trình; Lý thuyết Fraunhofer
• Lỗi chính xác: nhỏ hơn+/- 0,5%
• Lỗi tái tạo: nhỏ hơn+/- 0,5%
Máy phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laserLợi thế ứng dụng:
• Được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực ứng dụng như phụ gia thực phẩm, đất, trầm tích, chất kết dính, hợp kim, bột kim loại, dược phẩm, khoáng sản, giấy, v.v.
• Công suất lớn, được thiết kế đặc biệt cho đất, trầm tích - bảng mẫu tiêu chuẩn - công suất lên đến 1500mL, cải thiện tính đại diện, độ chính xác và độ lặp lại của mẫu phân phối rộng
√ Làm sạch thông minh tự động, xả chất lỏng tự động, điều chỉnh tốc độ chu kỳ
√ Sonication mẫu tích hợp để đạt được sự phân tán ổn định và đáng tin cậy
• Hiệu quả phát hiện lý tưởng cho các thành phần hạt mịn (dính, bột mịn) và các thành phần hạt thô với hàm lượng ít hơn, hoạt động hoàn toàn tự động và dễ dàng