Cấu hình nền tảng

· Thương hiệu và mô hình:Keysignt là máy phân tích mạng 26.5GHz của Đức

· Dải tần số chuẩn: 10 MHz đến 26,5 GHz

· Cấu hình cổng: Hỗ trợ nhiều cấu hình, bao gồm:

· 2 cổng (nguồn tín hiệu đơn)

· 4 cổng (nguồn tín hiệu kép), hỗ trợ cân bằng tích hợp và đo lường thiết bị biến tần

Chỉ số hiệu suất (dựa trênĐại học Công nghệ Đại LiênThông số sản phẩm(

Dải động (tại cổng thử nghiệm): ≥140 dB (100 MHz - 13,5 GHz)

Định hướng: ≥48 dB (10 MHz - 26,5 GHz)

· Công suất đầu ra: ≥+19 dBm (10 MHz - 10 GHz)

Độ ồn quỹ đạo (biên độ): ≤0.00081 dB (100 MHz - 24 GHz)

· Tiếng ồn pha (lệch tần số 10 kHz): ≤ -137 dBc/Hz @ 1 GHz

Khả năng mở rộng

· Tần số mở rộng: Hỗ trợ tùy chọn để mở rộng tần số lên dải sóng milimet từ 60 GHz đến 90 GHz.

· Phần mềm ứng dụng: cung cấp các tùy chọn phần mềm phong phú hỗ trợ các phép đo tiên tiến như hệ số tiếng ồn, nén tăng, biến dạng điều chế, bộ trộn, miền thời gian/trở kháng (TDR) v.v.

· Tùy chọn phần cứng: Bộ điều biến xung tích hợp, đầu chữ T bù đắp, bộ suy giảm nguồn tín hiệu/bộ thu, v.v., có thể được tùy chọn để đáp ứng các nhu cầu kiểm tra khác nhau.

Keysignt là máy phân tích mạng 26.5GHz của ĐứcCác kịch bản ứng dụng chính

Dựa trên sức mạnh của nó, N5222B chủ yếu được sử dụng cho:

· Kiểm tra thiết bị hoạt động/thụ động: đo chính xác các thông số S, tăng, mất, v.v. của bộ khuếch đại, bộ lọc, ăng ten, bộ ghép và các thiết bị khác.

· Kiểm tra thiết bị biến tần: phân tích vô hướng và vectơ toàn diện của bộ trộn, bộ biến tần.

Phân tích tính toàn vẹn tín hiệu: đặc biệt là mô hình N5222BT, đây là một giải pháp hoàn chỉnh với phần mềm chuyên nghiệp (PLTS) và các phụ kiện được thiết kế đặc biệt để đánh giá tính toàn vẹn tín hiệu và hiệu suất trở kháng của cáp tốc độ cao, tấm nền, đầu nối, gói BGA.

· Phân tích tính năng nâng cao: Với các tùy chọn phần mềm, có thể đạt được các phép đo chính xác các đặc tính phi tuyến như hệ số tiếng ồn của thành phần, điểm nén tăng (P1dB), điểm giao điều bậc ba (TOI), tần số vô tuyến xung, v.v.

· Kiểm tra cấp wafer: có thể kết nối với bảng thăm dò, đo lường và mô hình hóa các thông số cấp wafer của chip bán dẫn, thiết bị MEMS, v.v.