Máy phân tích vật chất hạt bề mặt Fastmicro Instrument, là một công cụ phát hiện ô nhiễm bề mặt dựa trên công nghệ lấy mẫu "băng dính", có thể xác định các chất ô nhiễm hạt nhỏ như 0,5um bằng các phép đo gián tiếp. Thẻ lấy mẫu PMC chuyên dụng được trang bị cho phép lấy mẫu linh hoạt trên tất cả các loại bề mặt, bao gồm các khu vực khó tiếp cận và bề mặt có độ nhám cao, mà không để lại dấu vết có thể phát hiện được. Thiết bị có thể phân tích vùng lấy mẫu 225 mm 2 chỉ trong vài giây, đảm bảo kết quả nhanh chóng và chính xác. Với giá đỡ wafer 2 inch, nó cũng có thể phát hiện các hạt bụi phóng xạ, đáp ứng sự phức tạp của các ngành công nghiệp khác nhau
FastmicroMáy phân tích vật liệu hạt bề mặt dụng cụ(SAS)
FastmicroMáy phân tích vật liệu hạt bề mặt dụng cụ, là một công cụ phát hiện ô nhiễm bề mặt dựa trên công nghệ lấy mẫu "băng dính", có thể xác định các chất ô nhiễm hạt nhỏ như 0,5um bằng cách đo gián tiếp. Thẻ lấy mẫu PMC chuyên dụng được trang bị cho phép lấy mẫu linh hoạt trên tất cả các loại bề mặt, bao gồm các khu vực khó tiếp cận và bề mặt có độ nhám cao, mà không để lại dấu vết có thể phát hiện được. Thiết bị có thể phân tích vùng lấy mẫu 225 mm 2 chỉ trong vài giây, đảm bảo kết quả nhanh chóng và chính xác. Với giá đỡ wafer 2 inch, nó cũng có thể phát hiện các hạt bụi phóng xạ để đáp ứng nhu cầu phát hiện của các kịch bản phức tạp trong các ngành công nghiệp khác nhau.
Đặc điểm sản phẩm
Tuân thủ tiêu chuẩn ISO 14644-9: Tạo báo cáo PDF được chứng nhận trong giao diện người dùng
Phạm vi phát hiện: có thể phát hiện các hạt thấp như 0,5 um
Ổn định: 90% hiệu quả thu thập |>90% lặp lại
Nhanh: 10 giây để hoàn thành phát hiện
Đo độ sạch bề mặt trong vài giây
Nhanh chóng:Hình ảnh chỉ mất vài giây
Định lượng:Kết quả định lượng nguồn
Hoạt động dễ dàng:Kết quả hoạt động không bị ảnh hưởng bởi người vận hành
•Xác định ngay lập tức để kiểm soát chất lượng dây chuyền sản xuất
• Phân tích dữ liệu thêm cho nhân viên R&D
• Để giám sát, xác minh nhanh và kiểm soát quy trình thống kê
Chính xác:Đo độ phân giải cao (số lượng, vị trí, kích thước)
Ổn định:Kết quả đo nhiều lần Độ lặp lại cao
Thông lượng cao:Cung cấp kết quả đạt tiêu chuẩn/không đạt tiêu chuẩn ngay lập tức

Máy phân tích hạt bề mặt dụng cụ (SAS)
SởDụng cụ này gián tiếp đo mức độ ô nhiễm hạt bề mặt bằng bộ lấy mẫu. Dễ dàng sử dụng SamplerNgười dùng thu thập các mẫu ô nhiễm hạt trên các sản phẩm và thành phần khác nhau bất cứ lúc nào.
Đo gián tiếp với sampler
Sử dụng bộ lấy mẫu có thể được sử dụng ngay cả ở những nơi khó tiếp cận và các bề mặt tương đối thô.Dựa vào đo lường. Các mẫu (từ các nhà cung cấp được chứng nhận) không gây ô nhiễm chéo.
Máy phân tích có thể hoàn thành việc phát hiện mẫu trong vài giây, cho phép kiểm tra luồng công việcTrong vòng một phút. Sampler có thể được đặt trong giá đỡ sampler để vận chuyển, đo lại và nạpBước phân tích.
Với nhiều lựa chọn lấy mẫu, bao gồm bộ lấy mẫu dính (bao gồm cả giá đỡ) để phát hiện gián tiếp vàBộ wafer 2 inch để phát hiện bụi.
Khả năng thích ứng này làm cho nó phù hợp trên nhiều dòngCác cảnh kiểm tra khác nhau của ngành công nghiệp, có thể cung cấp dữ liệu đo lường đáng tin cậy và nhìn sâu vào mức độ ô nhiễm.