Hệ thống kiểm tra ống kính quang ORILà một hệ thống kiểm tra ống kính quang học thông dụng. Hệ thống có thể đo tất cả các thông số quan trọng của ống kính: MTF, độ phân giải, EFL， Dị biến, chóng mặt, xuyên thấu, BFL， Tiêu cự làm việc, tiêu sâu, trường khúc, màu sắc kém......

Các băng tần có thể kiểm tra bao gồm VIS, NIR, SWIR, MWR và LWIR và cũng có thể được sử dụng để kiểm tra các hệ thống quang học đa băng tần như VIS-SWIR và MWR-LWIR.

Nguyên tắc hệ thống

Nguyên lý hệ thống thử nghiệm ORI: Máy phát mục tiêu được đặt trên mặt phẳng tiêu cự của ống kính đang được thử nghiệm để tạo thành một bộ hệ thống chiếu với các ống song song ánh sáng tới và cuối cùng được hình ảnh trên bề mặt tiếp nhận của máy ảnh.

Tính năng lớn nhất của hệ thống kiểm tra ORI là sử dụng nguyên tắc đo đường ngược sáng, có lợi thế hơn so với hệ thống đo đường tích cực nói chung.

ORI có thể mở rộng chức năng kiểm tra với một loạt các tùy chọn bổ sung:

1. Phiên bản tối ưu hóa có thể kiểm tra ống kính quang học. Vui lòng thêm chữ U vào mã cho phiên bản đã chọn. Yêu cầu cung cấp bản vẽ cơ học chi tiết của ống kính được quay thử.

2. Có khả năng thực hiện kiểm tra độ nhạy của ống kính đối với nhiễu loạn, phạm vi ít nhất là 20001. Vui lòng thêm chữ SL vào phiên bản mã đã chọn.

3. Hỗ trợ đo lường căn chỉnh trục quay của ống kính được thử nghiệm trong zoom hoặc tập trung trục thời gian. Vui lòng thêm chữ cái ROR vào phiên bản mã đã chọn.

4. Có khả năng kiểm tra ống kính với tiêu cự ngắn như 1mm và trường nhìn lớn như 120 °. Vui lòng thêm chữ WFOV vào phiên bản mã đã chọn.

5. Có khả năng kiểm tra ống kính có cỡ nòng lên đến 700mm và tiêu cự lên đến 6000mm. Vui lòng thêm chữ BIG vào phiên bản mã đã chọn

6. Thiết bị nhìn ban đêm có khả năng kiểm tra mục tiêu quang học (ống tăng cường hình ảnh đầu vào bằng kính tương tự). Vui lòng thêm chữ NV vào phiên bản mã đã chọn

7. Có khả năng kiểm tra hiệu suất nhiệt của ống kính VIS/NIR/SWIR/MWIR/LWIR. Vui lòng thêm chữ EX vào phiên bản mã đã chọn.