Máy đo độ dày lớp phủ Hitachi X-Ray

Có thể đàm phánCập nhật vào10/07

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Micro Beam XRF Coating Độ dày và phân tích vật liệu, thuận tiện và nhanh chóng để kiểm soát chất lượng và kiểm tra xác minh, dữ liệu chính xác có sẵn trong vài giây

Chi tiết sản phẩm

Microblading XRF Coating Độ dày và phân tích vật liệu, thuận tiện và nhanh chóng để kiểm soát chất lượng và kiểm tra xác minh, dữ liệu chính xác có sẵn trong vài giây.

Độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu dựa trên huỳnh quang X là các phương pháp phân tích được chấp nhận rộng rãi trong ngành, cung cấp phân tích dễ sử dụng, nhanh chóng và không phá hủy với ít hoặc không cần chuẩn bị mẫu, có khả năng phân tích các mẫu rắn hoặc lỏng từ 13Al đến 92U trên bảng tuần hoàn.

Ứng dụng

Xử lý bề mặt PCB/PWB

Khả năng kiểm soát quá trình xử lý bề mặt xác định mức độ, độ tin cậy và tuổi thọ của bảng mạch. Độ dày mạ niken không mạ điện (EN, NiP) và cấu trúc thành phần được đo theo IPC 4556 và IPC 4552. Các sản phẩm dụng cụ phân tích của Hitachi giúp bạn hoạt động liên tục trong phạm vi kiểm soát chặt chẽ, đảm bảo chất lượng cao và tránh làm lại tốn kém.

Mạ điện và linh kiện điện tử

Các bộ phận phải được mạ điện trong phạm vi thông số kỹ thuật để đạt được hiệu suất điện, cơ học và môi trường mong muốn. Các sản phẩm dòng X-Strata và MAXXI có rãnh, có thể đo các mẫu thử nghiệm nhỏ hoặc dải liên tục, do đó đạt được kiểm soát độ dày của khung chì (khung chì), đầu nối, dây và thiết bị đầu cuối.

IC tàu sân bay

Các thiết bị bán dẫn ngày càng nhỏ hơn và phức tạp hơn, đòi hỏi các thiết bị phân tích để đo màng của chúng trên các khu vực nhỏ. Máy phân tích của Hitachi Analytics Instruments được thiết kế để cung cấp các phân tích có độ chính xác cao và dữ liệu có độ lặp lại tốt cho các ứng dụng mà khách hàng mong muốn.

Dịch vụ Quy trình sản xuất điện tử (EMS, ECS)

Kết hợp các thành phần mua sắm và sản xuất tại địa phương và nhiều điểm thử nghiệm liên quan đến sản phẩm để đạt được mọi thứ từ kiểm tra nhà máy đến kiểm soát quy trình dây chuyền sản xuất đến kiểm soát chất lượng cuối cùng. Sản phẩm Micro Focus XRF của Hitachi Analytics Instrument giúp bạn phân tích các thành phần, chất hàn và sản phẩm cuối cùng trong toàn bộ chuỗi sản xuất, đảm bảo chất lượng ở từng giai đoạn.

Sản phẩm PV

Nhu cầu về năng lượng tái tạo ngày càng tăng, trong khi quang điện đóng một vai trò quan trọng trong việc thu thập năng lượng mặt trời. Khả năng thu thập năng lượng này một cách hiệu quả phụ thuộc một phần vào chất lượng của pin mặt trời màng mỏng. Microblading XRF có thể giúp đảm bảo độ chính xác và mạch lạc của các lớp mạ pin này, do đó đảm bảo hiệu quả cao nhất.

Vật liệu hạn chế và sàng lọc độ tin cậy cao

Làm việc với chuỗi cung ứng toàn cầu phức tạp, điều quan trọng là phải xác minh và kiểm tra vật liệu nhận được từ các nhà cung cấp. Sử dụng công nghệ XRF của Hitachi Analytics Instrument để kiểm tra sự tuân thủ của lô hàng đến với các yêu cầu quy định như RoHS và ELV theo phương pháp IEC 62321, đảm bảo lớp phủ có độ tin cậy cao được áp dụng trong lĩnh vực hàng không và quân sự.

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị