Máy phân tích phần tử XRF chính xác cao

Máy phân tích nguyên tố XRF có độ chính xác cao sử dụng tia X để kích thích các nguyên tử trong mẫu để chúng phát ra tia X huỳnh quang đặc trưng. Mỗi nguyên tố có năng lượng tia X huỳnh quang cụ thể, và nồng độ của các nguyên tố khác nhau trong mẫu có thể được xác định thông qua phân tích dữ liệu sau khi các tia X đặc trưng này được máy dò nhận.

1. Nguồn kích thích: bên trong thiết bị được trang bị ống tia X năng lượng cao làm nguồn kích thích, tạo ra tia X năng lượng cao để kích thích mẫu.

2. Phân tích mẫu: Mẫu được đặt trong phòng mẫu, nơi tia X chiếu vào mẫu và gây ra bức xạ huỳnh quang của nguyên tố.

3. Phát hiện tín hiệu: Máy dò bắt được tia X huỳnh quang phát ra từ mẫu và chuyển đổi nó thành tín hiệu điện.

4. Xử lý dữ liệu: Phân tích tín hiệu thông qua phần mềm chuyên nghiệp để tạo báo cáo nội dung của các yếu tố khác nhau trong mẫu.

1. Độ chính xác cao và độ nhạy cao: Máy phân tích phần tử XRF có độ chính xác cao sử dụng máy dò độ phân giải cao, có thể phát hiện các phần tử nồng độ thấp, đáp ứng nhu cầu ứng dụng như phân tích dấu vết.

Phân tích không phá hủy: So với các phương pháp phân tích khác, quá trình phân tích XRF không gây thiệt hại cho mẫu và có thể được sử dụng để phát hiện vật liệu có giá trị và đồ tạo tác có giá trị.

Phân tích nhanh: Thiết bị có đặc tính phản ứng nhanh, quá trình phân tích thường trong vòng vài phút, có thể cải thiện đáng kể hiệu quả làm việc.

4. Ứng dụng rộng rãi: Dụng cụ này có thể phân tích nhiều loại vật liệu như kim loại, hợp kim, quặng, gốm sứ, nhựa, sơn, v.v., với phạm vi ứng dụng rộng.

5. Giao diện thân thiện với người dùng: Thiết bị XRF hiện đại được trang bị giao diện hoạt động trực quan, người dùng dễ dàng bắt đầu và giảm độ khó hoạt động.

Thời gian thử nghiệm30 giây - 1200 giây

Phạm vi đoAI-U

Lưu trữ và xuất dữ liệuBộ nhớ trong và USB, đầu ra USB và WiFi

Cách kết nối mạngMạng hạn chế hoặc WiFi không dây

nhiệt độ làm việc-5 °C~50 °C

độ ẩm làm việc≤85%

trọng lượngDưới 9Kg

kích thước30cmW * 23cmL * 26cmH