HELMUT FISCHER Đại lý X-Ray XDL230

Có thể đàm phánCập nhật vào05/07

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

HELMUT FISCHER Fischer X-Ray XDL230 là một máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang tia X (XRF) hiệu suất cao, phân tán năng lượng do công ty Helmut Fischer của Đức đưa ra, chủ yếu kiểm soát chất lượng công nghiệp và kiểm tra vật liệu đến, là mô hình chủ đạo có tỷ lệ giá trung tính cao của dòng XDL.

Chi tiết sản phẩm

HELMUT FISCHER Đại lý X-Ray XDL230

Thông số kỹ thuật cốt lõi của máy đo độ dày X-quang Fischer XDL230

Nguyên tắc đo: Quang phổ huỳnh quang tia X (XRF), kiểm tra không phá hủy.

Phạm vi phân tích nguyên tố: clo (Cl, số nguyên tử 17) đến uranium (U, số nguyên tử 92).

Khả năng đo lường:

Tối đa 24 yếu tố, 23 lớp mạ có thể được phân tích đồng thời.

Phạm vi độ dày: Nano đến milimet.

Độ chính xác: Hệ số biến đổi lặp lại<0,5%; Độ chính xác của lớp trên cùng ≤5% khi độ dày ≥0,5μm.

HELMUT FISCHER Đại lý X-Ray XDL230Hệ thống X-ray:

Ống tia: mục tiêu vonfram với cửa sổ berili.

Áp suất cao: 30kV/40kV/50kV ba bánh răng điều chỉnh.

Chuẩn trực: tiêu chuẩn φ0.3mm, tùy chọn φ0.1mm/0.2mm và hình chữ nhật.

Điểm tối thiểu: khoảng 0,2mm (φ0,1mm chuẩn trực).

Máy dò: Bộ đếm tỷ lệ (PC).

Bảng mẫu:

Hướng dẫn sử dụng trục XY: Phạm vi di chuyển 95 × 150 mm.

Trục Z điện: Hành trình 140 mm.

Bồi thường khoảng cách DCM: Hỗ trợ đo khoang sâu 0-80mm.

Hệ thống định vị: Camera CCD độ phân giải cao 40-160 lần+Định vị bằng laser.

Phương pháp phân tích: Phương pháp tham số cơ bản Fischer (FP), hỗ trợ đo mẫu không chuẩn.

Kích thước và trọng lượng: 570 × 760 × 650 mm; 107 kg.

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị