Kính hiển vi thiên vị elip

Có thể đàm phánCập nhật vào01/04

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Accurion EP4 Elliptic Partial Microscope $r$n Cách sử dụng: Độ dày và đo lường hằng số quang học (n, k giá trị) của màng nhiều lớp

Chi tiết sản phẩm

Sản phẩm Accurion EP4Kính hiển vi thiên vị elip

Cách sử dụng: Đo độ dày và hằng số quang học (n, k giá trị) của màng nhiều lớp

Độ phân giải ngang (hướng x/y) nhỏ như 1 micron, độ dày màng đo chính xác 0,1 nanomet.
Chức năng đo lường khu vực bầu cử: Đạt được phép đo lệch elliptical khu vực bầu cử của mẫu vật vi cấu trúc và mẫu vật nhỏ
Hình ảnh trực tiếp trường hiển vi đầy đủ, thay thế các phép đo một điểm truyền thống
Công nghệ cắt điểm, thực sự đạt được siêu mỏng và trong suốt; Đo lệch ellipsoid phản xạ không có đáy của màng trên nền
Nhiều công nghệ được kết hợp như: Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM),

Cộng hưởng plasma bề mặt (SPR), Phổ phản xạ (RefSpec),

Quang phổ Raman (RamanSpec), cân bằng tinh thể thạch anh (QCM),

Giao thoa kế ánh sáng trắng (WLI) và LB khe/màng bầu trời bình đẳng

椭偏显微镜

Sản phẩm Accurion EP4Kính hiển vi thiên vị elip

Cách sử dụng: Đo độ dày và hằng số quang học (n, k giá trị) của màng nhiều lớp

Độ phân giải ngang (hướng x/y) nhỏ như 1 micron, độ dày màng đo chính xác 0,1 nanomet.
Chức năng đo lường khu vực bầu cử: Đạt được phép đo lệch elliptical khu vực bầu cử của mẫu vật vi cấu trúc và mẫu vật nhỏ
Hình ảnh trực tiếp trường hiển vi đầy đủ, thay thế các phép đo một điểm truyền thống
Công nghệ cắt điểm, thực sự đạt được siêu mỏng và trong suốt; Đo lệch ellipsoid phản xạ không có đáy của màng trên nền
Nhiều công nghệ được kết hợp như: Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM),

Cộng hưởng plasma bề mặt (SPR), Phổ phản xạ (RefSpec),

Quang phổ Raman (RamanSpec), cân bằng tinh thể thạch anh (QCM),

Giao thoa kế ánh sáng trắng (WLI) và LB khe/màng bầu trời bình đẳng

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị