Máy đo nhiễu xạ tia X Brooker XRD D8

Brooker X-ray nhiễu xạ XRD

D8 Sự tiến bộ

Máy đo nhiễu xạ tia X Bruker XRD D8 AdvancedNó là một công cụ nhiễu xạ tia X dựa trên nền tảng loạt máy nhiễu xạ D8, lý tưởng cho tất cả các ứng dụng nhiễu xạ và tán xạ bột tia X, có thể dễ dàng thích ứng với các nhu cầu phân tích khác nhau. Với tốc độ đếm cao hơn, dải động và độ phân giải năng lượng, thiết bị có chất lượng dữ liệu rất cao trong hầu hết các kích thước.

Áp dụng thiết kế mở và có các tính năng mô-đun không bị ràng buộc cũng như thân thiện với người dùng tốt hơn, dễ vận hành và vận hành an toàn, ≤0,01 ° 2ƟĐộ chính xác của đỉnh, cung cấp sự bảo đảm căn chỉnh trong toàn bộ phạm vi góc đối với kích thước hình học và bước sóng của thiết bị.

Giải pháp nhiễu xạ tia X cho tương lai

Máy đo nhiễu xạ tia X Bruker XRD D8 AdvancedLý tưởng cho các ứng dụng nhiễu xạ và tán xạ bột tia X, bao gồm nhiễu xạ bột tia X điển hình (XRD), phân tích chức năng phân phối (PDF) và tán xạ tia X góc nhỏ (SAXS) và tán xạ tia X góc rộng (WAXS), v.v.

Nhờ khả năng thích nghi tuyệt vời, chỉ với D8 ADVANCE, bạn có thể đo tất cả các loại mẫu: từ chất lỏng đến bột, từ màng mỏng đến khối rắn.

Bất kể là người dùng mới hay chuyên gia, đều có thể thay đổi cấu hình một cách đơn giản và nhanh chóng, không sai lầm. Điều này được thực hiện thông qua thiết kế DAVINCI độc đáo của Brook: công cụ miễn phí, không chuẩn xác khi cấu hình công cụ, đồng thời được hỗ trợ bởi nhận dạng và xác minh thành phần thời gian thực tự động.

Hơn nữa, Brook có thể cung cấp sự đảm bảo liên kết trên toàn bộ phạm vi góc cho kích thước hình học và bước sóng của thiết bị.

Cặp đôi / Cặp đôiĐường ánh sáng

Thiết kế đường quang Twin-Twin của Brook đơn giản hóa hiệu quả hoạt động của D8 Advance, cho phép nó phù hợp với nhiều ứng dụng và loại mẫu. Để thuận tiện cho người dùng, hệ thống có thể tự động chuyển đổi giữa 4 loại hình học chùm tia khác nhau. Hệ thống này có thể chuyển đổi hình học nhiễu xạ bột Bragg Brentano và các mẫu có hình dạng xấu, hình học chùm song song của lớp phủ và màng và giữa chúng mà không cần sự can thiệp của con người, cho phép phân tích nhiều loại mẫu bao gồm bột, vật thể khối, sợi, tấm và màng mỏng (vô tinh thể, đa tinh thể và kéo dài) trong và ngoài môi trường.

Tối ưu hóa chùm tia động (DBO)

Chức năng DBO của Brook thiết lập một chuẩn mực mới và quan trọng cho chất lượng dữ liệu của nhiễu xạ tia X, tự động thu thập dữ liệu bột không có sẵn. Chỉ cần nhập kích thước mẫu và DBO sẽ thực hiện các điều chỉnh động cơ cho khe phân kỳ ổ đĩa động cơ, màn hình chống tán xạ và cửa sổ máy dò.

Chức năng đồng bộ hóa tự động của khe phân kỳ điều khiển động cơ, màn hình chống tán xạ và cửa sổ dò biến đổi cung cấp cho bạn chất lượng dữ liệu tốt hơn - đặc biệt là ở mức thấp 2ƟKhi góc. Ngoài ra, tất cả các máy dò LYNXEYE đều hỗ trợ DBO: SSD160-2, LYNXEYE-2 và LYNXEYE XE-T.

LYNXEYE XE-TMáy dò

LYNXEYE XE-T là sản phẩm chủ lực của dòng máy dò LYNXEYE. Nó là một máy dò phân tán năng lượng có thể thu thập dữ liệu 0D, 1D và 2D, phù hợp với tất cả các bước sóng (từ Cr đến Ag), với tốc độ đếm cao hơn và độ phân giải góc tốt hơn, lý tưởng cho các ứng dụng nhiễu xạ và tán xạ tia X. Đối với việc thu thập dữ liệu 0D, 1D và 2D, LYNXEYE XE-T có khả năng phân biệt năng lượng tuyệt vời và luôn hiệu quả, đồng thời không mất tín hiệu của bộ đơn sắc giai đoạn 2 điển hình.

LYNXEYE XE-T là một hệ thống phát hiện bộ lọc huỳnh quang với độ phân giải năng lượng tốt hơn 380 eV. Với sự trợ giúp của nó, người dùng có thể lọc 100% huỳnh quang sắt được kích thích bởi bức xạ đồng với tổn thất cường độ bằng không và không cần bộ lọc kim loại, vì vậy dữ liệu cũng sẽ không tồn tại các hiện vật như Kß dư và các cạnh hấp thụ. Tương tự, cũng không cần dùng bộ đơn sắc cấp hai để loại bỏ cường độ.

Brook cung cấp máy dò LYNXEYE XE-T đảm bảo: đảm bảo không có đường xấu khi giao hàng!

Thêm tính năng và lợi thế

· DAVINCIthiết kế: Cơ chế khóa nhanh có độ chính xác cao, quang học thông qua cài đặt hỗ trợ ba điểm, cộng với chip ID với chức năng nhận dạng thành phần, do đó, nó có ưu điểm là bảo vệ thất bại và căn chỉnh đường quang miễn phí khi thay thế thành phần.

· TRIOCon đường ánh sáng và con đường ánh sáng TwinCó thể tự động chuyển đổi giữa tối đa 6 hình học chùm tia khác nhau mà không cần sự can thiệp của con người.

· EIGER2 RMáy dò: Với lắp ráp khe sola toàn cảnh và đường ống truyền chân không để thu thập dữ liệu 0D, 1D và 2D

· Giải pháp Compliance LabGiải pháp tuân thủ cGAMP, 21CFR Part11 và EU Annex11 và dịch vụ chứng nhận thiết bị.

· Chất lượng thiết bị và chất lượng dữ liệuCung cấp đảm bảo chuẩn trực cho thiết bị, đảm bảo rằng toàn bộ hệ thống (không chỉ là các thành phần riêng lẻ) đáp ứng các tiêu chuẩn cao được mô tả trong Sổ tay xác minh hiệu suất của thiết bị.

D8 Sự tiến bộỨng dụng - nhiễu xạ bột

Công nghệ nhiễu xạ bột tia X (XRPD) là một trong những công cụ mô tả vật liệu quan trọng. Nhiều thông tin trong sơ đồ nhiễu xạ bột, bắt nguồn trực tiếp từ sự sắp xếp các nguyên tử của pha vật chất. Với sự hỗ trợ của D8 ADVANCE và phần mềm DIFFRAC.SUITE, bạn sẽ có thể thực hiện các phương pháp XRPD phổ biến:

· Phân biệt pha tinh thể và vô định hình và xác định độ tinh khiết của mẫu

· Phân tích định lượng pha tinh thể và pha vô định hình của hỗn hợp đa pha

· Phân tích cấu trúc vi mô (kích thước vi tinh thể, căng thẳng vi mô, rối loạn...)

· Ứng suất dư đáng kể từ các thành phần sản xuất được xử lý nhiệt hoặc gia công

REFERENCES [Tên bảng tham chiếu] (

· Chỉ số hóa, xác định cấu trúc tinh thể từ đầu và tinh chỉnh cấu trúc tinh thể

D8 Sự tiến bộỨng dụng - Phân tích hàm phân phối

Phân tích hàm phân phối (PDF) là một kỹ thuật phân tích dựa trên Bragg, cũng như tán xạ khuếch tán ("Total Scatter"), cung cấp thông tin về cấu trúc của vật liệu mất trật tự. Trong đó, bạn có thể tìm hiểu thông tin về cấu trúc tinh thể trung bình của vật liệu (tức là trật tự dài) thông qua đỉnh nhiễu xạ Bragg, đặc trưng cho cấu trúc cục bộ của nó (tức là trật tự ngắn) thông qua tán xạ khuếch tán.

Xét về tốc độ phân tích, chất lượng dữ liệu và kết quả phân tích vật liệu vô định hình, cấu hình yếu, tinh thể nano hoặc cấu trúc nano, phần mềm D8 ADVANCE và TOPAS đại diện cho các giải pháp phân tích PDF hiệu quả hơn trên thị trường:

· Xác định pha

· Xác định cấu trúc và hoàn thiện

· Kích thước hạt nano và hình dạng

D8 Sự tiến bộỨng dụng - Phim và lớp phủ

Phân tích màng và lớp phủ sử dụng các nguyên tắc tương tự như XRPD, mặc dù cung cấp thêm chức năng điều chỉnh chùm tia và điều khiển góc. Ví dụ điển hình bao gồm, nhưng không giới hạn, xác định pha, khối lượng tinh thể, ứng suất dư, phân tích dệt, xác định độ dày và phân tích thành phần so với căng thẳng. Khi phân tích màng và lớp phủ, phân tích đặc tính (từ lớp phủ vô định hình và đa tinh thể đến màng tăng trưởng mở rộng) được tập trung vào vật liệu lớp có độ dày giữa nm và µm. Phần mềm D8 ADVANCE và DIFFRAC.SUITE cho phép phân tích phim chất lượng cao sau đây:

· Nhiễu xạ tới

· Phương pháp phản xạ tia X

· Độ phân giải cao X-ray nhiễu xạ

· Quét không gian đảo ngược

D8 Sự tiến bộỨng dụng - Phạm vi ứng dụng

Xác định phaPhân biệt độ tin cậy vật liệu (PMI) phổ biến hơn vì nó rất nhạy với cấu trúc nguyên tử mà không thể đạt được bằng kỹ thuật phân tích nguyên tố.

Phân tích pha định lượng: Các phương pháp bao gồm phân tích bán định lượng phần mềm EVA, phân tích khu vực phần mềm DQUANT và phân tích phù hợp toàn phổ phần mềm DIFFRACTOPAS.

Tạo và hoàn thiện chức năng phân phối ghép nối: DIFFRAC.TOPAS tích hợp các phương pháp tạo và tinh chỉnh PDF độc đáo và thực sự là giải pháp "tinh chỉnh dữ liệu thô sang PDF".

Không môi trường XRD: Đường cong nhiệt độ có thể được cấu hình và đồng bộ hóa với phép đo trong DIFFRAC.WIZARD, sau đó kết quả có thể được hiển thị trong DIFFRAC.EVA.

Phân tích dệtTrong phần mềm DIFFRAC.TEXTURE, các biểu đồ cực, hàm phân phối định hướng (ODF) và phân tích định lượng khối lượng được tạo ra bằng cách sử dụng hàm hài hòa cầu và phương pháp phân tích thành phần.

Phân tích ứng suất dưỨng suất còn lại của các thành phần thép được phân tích trong DIFFRAC.LEPTOS, thu được bằng phương pháp sin2psi, đo bằng bức xạ Cr.

XPhương pháp phản xạ tia(XRR): Phân tích XRR về độ dày màng, độ nhám giao diện và mật độ của mẫu nhiều lớp trong DIFFRAC.LEPTOS

Tán xạ tia X góc nhỏ(SAXS): Trong DIFFRAC.SAXS, các hạt nano vàng SRM 80119nm tiêu chuẩn NIST được thu thập bởi EIGER2 R500K thông qua chế độ 2D được phân tích kích thước hạt.

Xác định pha&Phân tích ứng suất dư

D8 Sự tiến bộỨng dụng - Ứng dụng công nghiệp

· Công nghiệp kim loại

Trong các mẫu kim loại, austenit dư, ứng suất dư và phát hiện cấu trúc dệt là những mặt hàng phát hiện phổ biến trong số đó và mục đích phát hiện là để đảm bảo sản phẩm phù hợp với nhu cầu của người dùng.

· Đo lường phim

Tất cả mọi thứ từ lớp phủ dày micron đến các mẫu màng mở rộng dày nanomet đều được hưởng lợi từ một loạt các kỹ thuật được sử dụng để đánh giá khối lượng tinh thể, độ dày của màng, sự sắp xếp mở rộng của các thành phần và độ giãn căng.

· Vật liệu xây dựng

Từ nguyên liệu thô đến kiểm soát chất lượng, XRD đóng một vai trò quan trọng trong việc đảm bảo năng suất cao cho các sản phẩm mục tiêu, bao gồm phân tích clinker và giám sát phản ứng.

· Ngành dược phẩm

Từ khám phá thuốc đến sản xuất thuốc, D8AVANCE hỗ trợ toàn bộ vòng đời của thuốc, bao gồm xác định cấu trúc, phân biệt vật liệu đáng tin cậy, định lượng công thức và kiểm tra tính ổn định phi môi trường.

· Sản phẩm hóa chất/sắc tố

Các ngành công nghiệp này thường yêu cầu xác định cấu trúc mới hoặc phân tích định lượng hỗn hợp của một số lượng lớn vật liệu công nghiệp, bao gồm phân tích các thành phần pha chính và nhỏ.

· Lưu trữ năng lượng/pin

Với D8 ADVANCE, vật liệu pin có thể được kiểm tra trong điều kiện chu kỳ tại chỗ, cho phép truy cập trực quan vào quá trình thay đổi liên tục của vật liệu lưu trữ năng lượng liên quan đến cấu trúc tinh thể và thành phần pha.