Truth Optical Instruments Co., Ltd. chuyên nghiên cứu và sản xuất các thiết bị mô tả hạt Gao-End, bao gồm máy phân tích kích thước hạt laser (nhiễu xạ), máy phân tích nano tán xạ ánh sáng động và máy phân tích tiềm năng Zeta và máy phân tích hình ảnh hạt, cả thiết bị phòng thí nghiệm và hệ thống kiểm tra trực tuyến. Chân lý quang học giữ vững "Thái độ khoa học, tinh thần thợ thủ công", cung cấp sản phẩm và dịch vụ của thế giới.

Chân lý quang học tập hợp nhân tài hàng đầu trong lĩnh vực biểu tượng hạt toàn quốc do Tiến sĩ Trương Phúc Căn làm đại diện. Tiến sĩ Trương Phúc Căn hiện giữ chức Chủ tịch Hội đồng Quản trị kiêm nhà khoa học Xi - ri đầu tiên của Công ty, còn đảm nhiệm Phó Chủ nhiệm Ủy ban Kỹ thuật tiêu chuẩn hóa kiểm tra và kiểm tra các hạt viên toàn quốc, giáo sư kiêm chức Đại học Thiên Tân, từng đảm nhiệm Phó Chủ tịch Hội các hạt viên Trung Quốc, đồng thời cũng là người sáng lập Công ty thương hiệu "Âu Mỹ Khắc". Ông Tần Hòa Nghĩa từng đảm nhiệm chức vụ Tổng giám đốc Trung Quốc của một công ty dụng cụ hạt nào đó ở Anh hơn 20 năm đảm nhiệm chức vụ Tổng giám đốc thương mại của công ty, Tiến sĩ Phan Lâm Siêu, Tiến sĩ Trần Tiến đảm nhiệm chủ lực nghiên cứu phát triển của công ty.

Máy đo kích thước hạt laser (nhiễu xạ) mặc dù đã được sử dụng rộng rãi, nhưng nó không đẹp, cho dù đó là về mặt cơ bản khoa học hay phương án kỹ thuật. Nhóm nghiên cứu của Truth Optics đã tiến hành một nghiên cứu lý thuyết có hệ thống và đổi mới kỹ thuật nhằm giải quyết những thiếu sót trong các thiết bị hiện có trên thị trường, phát hiện ra sự thay đổi bất thường của các đốm nhiễu xạ (điểm Eri) (ACAD), giải thích tại sao không thể đo được vi cầu polystyrene khoảng 3 μm và đưa ra một công thức chung cho các vùng bất thường (không thể đo kích thước hạt); Giới hạn trên và dưới của phép đo của dụng cụ nhiễu xạ đã được nghiên cứu; Ảnh hưởng của độ lệch chỉ số khúc xạ của hạt đối với kết quả đo đã được nghiên cứu và hai phương pháp ước tính chỉ số khúc xạ của hạt dựa trên sự phân bố ánh sáng tán xạ đã được phát minh; Đề xuất đề xuất công nghệ cửa sổ hình thang xiên (Zhuanli), giải quyết vấn đề đo vùng mù góc cực lớn về phía trước, làm tăng đáng kể mức độ đo hạt submicron của dụng cụ nhiễu xạ; Một thuật toán đảo ngược thống nhất (bí quyết) đã được đề xuất, loại bỏ sự bối rối của các mẫu tính toán khác nhau cho kết quả khác nhau; Các mạch lấy mẫu dữ liệu song song tốc độ cực cao lên đến 20Kfps đã được thiết kế để đo khô không kém chính xác so với đo ướt và độ phân giải đo (thời gian) cao hơn cho các trường phun tốc độ cao.

Về kích thước hạt nano và điện thế Zeta, True Optics đã đề xuất phương pháp phân tích pha cô sin phù hợp (CF-PALS) tiên tiến hơn so với phương pháp phân tích pha (PALS), thay thế chùm gương chùm phẳng truyền thống bằng chùm sợi quang và thay thế giao thoa không gian tự do bằng giao thoa quang học trong sợi quang, cho phép tính lặp lại đo của điện thế Zeta được cải thiện đáng kể.

Linkoptik Instruments chuyên phát triển và sản xuất các thiết bị đặc trưng hạt cao cấp, bao gồm máy phân tích kích thước hạt laser (xạ quang), kích thước hạt nano phân tán ánh sáng động và máy phân tích tiềm năng zeta và máy phân tích hình ảnh hạt, cả các thiết bị phòng thí nghiệm và hệ thống kiểm tra trực tuyến. Linkoptik Instruments duy trì 'thái độ khoa học và thủ công' để cung cấp cho khách hàng các sản phẩm và dịch vụ cao cấp tiên tiến trên thế giới.

Linkoptik Instruments đã thu thập được những tài năng hàng đầu trong lĩnh vực đặc trưng hạt ở Trung Quốc, đại diện bởi Tiến sĩ Fugen Zhang. Tiến sĩ Zhang là Chủ tịch và nhà khoa học trưởng của công ty chúng tôi, và cũng là Phó Chủ tịch của Ủy ban Kỹ thuật Quốc gia về Đặc điểm hạt và Chuẩn hóa sàng và sàng, giáo sư bán thời gian của Đại học Thiên Tân và Phó Chủ tịch của Hiệp hội hạt Trung Quốc. Ông Qin He Yi, là tổng giám đốc của một công ty dụng cụ kích thước hạt ở Trung Quốc trong hơn 20 năm, là tổng giám đốc thương mại của công ty, và Tiến sĩ Pan Linchao và Tiến sĩ Chen Jin, các giám đốc trẻ của Hiệp hội hạt Trung Quốc, là nhóm nghiên cứu và phát triển chính của công ty.

Mặc dù kích thước hạt laser (phân xạ) đo lường đã được sử dụng rộng rãi, nó không hoàn hảo, cả về cơ sở khoa học và giải pháp kỹ thuật. Nhóm nghiên cứu tại Truth Optics đã tiến hành nghiên cứu lý thuyết có hệ thống và đổi mới công nghệ để giải quyết những thiếu sót của các dụng cụ hiện tại trên thị trường, phát hiện ra hiện tượng biến đổi bất thường của điểm xạ quang (điểm Airy) (ACAD), giải thích lý do tại sao các vi cầu polystyrene khoảng 3 μm không thể đo được và đưa ra một công thức chung cho khu vực bất thường (không đo kích thước hạt); nghiên cứu giới hạn đo trên và dưới của các dụng cụ xúc xạ; nghiên cứu tác động của hạt Tác động của độ lệch chỉ số khúc xạ trên kết quả đo được nghiên cứu, và hai phương pháp để ước tính chỉ số khúc xạ của các hạt dựa trên phân phối ánh sáng phân tán đã được phát minh; một giải pháp kỹ thuật cửa sổ hình thang hình nghiêng (được cấp bằng sáng chế) đã được đề xuất, giải quyết vấn đề của khu vực mù của phép đo góc quá lớn phía trước và cải thiện đáng kể mức độ đo hạt submicron của dụng cụ xạ quang; một thuật toán đảo ngược thống nhất (công nghệ độc quyền) đã được đề xuất, loại bỏ sự xấu hổ của các chế độ tính toán khác nhau mang lại kết quả khác nhau; thiết kế của mạch lấy mẫu dữ liệu song song tốc độ siêu cao lên đến 20Kfps đã được thiết kế, làm cho độ chính xác của đo khô không thấp hơn đo ướt, và độ phân giải đo (thời gian) của trường phun tốc độ cao cũng cao hơn.

Trong kích thước hạt nanomet và đo tiềm năng zeta, Linkoptik Instruments đã đề xuất một phương pháp phân tích giai đoạn được trang bị cosine tiên tiến hơn (CF-PALS) so với PALS, thay thế chia chùm phẳng gương truyền thống bằng chia chùm sợi quang và thay thế sự can thiệp không gian tự do bằng can thiệp quang học bên trong sợi, điều này đã cải thiện đáng kể khả năng lặp lại của đo tiềm năng zeta.