-
Thông tin E-mail
exinfeng01@163.com
-
Điện thoại
13926596645
-
Địa chỉ
Tòa nhà Jinhae, số 109, đoạn Songgang, đường Guangshen, đường Songgang, quận Baoan, Thâm Quyến
Về chúng tôi
Shenzhen Yixinfeng Technology Co., Ltd
Công nghệ cốt lõi và nguyên tắc phát hiện của thiết bị ROHS: Giải thích sâu về phổ huỳnh quang tia X (XRF)
Ngày:2025-11-17Đọc:0
Thiết bị ROHS chủ yếu dựa trên công nghệ quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) để phát hiện các chất độc hại, nguyên tắc và cốt lõi của công nghệ là xác định chính xác thành phần và nội dung của các yếu tố trong vật liệu thông qua quá trình "kích thích - phát xạ - phân tích".
Nguyên tắc cơ bản của công nghệ XRF: Khi tia X năng lượng cao (được tạo ra bởi một ống tia X hoặc một nguồn đồng vị phóng xạ bên trong thiết bị) chiếu vào bề mặt của mẫu, các electron bên trong nguyên tử (như lớp K, lớp L) trong mẫu sẽ bị bắn ra, tạo thành lỗ hổng. Tại thời điểm này, các electron bên ngoài (như lớp L, lớp M) nhảy vào lớp bên trong để lấp đầy lỗ hổng, đồng thời giải phóng các tia X đặc trưng (tức là tia X huỳnh quang) với năng lượng cụ thể. Năng lượng tia X đặc trưng của mỗi nguyên tố là duy nhất (như khoảng 72,8 keV đối với chì và 23,1 keV đối với cadmium) và bằng cách phát hiện năng lượng và cường độ của các huỳnh quang này, bạn có thể xác định nguyên tố nào có mặt trong mẫu và hàm lượng tương đối của chúng.
Thiết bị ROHSCông nghệ then chốt được thực hiện:
Nguồn kích thích: Các thiết bị chính sử dụng ống tia X (ví dụ: mục tiêu rhodium, mục tiêu vonfram) để tạo ra các tia X chính với năng lượng khác nhau bằng cách điều chỉnh điện áp ống (thường là 5-50kV) và dòng điện (1-100mA) để đáp ứng nhu cầu kích thích của các nguyên tố nhẹ (ví dụ: natri, magiê) và các nguyên tố nặng (ví dụ: chì, thủy ngân). Một số thiết bị di động sử dụng các nguồn đồng vị phóng xạ (ví dụ: bạc-109, cadmium-109), nhưng có năng lượng cố định và ít linh hoạt hơn.
Máy dò: được chia thành bộ đếm tỷ lệ (cho các nguyên tố nhẹ) và máy dò trôi silicon (SDD)/máy dò bán dẫn (cho các nguyên tố nặng). SDD là tiêu chuẩn của các thiết bị cao cấp hiện nay, có đặc điểm độ phân giải cao (có thể phân biệt sự khác biệt năng lượng của các nguyên tố lân cận chỉ 0,1 keV), tốc độ phản ứng nhanh (thích hợp để phát hiện trong thời gian ngắn), có thể xác định chính xác chì, cadmium, thủy ngân và các nguyên tố có giới hạn rất thấp khác.
Hệ thống phân tích dữ liệu: Phần mềm tích hợp trong thiết bị chuyển đổi tín hiệu huỳnh quang mà máy dò nhận được thành phổ năng lượng-cường độ, khớp với vị trí đỉnh đặc trưng của các yếu tố đã biết bằng thuật toán (ví dụ: đỉnh Kα của chì ở 72,8 keV) và tính toán nội dung cụ thể (ví dụ: độ chính xác ppm) kết hợp với các đường cong tiêu chuẩn.
Ưu điểm và hạn chế của công nghệ: Ưu điểm lớn hơn của công nghệ XRF là không phá hủy (mẫu không cần hòa tan hoặc phá hủy), nhanh chóng (chỉ mất vài chục giây đến vài phút cho một lần phát hiện), phân tích đồng bộ đa yếu tố (có thể phát hiện hàng chục yếu tố cùng một lúc). Nhưng hạn chế của nó là không nhạy cảm với các nguyên tố siêu nhẹ (như hydro, heli) và các mẫu có lớp phủ bề mặt dày hơn (như kim loại sơn) cần được loại bỏ bằng cách chà nhám.
Hiểu được các nguyên tắc của công nghệ XRF và cách thực hiện thiết bị giúp người dùng lựa chọn thiết bị ROHS phù hợp với nhu cầu phát hiện (ví dụ: phạm vi phần tử, yêu cầu độ chính xác) và phát huy đầy đủ hiệu quả phát hiện thông qua hoạt động đặc tả.