Máy đo độ dày lớp phủ EXFNó chủ yếu được sử dụng để đo độ dày của lớp phủ bề mặt vật liệu kim loại, thường sử dụng phương pháp kiểm tra không phá hủy. Tuy nhiên, do đối tượng đo, phương pháp đo, môi trường đo, thiết bị đo và các yếu tố khác đã giới thiệu nhiều lỗi đo, để đảm bảo kết quả đo chính xác và đáng tin cậy, cần phải phân tích độ không chắc chắn của nó.
Sản phẩm này có thể đo đồng thời lớp phủ không từ tính (như sơn, gốm, chrome, v.v.) trên bề mặt của chất nền từ tính (như thép và sắt), cũng như lớp phủ mạ không dẫn điện (như sơn, v.v.) trên bề mặt của chất nền kim loại không từ tính. Được xây dựng trong đầu dò tích hợp độ chính xác cao, đồng thời sử dụng hai nguyên tắc cảm ứng điện từ và hiệu ứng xoáy để tự động phát hiện các thuộc tính của chất nền và phát hiện độ dày của lớp phủ và hiển thị kết quả nhanh chóng thông qua tinh thể lỏng ma trận điểm. Đồng thời, dữ liệu đo lường có thể được lưu trong các nhóm và các giá trị thống kê được hiển thị trong thời gian thực. Người dùng có thể đặt giá trị cảnh báo giới hạn trên và dưới, hiệu chuẩn bằng không, hiệu chuẩn đa điểm cho từng nhóm riêng biệt. Hiệu chuẩn đa điểm hoàn toàn mới và hiệu chuẩn 0, giúp bạn dễ dàng thực hiện hiệu chuẩn bất cứ lúc nào. Chuẩn hóa menu để đảm bảo bạn sử dụng nó rất dễ dàng.
Mạ công nghiệp cho các sản phẩm nhựa, mạ vật liệu điện tử (chèn, chất bán dẫn, tấm đường, tụ điện, v.v.), mạ vật liệu thép (sắt, gang, thép không gỉ, hợp kim thấp, tấm thép xử lý bề mặt, v.v.), mạ vật liệu kim loại màu (hợp kim đồng, hợp kim nhôm, hợp kim chì, hợp kim kẽm, hợp kim magiê, hợp kim titan, kim loại quý, v.v.), đo độ dày mạ khác nhau và phân tích thành phần.
Máy đo độ dày lớp phủ EXFSử dụng công nghệ phân tích huỳnh quang X, có thể xác định độ dày của các lớp mạ kim loại khác nhau, bao gồm lớp đơn, lớp kép, lớp đa lớp và lớp mạ hợp kim, v.v., có thể xác định nồng độ thành phần của chất lỏng mạ điện.
Máy đo độ dày lớp phủ EXFLà phương pháp phân tích năng lượng phổ, thuộc về phương pháp phân tích vật lý. Khi mẫu được tiếp xúc với tia X, các nguyên tử của các nguyên tố mạ hoặc vật liệu cơ bản được kích thích sẽ phát ra các tia X đặc trưng riêng của chúng, các nguyên tố khác nhau có các tia X đặc trưng khác nhau; Sau khi phát hiện các tia X đặc trưng này, máy dò sẽ chuyển tín hiệu quang của chúng thành tín hiệu điện tương tự; Sau khi chuyển đổi kỹ thuật số analog chuyển đổi tín hiệu điện analog thành tín hiệu kỹ thuật số và gửi vào máy tính để xử lý; Phần mềm ứng dụng đặc biệt của máy tính * dựa trên thông tin đỉnh phổ thu được để xác định các loại nguyên tố có trong mẫu mạ được thử nghiệm và độ dày của các nguyên tố bằng cách xử lý dữ liệu.
Máy đo độ dày lớp phủ EXFCó thể phát hiện độ dày mạ kim loại phổ biến mà không cần xử lý mẫu trước; Thời gian phân tích ngắn, chỉ vài chục giây, có thể phân tích độ dày của từng lớp mạ kim loại; Phân tích đo dải động rộng, có thể từ 0,005 μm đến 60 μm.