Máy quang phổ tinh thể tia X

Máy quang phổ tinh thể tia X

Giới thiệu sản phẩm

Máy quang phổ tinh thể tia X(X-ray imaging crystal spectrometer) thường được sử dụng để đo các tia năng lượng cao, theo cách sử dụng các tinh thể được chia thành: phổ kế tinh thể phẳng và phổ kế cong.

Thông thường, máy quang phổ tinh thể phẳng được sử dụng rộng rãi trong phân tích quang phổ tia X do cấu trúc đơn giản của bộ phận và độ khó xử lý thấp, là một loại* Đơn giảnDụng cụ đo quang phổ tia X. Tuy nhiên, máy quang phổ mặt phẳng không có chức năng tập trung, do đó hiệu suất thu quang thấp, cường độ phổ yếu. Ngoài ra, kích thước chiếu sáng có ảnh hưởng rõ rệt đối với độ phân giải quang phổ, không đáp ứng nhu cầu đo lường phân biệt quang phổ cao. Máy quang phổ tinh thể cong đạt được mục tiêu tập trung mạnh bằng cách uốn các bề mặt nhiễu xạ tinh thể quang phổ thành các bề mặt khác nhau.

Mặt cầu uốn cong tinh thể, đồng thời có đặc tính phân tán và hình ảnh hai chiều. Kết hợp các đặc tính nhiễu xạ Prague tinh thể và tập trung gương hình cầu, trong trường hợp không có khe hở hoặc chân không, kết hợp với máy dò tia X hai chiều, có thể thu được hình ảnh nguồn tia X phân giải quang phổ và không gian cùng một lúc. Hiện nay, các tinh thể cong hình cầu được sử dụng rộng rãi trong cả hai giới hạn quán tính và chẩn đoán plasma giới hạn từ tính.

Nhiệt độ ion plasma, tốc độ quay là một thông số quan trọng để mô tả đặc tính của plasma nhiệt hạch, và cũng là cơ sở dữ liệu để thực hiện nhiều nghiên cứu về các vấn đề vật lý plasma. Trong thiết bị Tokamak, máy quang phổ cong đo nhiệt độ ion và tốc độ quay bằng cách đo dịch chuyển Doppler của các vạch tạp chất plasma so với độ rộng Doppler.

Dựa trên các đặc tính không phụ thuộc vào việc tiêm chùm trung tính cũng như hoạt động bình thường dưới nhiều loại sóng tần số vô tuyến khác nhau, đặc biệt thích hợp để đo nhiệt độ plasma ở nhiệt độ sóng tần số vô tuyến tinh khiết, đây là một trong những chẩn đoán vật lý quan trọng trong thiết bị tokamak.

Bắc Kinh Zhuoli Instrument Co., Ltd. dựa trên nhu cầu của khách hàng và kinh nghiệm nghiên cứu và phát triển quang phổ trong 20 năm qua, giới thiệu hệ thống kiểm tra quang phổ tinh thể cong hoàn chỉnh.

Nguyên tắc của Bent Crystal Spectrometer

Hệ thống quang phổ gương Raman RTS-SEMR

Một công cụ quan trọng để đo phổ tia X, máy quang phổ cong hoạt động dựa trên luật nhiễu xạ Prague, cho phép kiểm soát chính xác các hiệu ứng nhiễu xạ của tia X bằng cách lựa chọn hợp lý hình dạng của vật liệu và tinh thể cong, cho phép tập trung phản xạ đơn sắc của tia X. Cấu hình của nó rất đa dạng, bao gồm kiểu Johansson, sợi logarit, ellipsoid và Von Hamos, v.v., được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu khoa học, phát hiện công nghiệp và các lĩnh vực khác. Các thành phần chính bao gồm: tinh thể uốn theo phạm vi kiểm tra mong muốn, xây dựng đường dẫn ánh sáng hoàn chỉnh và thiết bị phát hiện phía sau (máy ảnh chân không là chính). Trong số các bộ phận khác nhau của máy đo phổ cong, máy dò là một trong những thiết bị quan trọng để xác định hiệu suất của hệ thống máy đo phổ cong, đặc biệt là trong điều kiện hoạt động plasma hỗ trợ công suất cao xung dài, không chỉ cần tốc độ đếm cao, mà còn phải có dải động tốt để phản ánh sự thay đổi các thông số ion như trước và sau khi sưởi ấm. Các tinh thể cong không tập trung tia X, nhưng có thể làm cho tia X hội tụ thành một đường hoặc một điểm theo cách nhiễu xạ. Các tinh thể cong bề mặt có thể được truyền qua hoặc phản xạ, và chúng có thể được uốn cong thành các bề mặt phù hợp với bề mặt hình trụ, hình cầu, vòng hoặc một phần nhỏ của bề mặt logarit.

Sơ đồ nguyên lý của máy quang phổ cong:

A là điểm tới và B là bề mặt hình ảnh được sử dụng trong sơ đồ tinh phổ cong hình cầu trên Tokamak

Thông số chính của Bent Cryoscope

Kiểm tra bước sóng X-ray:

Máy quang phổ cong chủ yếu được sử dụng để đo trong phạm vi bước sóng của tia X, thường là từ 0,1 đến 10 nanomet. Phạm vi từ tia X mềm đến tia X cứng có thể được bao phủ bằng cách chọn các tinh thể có khoảng cách mạng khác nhau.

Kiểm tra phạm vi năng lượng

X-quang mềm: thích hợp để nghiên cứu các nguyên tố nhẹ và các mẫu sinh học, thường nằm trong khoảng từ vài trăm electron volt (eV) đến vài nghìn electron volt.

Tia X cứng: Thích hợp để nghiên cứu các nguyên tố nặng và vật liệu mật độ cao, thường nằm trong khoảng vài nghìn đến vài chục nghìn electron volt.

Độ phân giải quang phổ: Tùy thuộc vào nhu cầu, bạn có thể nhận được độ phân giải ở mức nm hoặc thậm chí cao hơn.

Chỉ số kỹ thuật

■ Phạm vi bước sóng: 0,1-10nm

■ Phạm vi năng lượng: vài trăm eV~vài chục keV

■ Độ phân giải phổ: 100-1000 @ phân đoạn phổ rộng; >1000 @ Phép đo phổ

■ Chấp nhận yêu cầu tùy chỉnh

Các cấu hình liên quan trong các cảnh ứng dụng khác nhau như sau:

Các lĩnh vực ứng dụng liên quan của Bent Cryptospectrometer

Khoa học vật liệu: được sử dụng để nghiên cứu cấu trúc vi mô và thành phần của vật liệu.

Vật lý: được sử dụng để nghiên cứu các hiện tượng vật lý năng lượng cao và các đặc tính hạt, chẳng hạn như hạn chế quán tính và chẩn đoán plasma hạn chế từ tính.

Phân tích hóa học: được sử dụng để phân tích định lượng và định tính các nguyên tố trong hợp chất.

Trường hợp dữ liệu thử nghiệm liên quan

Trường hợp 1: Các vạch phổ Si Kα thu được bằng máy đo quang phổ cong bằng máy ảnh chân không Andor Trường hợp 2: Dữ liệu được đo bằng máy đo quang phổ cong bằng máy ảnh PILATUS của Detrics

Tùy chọn đầu dò 1 (Andor):

Tùy chọn Detector 2 (Dectris)