Cung cấp hệ thống phân tích thất bại mô phỏng điều kiện làm việc thực tế

Hệ thống phân tích thất bại mô phỏng điều kiện làm việc thực tế trong việc mô phỏng hiệu suất lão hóa trong môi trường làm việc thực tế của chất cách điện chủ yếu bao gồm: bụi bẩn môi trường khí quyển (kiểm tra bụi, lượng mưa (kiểm tra mưa), bức xạ mặt trời (phóng điện thử nghiệm lão hóa ánh sáng (kiểm tra phóng điện cục bộ), nhiệt độ cao và độ ẩm cao (kiểm tra nhiệt độ cao và thấp, lão hóa thành phần ăn mòn trong khí quyển, thử nghiệm ăn mòn phun muối phức tạp, v.v.

Đối với nguyên nhân lão hóa của vật liệu cách điện sứ dưới điện áp DC, một số người tin rằng các ion kim loại kiềm trong sứ, đặc biệt là các ion Na "trong quá trình di chuyển do thu được electron và hình thành thể tích lớn gấp đôi so với các nguyên tử ion, căng thẳng mở rộng cục bộ gây ra sự phá vỡ chất cách điện chủ yếu xuất hiện ở đầu của chất cách điện) Một quan điểm khác cho rằng sự di chuyển ion gây ra một lớp dẫn điện khác nhau của điện trở bên trong các bộ phận sứ, dẫn đến sự phân bố điện trường không đồng đều, sau một thời gian dài hành động và sự xuất hiện của sự va chạm vào nó. Để xác minh nguyên nhân lão hóa của nó trong trạng thái hoạt động, các nhà sản xuất điện phải thực hiện một thử nghiệm mô phỏng về trạng thái hoạt động trong môi trường khí quyển tự nhiên.