Máy phân tích đặc tính trường gần VNF-200
Máy phân tích đặc tính trường gần VNF-200 VCSEL được thiết kế đặc biệt cho phân tích đặc tính trường gần bề mặt của VCSEL, kết hợp các đặc tính của tốc độ đo nhanh, độ phân giải quang học cao và độ chính xác đo cao. Thiết bị sử dụng kết hợp hệ thống quang học vi mô với hệ thống hình ảnh và thiết kế tối ưu theo các đặc tính của VCSEL để đạt được phân tích bức xạ hình ảnh vi mô có độ phóng đại cao của VCSEL. Thông qua một phép đo duy nhất thu được dữ liệu phân bố mảng hai chiều bề mặt VCSEL, phát hiện điểm xấu và độ sáng nan hoa, đồng thời thu được kích thước điểm duy nhất. Được trang bị phần mềm phân tích chuyên dụng, báo cáo thử nghiệm phù hợp với tiêu chuẩn có thể được xuất. Thích hợp để phân tích nhanh và chính xác các đặc tính bề mặt của VCSEL trong dây chuyền sản xuất và phòng thí nghiệm.