Hệ thống liên kết Raman-Atomic Force Microscope

Có thể đàm phánCập nhật vào06/27

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Máy quang phổ Raman vi mô tập trung: Các tính năng chính: 1, độ nhạy cao hơn nhiều so với các máy quang phổ Raman tương tự khác, thiết kế mô-đun, bước sóng có thể được lựa chọn tùy ý, cấu hình linh hoạt, nâng cấp dễ dàng

Chi tiết sản phẩm

Máy quang phổ Raman Micro-Focus:
Các tính năng chính:
1, độ nhạy cao hơn nhiều so với các phổ Raman tương tự khác, thiết kế mô-đun, bước sóng có thể được lựa chọn tùy ý, cấu hình linh hoạt và nâng cấp dễ dàng.
2, tất cả các bộ phận truyền dẫn được điều khiển vòng kín bằng thước đo lưới, độ chính xác và độ lặp lại của dụng cụ được cải thiện một bậc độ lớn so với các máy quang phổ tương tự khác.
3, có thể quét một loạt các phổ Raman (bằng sáng chế) liên tục trong một lần, không cần phổ, không cần sử dụng lưới có độ phân giải thấp.
4, Hệ thống Micro AF mới nhất được bảo vệ bằng sáng chế, có thể liên tục điều chỉnh độ sâu đồng tập và cải thiện đáng kể thông lượng ánh sáng và sự ổn định của máy đo.
5, Raman được bảo vệ bằng sáng chế hoặc tín hiệu huỳnh quang hình ảnh trực tiếp tại một thời điểm, nhanh chóng có được sự phân bố không gian của vật liệu.

Kính hiển vi lực nguyên tử:
Các tính năng chính:
Bruker Dimension ® Icon ™ Kính hiển vi lực nguyên tử mang đến trải nghiệm ứng dụng AFM hoàn toàn mới cho các nhà nghiên cứu trong lĩnh vực nano trong ngành công nghiệp và nghiên cứu khoa học, với các thử nghiệm mạnh mẽ và dễ vận hành. Vẫn dựa trên nền tảng mẫu lớn AFM được sử dụng rộng rãi nhất trên thế giới, tích hợp hàng thập kỷ kinh nghiệm kỹ thuật của hệ thống Dimension, phản hồi rộng rãi của khách hàng, kết hợp với nhu cầu thiết bị trong lĩnh vực công nghiệp để đổi mới toàn diện. Thiết kế hệ thống hoàn toàn mới cho phép trôi dạt thấp và mức độ tiếng ồn thấp chưa từng có, giờ đây người dùng chỉ mất vài phút để có được hình ảnh quét thực tế và chính xác.

Dimension ® Icon ™ Độ phân giải hình ảnh tuyệt vời, kết hợp với thuật toán quét điện tử đặc trưng của Bruker, làm tăng đáng kể tốc độ và chất lượng đo. Dimension ® Loạt kính hiển vi lực nguyên tử mẫu lớn luôn dẫn đầu ngành, Dimension mới nhất ® Icon ™ Đó là một cuộc cách mạng khác trong công nghệ quét đầu kim, cấu hình cảm biến vị trí bù nhiệt độ, đạt được mức độ tiếng ồn thấp của trục Z cấp Ai Cập và trục XY cấp Ai Cập, áp dụng nó trên hệ thống bảng mẫu lớn với phạm vi quét 90 micron, hiệu quả thậm chí còn tốt hơn mức độ tiếng ồn vòng hở của bảng mẫu phân biệt cao AFM. Đầu quét vòng kín XYZ được thiết kế hoàn toàn mới, ngay cả khi hoạt động ở tốc độ quét cao hơn, không làm hỏng chất lượng hình ảnh, cho phép đầu ra thu thập dữ liệu lớn hơn.

Hệ thống liên kết Raman-Atomic Force Microscope:
Bạn có thể kết hợp khả năng của inVia Raman với kính hiển vi thăm dò quét (SPM và AFM) để nghiên cứu thành phần, cấu trúc và đặc tính của vật liệu ở quy mô nano.

Lợi thế hệ thống kết hợp:
Đo tại chỗ. Không cần phải di chuyển mẫu giữa các công cụ khác nhau, tiết kiệm thời gian và đảm bảo khu vực phân tích chính xác.
InVia và SPM/AFM có thể được sử dụng đồng thời như các hệ thống độc lập mà không ảnh hưởng đến hiệu suất của cả hai.
Có được thông tin mẫu phong phú. Sử dụng AFM để ghi lại hình dạng và các đặc tính vật lý liên quan của mẫu. Tăng khả năng của Raman trong việc phân tích thông tin hóa học của mẫu để xác định vật liệu và các hợp chất phi kim loại.
Có thể đạt được phép đo Raman tăng cường đầu kim (TERS), thu được thông tin hóa học ở quy mô nano.

Chọn hệ thống tốt nhất:
Cánh tay ghép linh hoạt được thiết kế đặc biệt của Renishaw có thể được sử dụng để tích hợp inVia với SPM hoặc AFM Optics. inVia có tính linh hoạt tuyệt vời và khả năng ghép nối trực tiếp vào các AFM và SPM khác nhau từ các nhà cung cấp sau:

· Bruker Nano Surfaces

· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị