Chip kiểm tra OFET S181 Ossila Chip kiểm tra S182 Ossila Agent

Có thể đàm phánCập nhật vào06/27

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

OFET kiểm tra chip S181 Ossila kiểm tra chip S182 đại lý Ossila $r$nOssila nhà sản xuất đặt hàng trực tiếp, *, thời gian giao hàng đúng giờ, chào đón khách hàng mới và cũ!!!

Chi tiết sản phẩm

Chỉ dùng cho nghiên cứu thí nghiệm trên động vật

Low density bottom gate bottom contact prefabricated FET substrate Nền tảng FET mật độ thấp được chế tạo sẵn.

Chip kiểm tra OFET S181 Ossila Chip kiểm tra S182 Ossila Agent

Sơ đồ

Thiết kế chiều dài kênh liên tục

Chip kiểm tra OFET S181 Ossila Chip kiểm tra S182 Ossila Agent

Low density FET substrate mask dimensions (constant channel length) Chiều rộng kênh không đổi thiết kế FET mật độ thấp.

Thiết kế chiều dài kênh biến đổi

Low density OFET substrate mask dimensions (variable channel length) Chiều rộng kênh biến đổi thiết kế FET mật độ thấp.

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị