Thiết bị XRD tại chỗ nhiệt độ cao và thấp Li-ion

Thiết bị XRD tại chỗ nhiệt độ cao và thấp Li-ion là một thiết bị tuyệt vời dành riêng cho nghiên cứu vật liệu pin Li-ion. Nó có thể theo dõi sự thay đổi động lực của cấu trúc vật liệu của pin trong quá trình sạc và xả trong thời gian thực.

Thiết bị XRD tại chỗ nhiệt độ cao và thấp Li-ionNó là một thiết bị được thiết kế đặc biệt để kiểm tra tại chỗ các hệ thống điện hóa như pin lithium-ion.

1.Thiết bị XRD tại chỗ nhiệt độ cao và thấp Li-ionTính năng sản phẩm:

1) Thiết bị phù hợp với thử nghiệm điện hóa tại chỗ XRD của vật liệu điện cực dương và âm của pin lithium ion, pin lithium lưu huỳnh, pin natri ion, pin kẽm ion thủy hệ và các hệ thống khác;

2) hiệu suất niêm phong tốt của thiết bị, có thể thực hiện kiểm tra XRD điện hóa tại chỗ trong điều kiện kiểm soát nhiệt độ và kiểm tra XRD trong bầu không khí khác nhau;

3) Hoạt động đơn giản, thiết kế tháo dỡ nhanh được áp dụng, dễ lắp đặt khuôn, kiểm tra tính nhất quán tốt, tránh sai lệch thí nghiệm do các phương pháp vận hành khác nhau;

4) Thiết kế thiết bị linh hoạt, khả năng mở rộng tốt, có thể cải thiện phạm vi nhiệt độ và cải thiện tốc độ nhiệt độ nâng theo yêu cầu của người dùng;

5) Cửa sổ có thể được tùy chỉnh đặc biệt theo nhu cầu của người dùng (cửa sổ tia X kim loại, phi kim loại)

6) Tùy chọn với hệ thống trộn khí đa kênh, mở rộng các thiết bị phức hợp khác như phát hiện rò rỉ khí và giám sát khí để đạt được kết hợp đa công nghệ.

2. Thông số kỹ thuật:

1) Thiết bị bao gồm: bộ điều khiển nhiệt độ cao và thấp, phần mềm máy thượng vị, đơn vị nhiệt độ thấp (hệ thống nitơ lỏng), bàn mẫu nhiệt độ cao và thấp, khoang, hệ thống chân không, v.v.

2) Bộ phận sưởi ấm nhiệt độ cao được làm nóng trực tiếp bằng dây điện trở nhập khẩu, phạm vi kiểm soát nhiệt độ Nhiệt độ phòng đến 200,0 ° C (có thể hoạt động lâu dài), độ chính xác kiểm soát nhiệt độ ± 0,5 ° C;

3) Đơn vị làm lạnh thông qua hệ thống nitơ lỏng nhiệt độ thấp, phạm vi điều khiển nhiệt độ Nhiệt độ phòng đến -180,0 ° C, độ chính xác điều khiển nhiệt độ ± 0,5 ° C;

4) Cảm biến đo nhiệt độ được đặt ở phía dưới của mẫu, có thể phản hồi nhiệt độ khu vực mẫu một cách thực tế;

5) Kích thước tổng thể của thiết bị 100 * 80 * 55 mm;

6) Thiết bị sử dụng cấu trúc cửa sổ cong, vật liệu cửa sổ là màng vô định hình phân tử cao, độ dày 10-20 µm, tốc độ truyền tia X>95% trong điều kiện 8keV, góc nhiễu xạ 10-90 ° trong điều kiện cường độ truyền thống tia X không bị mất do góc;

7) Phạm vi góc thử nghiệm thông thường 2theta=10 ° - 140 ° (có thể đạt 5 °);

8) Trong thử nghiệm nhiệt độ thấp, buồng duy trì môi trường không khí chân không hoặc trơ, sử dụng đồng hồ đo lưu lượng khối để kiểm soát lưu lượng khí, phạm vi đo lưu lượng 10 sccm, độ chính xác ± 0,2 sccm;

9) Thiết bị được trang bị bảng điều chỉnh chuyển đổi, kết hợp với giá đỡ quá mức của bảng mẫu, có thể phù hợp với từng mô hình nhiễu xạ.