Đo lường wafer

Có thể đàm phánCập nhật vào12/31

Mô hình

Thiên nhiên của nhà sản xuất: Nhà sản xuất

Danh mục sản phẩm

Nơi xuất xứ

Tư vấn trực tuyến

Tổng quan

Đối với khách hàng và nhà cung cấp, kết cấu bề mặt là một thông số cực kỳ quan trọng để xác định chất lượng của chất bán dẫn mở rộng

Chi tiết sản phẩm

Đo lường wafer

Do việc sử dụng ngày càng mở rộng của các thành phần quang điện trong lĩnh vực viễn thông và công nghệ hiển thị, công nghệ mở rộng trở thành công nghệ quan trọng trong sản xuất linh kiện. Extension đề cập đến quá trình lắng đọng một lớp chất bán dẫn rất mỏng trên bề mặt của một tấm nền đơn tinh thể. Mỗi lớp tinh thể được gọi là extension.

Đo lường

Độ nhám bề mặt
Đối với khách hàng và nhà cung cấp, kết cấu bề mặt là một thông số cực kỳ quan trọng để xác định chất lượng của chất bán dẫn mở rộng. Đối với các trình điều khiển hiện tại, phạm vi dung sai độ nhám trở nên hẹp hơn vì các mạch được in trên silicon ngày càng nhỏ hơn. Độ nhám bề mặt của Lei wafer được quy định là nano, vì vậy điều này đòi hỏi phải sử dụng một hệ thống có độ ồn rất thấp và độ phân giải cao để đo Lei wafer.

Sản phẩm tương tự Khuyến nghị