Máy đo độ dày màng huỳnh quang Fihir XDLM 237 của Đức

Mô tả sản phẩm

So sánh FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM Series với XULXUUM:

Dòng FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM có liên quan chặt chẽ đến dòng XULXUUM: cả hai đều sử dụng cùng một bộ thu, bộ chuẩn trực và bộ lọc kết hợp. Thiết bị XDL được trang bị ống tia X tiêu chuẩn và chuẩn trực cố định là lý tưởng để đo lường các phôi lớn. Nguồn tia X của mô hình XDLM sử dụng các ống microfocus có thể đo các thành phần nhỏ và có tác dụng kích thích tốt hơn đối với các thành phần bức xạ thấp. Ngoài ra, XDLM được trang bị bộ chuẩn trực có thể chuyển đổi tự động và nhiều bộ lọc linh hoạt để tạo điều kiện khuyến khích tốt cho các ứng dụng đo lường khác nhau.Cả hai mô hình thiết bị đều được trang bị máy dò thu tỷ lệ. Ngay cả đối với các điểm đo nhỏ, tốc độ đếm đủ cao vẫn có thể thu được do diện tích nhận lớn của máy thu để đảm bảo độ chính xác lặp lại tốt.

So sánh các thiết bị XUL và XUM, XDL và XDLM loạt thiết bị đo hướng đo từ. Lên xuống. Chúng được thiết kế như máy tính để bàn thân thiện với người dùng, sử dụng cấu trúc mô-đun, có nghĩa là chúng có thể được trang bị bảng điều khiển đơn giản, một loạt các bàn XY và trục Z để phù hợp với các nhu cầu khác nhau. Phiên bản của thiết bị XDL Series được trang bị bàn XY có thể lập trình có thể được sử dụng để tự động kiểm tra loạt. Nó có thể quét bề mặt rất thuận tiện để kiểm tra tính đồng nhất của nó. Để xác định vị trí mẫu đơn giản và nhanh chóng, bàn XY tự động di chuyển đến vị trí tải khi cửa đo được mở, trong khi điểm laser chỉ ra vị trí điểm đo. Đối với các mẫu lớn và bằng phẳng, chẳng hạn như bảng mạch, vỏ có lỗ mở (rãnh hình chữ C) ở bên cạnh. Do không gian phòng đo lớn và vị trí mẫu thuận tiện, dụng cụ có thể đo không chỉ các vật phẳng mà còn các mẫu lớn có hình dạng phức tạp (chiều cao mẫu có thể đạt 140mm). Trục Z có thể điều chỉnh bằng điện, khoảng cách đo cũng có thể được tự do lựa chọn trong phạm vi 0-80 mm, do đó có thể đo các vật thể không bằng phẳng bên trong khoang hoặc bề mặt (phương pháp DCM).

Mô hình sản phẩm：

• Máy đo độ dày mạ huỳnh quang FISHERSCOPEX-RAY XDL M231
• Máy đo độ dày lớp phủ huỳnh quang FISHERSCOPE X-RAY XDLM 232 X-ray
• Máy đo độ dày và phân tích vật liệu mạ huỳnh quang FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237

Ví dụ ứng dụng:

Hệ thống đo lường XDLM thường được sử dụng để đo độ dày của lớp mạ Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni hoặc Sn/Ni trên các vật liệu cơ bản khác nhau cho các khớp nối và tiếp điểm. Thông thường các khu chức năng là các cấu trúc rất nhỏ như nâng cao hoặc nhô ra, và các khu vực đo lường này phải sử dụng các bộ chuẩn trực rất nhỏ hoặc các bộ chuẩn trực phù hợp với hình dạng mẫu. Ví dụ, khi đo mẫu hình bầu dục, hãy sử dụng bộ chuẩn trực có rãnh để có được cường độ tín hiệu lớn nhất.

Phân tích thành phần chất lỏng mạ điện: Cu, Ni, Au (g/l)

PCB测量: Au / Ni / Cu / PCB

Tính năng:

. Ống tia X với cửa sổ kính và mục tiêu vonfram hoặc ống tia X tập trung vi mô với cửa sổ berili và mục tiêu vonfram. * Điều kiện làm việc cao: 50KV, 50W
. Máy dò tia X sử dụng máy thu tỷ lệ
. Chuẩn trực: cố định hoặc 4 chuyển đổi tự động, 0,05 x0,05 mm đến 00,3 mm
. Bộ lọc cơ bản: cố định hoặc 3 chuyển đổi tự động
. Khoảng cách đo có thể được điều chỉnh trong phạm vi 0-80 mm
. Cố định bảng hỗ trợ mẫu, bàn XY thủ công
. Camera được sử dụng để xem vị trí đo theo hướng trục của tia cơ bản. Đường đo được hiệu chỉnh để hiển thị kích thước điểm đo thực tế.
. Thiết kế được cấp phép, bảo vệ toàn diện, phù hợp với Chương 4, Mục 3 của Quy định X-quang của Đức

Lĩnh vực ứng dụng điển hình:

. Số lượng lớn các bộ phận mạ điện để đo
. Chống ăn mòn và mạ trang trí, chẳng hạn như mạ crôm trên niken hoặc đồng
. Phân tích chất lỏng tòa nhà cho ngành mạ điện
. Chiến lược cho ngành công nghiệp bảng mạch như vàng mỏng, bạch kim và mạ niken
. Đo mạ cho các khớp nối và tiếp xúc
. Đo mạ chức năng cho ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn
. vàng, đồ trang sức và ngành công nghiệp đồng hồ