Máy đo độ dày huỳnh quang Fischer XAN220/222 X-ray Đức

Mô tả sản phẩm

FISCHERSCOPE ® X-RAY XAN ® 220/222,Dụng cụ đo huỳnh quang tia X để phân tích nhanh, không phá hủy hợp kim vàng và bạc：

Dụng cụ đo huỳnh quang tia X được sử dụng để phân tích không phá hủy nhanh hợp kim vàng và bạc và đo độ dày mạ, Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 là một dụng cụ đo huỳnh quang tia X được tối ưu hóa để phân tích không phá hủy đồ trang sức, tiền xu và kim loại quý. Nó đặc biệt thích hợp để phân tích thành phần và độ dày lớp phủ của kim loại quý và các hợp kim của nó. Có tới 24 nguyên tố có thể được xác định đồng thời từ clo (17) đến uranium (92). FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 và XAN 222 tuân thủ DIN ISO 3497 và ASTM B568. Công ty chúng tôi cũng kinh doanh các thiết bị hoàn toàn mới nhập khẩu từ các thương hiệu nổi tiếng thế giới như: Anh Taylor Hobson, Cộng hòa Séc GearSpect Group, Đức Helmut Fischer, Đức EPK, Hà Lan InnovaTest, Thụy Sĩ TRIMOS, Mỹ Olympus, Mỹ Raytek và các nhà sản xuất nổi tiếng thế giới khác sản xuất máy đo độ nhám, máy đo bánh răng hình trụ, máy đo độ dày lớp phủ, các loại máy đo độ cứng, máy đo độ cao, máy dò khuyết tật siêu âm, DO-2 K PC Bevel Gear Single Facial Mesh, v.v. Chào mừng bạn đến với tin nhắn hoặc cuộc gọi trực tuyến!

Tính năng sản phẩm:

• Máy phân tích vật liệu kim loại X-quang Fischer XAN220 được thiết kế đặc biệt tối ưu cho đồ trang sức phân tích không phá hủy, tiền xu và kim loại quý;
• Được trang bị chuẩn trực cố định và cân nhắc cơ bản, đặc biệt thích hợp cho phân tích kim loại quý
• Được trang bị máy dò trôi silicon độ phân giải cao (SDD) để phân tích đa nguyên tố phức tạp hơn

• Hướng đo từ dưới lên trên, có thể dễ dàng nhận ra vị trí mẫu

Các lĩnh vực ứng dụng điển hình bao gồm:

• Trang sức, kim loại quý và hợp kim nha khoa
• Vàng trắng vàng
• Bạch kim và bạc
• Rhodium
• Phân tích hợp kim và lớp phủ
• Phân tích nhiều lớp phủ

Tất cả các hệ thống X-quang Fischer được đặc trưng bởi độ chính xác tuyệt vời và sự ổn định lâu dài. Nhu cầu hiệu chuẩn lại đã giảm đáng kể, tiết kiệm thời gian và công sức. Máy dò trôi silicon hiện đại đạt được độ chính xác cao và độ nhạy phát hiện tốt. Phương pháp tham số cơ bản của Fischer cho phép phân tích các mẫu rắn và lỏng cũng như các hệ thống phủ mà không cần hiệu chuẩn. Xan220 là một công cụ máy tính để bàn thân thiện với người dùng. Định vị mẫu nhanh chóng và thuận tiện. Nguồn tia X và cụm máy dò bán dẫn nằm ở phần dưới của thiết bị, do đó hướng đo bắt đầu bên dưới mẫu được hỗ trợ bởi một cửa sổ trong suốt.

Mục đích sử dụng	Máy đo tia X phân tán năng lượng (ED XRF) được sử dụng để phân tích thành phần và độ dày lớp phủ của kim loại quý và hợp kim của chúng.
Phạm vi phần tử	Lưu huỳnh S (16) đến uranium U (92) – lên đến 24 nguyên tố cùng một lúc
Độ lặp lại	Đối với vàng ≤0,5‰, thời gian đo 60 giây
ĐặtTrang chủ	Đơn vị bàn với nắp đậy mở lên
Kiểm traĐịnh hướng lượng	Từ dưới lên
XỐng tia	Micro Focus Tungsten ống với cửa sổ Beryllium
Điện áp cao	3các bước：30 kV，40 kV，50 kV; * Dòng cực dương lớn: 1 mA
Khẩu độ (Chuẩn trực)）	Ø 1 mm (39 mils), 可选 Ø 2 mm (79 mils) hoặc Ø 0,6 mm (23,6 mils)
Điểm đo	Ø 1,2 mm (47 mils) với khẩu độ Ø 1 mm (39 mils)Mẫu đặt phẳng (khoảng cách đo 0 mm)