Máy đo độ dày màng Máy đo độ dày

Máy đo độ dày màng Máy đo độ dày

Máy đo độ dày màng Máy đo độ dày

Thông tin sản phẩm Phạm vi đo từ màng đặc biệt đến màng dày, phân tích phổ UV~NIR Hiệu suất cao Máy đo màng quang giá thấp kế thừa hoàn chỉnh 90% chức năng của FE-3000 bằng cách phân tích phổ phản xạ tuyệt đối

Chiều dài đặc biệt

● Hỗ trợ độ dày màng khác nhau từ màng mỏng đến màng dày

● Sử dụng phổ phản xạ để phân tích độ dày của màng

● Đạt được phép đo chính xác cao không tiếp xúc, không phá hủy trong khi kích thước nhỏ và giá thấp

● Thiết lập điều kiện đơn giản và hoạt động đo lường! Bất cứ ai cũng có thể dễ dàng đo độ dày của phim

● Nhiều phép đo độ dày màng có thể được thực hiện thông qua phương pháp đỉnh và thung lũng, phương pháp phân tích tần số, phương pháp bình phương tối thiểu phi tuyến, phương pháp tối ưu hóa, v.v.

● Thuật toán phân tích độ dày màng của phương pháp bình phương tối thiểu phi tuyến tính có thể thực hiện phân tích hằng số quang học (n: chiết suất, k: đếm tuyệt chủng).

Dự án đo lường

Đo phản xạ tuyệt đối

Phân tích độ dày màng (10 lớp)

B5-03=giá trị thông số Ki, (cài 3)

Đối tượng đo

Phim chức năng, nhựa
Màng dẫn trong suốt (ITO, dây nano bạc), màng chênh lệch pha, màng phân cực, màng AR, PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、 Chất kết dính, chất kết dính, màng bảo vệ, lớp phủ cứng, chống vân tay, v.v.

Chất bán dẫn
Chất bán dẫn hợp chất, Si、 Màng oxy hóa, màng nitơ hóa, Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、 Sapphire và như vậy.

Xử lý bề mặt
Lớp phủ DLC, chống gỉ, chống sương mù, v.v.

Vật liệu quang học
Bộ lọc, bộ phim tăng độ thấu, v. v.

FPD
LCD (CF, ITO, LC, PI), OLED (màng hữu cơ, vật liệu đóng gói), vv

khác
HDD、 Băng, vật liệu xây dựng, vv

Nguyên tắc đo lường

Otsuka Electronics sử dụng giao thoa kế quang học và máy quang phổ chính xác cao của riêng mình để thực hiện các phép đo độ dày màng không tiếp xúc, không phá hủy, tốc độ cao và độ chính xác cao. Giao thoa quang học là một phương pháp sử dụng độ phản xạ thu được bằng cách sử dụng hệ thống quang học của máy quang phổ để xác định độ dày của màng quang như trong Hình 2. Ví dụ, một màng mỏng được phủ lên bề mặt kim loại, như thể hiện trong Hình 1, ánh sáng tới từ phía trên mẫu mục tiêu được phản xạ bởi bề mặt màng mỏng (R1). Ngoài ra, ánh sáng đi qua màng mỏng được phản xạ ở bề mặt (kim loại) và ở giao diện màng mỏng (R2). Phương pháp đo hiện tượng giao thoa quang học gây ra bởi sự dịch chuyển pha do chênh lệch quang phổ tại thời điểm này và tính toán độ dày màng dựa trên phổ phản xạ và chỉ số khúc xạ thu được được gọi là giao thoa quang học. Có bốn phương pháp phân tích: phương pháp đỉnh và thung lũng, phân tích tần số, bình phương tối thiểu phi tuyến tính và tối ưu hóa.

quy cách