Phát xạ XES

Phổ phát xạ XES là một kỹ thuật phân tích quan trọng được sử dụng chủ yếu để nghiên cứu cấu trúc điện tử và tính chất hóa học của vật liệu. Với năng lượng cao, tia X cứng có thể đi sâu vào bên trong mẫu, làm cho XES trở thành một công cụ mạnh mẽ để phát hiện thông tin sâu hơn về vật liệu.

Trong một thời gian dài, quang phổ cấu trúc tốt hấp thụ tia X (XAFS) chỉ có thể được thử nghiệm trên các nguồn ánh sáng synchrotron riêng lẻ. Do nguồn sáng có hạn, không thể đáp ứng nhu cầu kiểm tra của nhiều nhà nghiên cứu khoa học. Trong những năm gần đây, dữ liệu XAFS đã trở thành "tiêu chuẩn" cho các tạp chí hàng đầu, dẫn đến việc ngày càng nhiều nhóm nghiên cứu yêu cầu kiểm tra XAFS. Với ý tưởng đưa XAFS vào mọi phòng thí nghiệm, Viện Vật lý Năng lượng Cao của Viện Hàn lâm Khoa học Trung Quốc và Đại học Khoa học và Công nghệ Trung Quốc đã cùng nhau đưa ra máy quang phổ hấp thụ tia X hoàn toàn mới (RapidXAFS).

Phát xạ XESLợi thế sản phẩm:

Với các tính năng sau:

• Sản phẩm Luminous Flux cao nhất

  Thông lượng photon cao hơn 1.000.000 photon/giây/eV - 4.000.000 photon/giây/eV, hiệu quả thu phổ cao hơn nhiều lần so với các sản phẩm khác; Thu được cùng một chất lượng dữ liệu như synchrotron

• Ổn định tuyệt vời

  Nguồn sáng Độ ổn định cường độ ánh sáng đơn sắc tốt hơn 0,1%, năng lượng thu thập lặp đi lặp lại<50 meV

• <1% giới hạn phát hiện

  Thông lượng ánh sáng cao, tối ưu hóa đường dẫn ánh sáng tuyệt vời và ổn định nguồn sáng đảm bảo dữ liệu EXAFS chất lượng cao vẫn có sẵn khi hàm lượng phần tử đo được>1%

• Cấu trúc tròn đôi Roland

  Đột phá sử dụng cấu trúc vòng tròn Roland kép để mô tả đồng thời cấu trúc cục bộ của 2 phần tử trong trường hợp một nguồn tia X
  

Cấu trúc tốt hấp thụ tia X (XAFS), là một công cụ mạnh mẽ để nghiên cứu cấu trúc nguyên tử hoặc điện tử cục bộ của vật liệu, được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực phổ biến như xúc tác, năng lượng, nano, v.v.

Phát xạ XESChủ yếu có những ưu điểm sau:

1. Không phụ thuộc vào cấu trúc có trật tự dài hạn và có thể được sử dụng trong nghiên cứu vật liệu phi tinh thể;

2. Không bị can thiệp bởi các yếu tố khác, có thể nghiên cứu các yếu tố khác nhau trong cùng một vật liệu;

3. Không phá hủy mẫu, thử nghiệm trong môi trường khí quyển, thử nghiệm tại chỗ có thể được thực hiện;

4. Không bị ảnh hưởng bởi trạng thái mẫu, có thể đo chất rắn (tinh thể, bột), chất lỏng (dung dịch, trạng thái nóng chảy) và khí, v.v.

5. Có thể thu được các thông số cấu trúc như loại nguyên tử phối hợp, vị trí phối hợp và khoảng cách nguyên tử, độ chính xác khoảng cách nguyên tử có thể đạt 0,01A.

Thiết kế kết cấu tròn đôi Roland

Tương đương với độ phân giải bức xạ synchrotron

Kiểm tra XES có thể phân biệt N, C, O

Phổ XAFS chủ yếu bao gồm hai phần: Cấu trúc gần hấp thụ tia X (XANES) và Cấu trúc tốt hấp thụ tia X mở rộng (EXAFS). Năng lượng của EXAFS dao động từ 50 eV đến 1.000 eV sau cạnh hấp thụ, bắt nguồn từ hiệu ứng tán xạ đơn electron giữa các nguyên tử xung quanh và hấp thụ của các quang điện tử bên trong được kích thích bởi tia X. XANES bao gồm khoảng 10 eV trước khi hấp thụ đến 50 eV sau khi hấp thụ, chủ yếu là do hiệu ứng tán xạ đa electron đơn lẻ giữa các nguyên tử xung quanh và hấp thụ của các quang điện tử vỏ bên trong được kích thích bởi tia X.

Phần tử đo được: Phần màu xanh lá cây có thể đo được K cạnh, phần màu vàng có thể đo được L cạnh

Ứng dụng XAFS:

• Xúc tác công nghiệp

• Vật liệu lưu trữ năng lượng

• Vật liệu nano

• Độc tố môi trường

• Phân tích chất lượng

• Phân tích nguyên tố nặng