Máy đo kích thước hạt trung bình

Nhà máy đo kích thước hạt Đan ĐôngMáy đo kích thước hạt được phát triển bởi nhà sản xuất, trong phòng thí nghiệmSự tán xạ, nhiễu xạ xảy ra khi ánh sáng chiếu vào các hạt, và sự nhiễu xạ, cường độ ánh sáng tán xạ của chúng đều liên quan đến kích thước của hạt. Quan sát cường độ ánh sáng của nó, có thể áp dụng lý thuyết nhiễu xạ Fraunhofer và lý thuyết tán xạ Mie để tìm phân bố đường kính hạt (phương pháp nhiễu xạ/tán xạ laser), sử dụng lý thuyết tán xạ Mie để tính toán. Ba loại ánh sáng có thể được tạo ra khi ánh sáng đi vào các hạt hình cầu: loại thứ nhất, ánh sáng phản chiếu trên bề mặt của hạt, qua bên trong hạt và qua bề mặt bên trong hạt; Loại thứ hai, ánh sáng khúc xạ qua bên trong hạt; Loại thứ ba, nhiễu xạ ánh sáng trên bề mặt. Những hiện tượng này không liên quan đến kích thước của hạt và tất cả đều có thể được xử lý như tán xạ ánh sáng.

Khi kích thước hạt lớn hơn bước sóng, cường độ ánh sáng nhiễu xạ được đo bằng lý thuyết nhiễu xạ Fraunhofer vàCường độ ánh sáng tán xạ mà lý thuyết cầu được đại thể là nhất trí. Do đó, lý thuyết nhiễu xạ Fraunhofer có thể được coi là một cách tiếp cận gần đúng với lý thuyết tán xạ Mie. Tại thời điểm này, hướng tán xạ ánh sáng (nhiễu xạ) hầu như tập trung ở phía trước và cường độ của nó thay đổi đáng kể liên quan đến kích thước của đường kính hạt. Tức là biểu thị phổ cường độ ánh sáng vốn có của đường kính hạt, giải ra phân bố cường độ ánh sáng của hạt (phổ tán xạ) là có thể xác định đường kính hạt. Khi bước sóng và đường kính hạt gần nhau, cường độ tán xạ không thể được biểu thị bằng cách sử dụng công thức xấp xỉ của Fraunhofer. Tại thời điểm này, cần phải thảo luận thêm về lý thuyết tán xạ Mie. Cường độ ánh sáng tán xạ trong tán xạ Mie bao gồm bước sóng ánh sáng tới, đường kính hạt, hạt và môi trườngĐể chắc chắn.