09,18,2026 4xem
Sản phẩm chùm ion tập trung VângCông cụ cốt lõi để nghiên cứu và phát triển vật liệu chuyển đổi từ "dựa trên kinh nghiệm" sang "dựa trên dữ liệu"TrongKhoa học vật liệu, khoa học sự sống, kiểm tra công nghiệp,Chất bán dẫnCác lĩnh vực như phân tích thất bạiPhát huy tác dụng không thể thay thế，màĐặc tính chất lượng cao, chuẩn bị mẫu và tái cấu trúc ba chiềuChính xácĐó là bối cảnh ứng dụng rộng rãi và cốt lõi của nó.。
Zeiss tiếp tục làm sâu sắc thêm chiến lược bản địa hóa, xuất phát từ thị trường Trung Quốc, để đáp ứng nhu cầu bản địa hóa nghiên cứu khoa học, công bố gương quét chùm ion tập trung hoàn toàn mới Crossbeam 330.Crossbeam 330 được thiết kế đặc biệt cho các cảnh cốt lõi như đặc tính chất lượng cao, chuẩn bị mẫu,Thông qua tích hợp sâu ống kính điện tử và ống kính ion, toàn diện phân tích hình ảnh/mặt cắt chất lượng cao, chuẩn bị mẫu TEM,Xử lý vi nạp、 Nhu cầu ứng dụng như biểu tượng 3D.Được thiết kế đặc biệt không rò rỉ ống kính từ tính và công nghệ giảm tốc bên trong ống kính, nó có thể dễ dàng phù hợp với các mẫu phức tạp như từ tính và không dẫn điện, không cần tiền xử lý phức tạp và có thể được theo dõi trong thời gian thực trong quá trình chế biến để đạt được đặc tính phân giải cao và xử lý chính xác.
Ba LớnSở trường：
01
“Mạnh mẽ” Mô tả：Hình ảnh chất lượng cao và khả năng tương thích mẫu đầy đủ với hệ thống quang học điện tử Gemini cổ điển cho phép bạn đạt được sự xuất sắc trong FIBTrải nghiệm hình ảnh SEM
02
Chuẩn bị "nhanh"：Khả năng mô tả tốt kết hợp với súng ion thông lượng cao, có thể đạt được việc chuẩn bị mẫu nhanh và mô tả chất lượng cao của cấu trúc bề mặt phụ
03
Lời bài hát: Easy TEM: phi thườngHiệu suất chùm ion đảm bảo dễ dàng chuẩn bị mẫu TEM chất lượng cao; Việc áp dụng các quy trình tự động được phát triển mới và phần mềm dễ sử dụng có thể làm giảm đáng kể những thách thức trong việc chuẩn bị mẫu TEM.
Từ phân tích tổng thể vĩ mô đến nghiên cứu sâu về cơ chế vi mô, nghiên cứu tiên tiến đang phát triển nhanh chóng theo hướng đa chiều, đa chiều, phức tạp và nhu cầu mô tả hệ thống đã trở thành đặc điểm cốt lõi của đột phá khoa học và đổi mới công nghiệp, cũng mang lại những thách thức thực tế như cắt dữ liệu, hoạt động phức tạp của nhiều thiết bị và phân mảnh quá trình phân tích.
Crossbeam 330 có thể được tích hợp liền mạch vào các giải pháp mô tả hội chứng đa phương thức Zeiss, kính hiển vi quang học liên kết sâu, kính hiển vi tia X và các ưu điểm mô tả độc đáo khác của các thiết bị khác nhau, thực hiện tự động hóa từ kích thước cm đến kích thước nanoTỷ lệ ROIPhân tích đặc tính liên tục và đa phương thức，Phá vỡ rào cản kỹ thuật giữa các thiết bị，Giải quyết một cách có hệ thống các yêu cầu nghiên cứu phức tạp.
Tích hợp liền mạch vào nghiên cứu đa quy mô, giải quyết một cách có hệ thống nhu cầu nghiên cứu phức tạp:
Kính hiển vi tia X và kính quét chùm ion tập trung (XRM-FIB) liên kết quá trình để nhận ra vị trí, phơi nhiễm, đặc tính và phân tích các chất gây ô nhiễm pin
Kính quét chùm tia ion tập trung Zeiss Crossbeam 330 hoàn toàn mới với khả năng chụp ảnh và chuẩn bị mẫu tuyệt vời, quy trình vận hành thông minh hơn và nền tảng tích hợp đa phương thứcVật liệu mới, kim loại, năng lượng mới, khoa học trái đất, chất bán dẫn điện tử và khoa học đời sống, v.v.Các lĩnh vực tiên tiến cung cấp các giải pháp mô tả và chế biến một cửa hiệu quả và đáng tin cậy để giúp bạn đạt được những đột phá khoa học và nâng cấp công nghiệp ở mức độ cao hơn.
