Hệ thống tại chỗ lực điện truyền qua gươngNó là một thiết bị đặc tính tại chỗ của tải cơ học tích hợp, kiểm tra điện và hình ảnh độ phân giải cao của kính truyền qua. Cốt lõi là việc bổ sung đầu dò quét, cảm biến lực và đơn vị kiểm tra điện trong cực mẫu của kính truyền qua. Nó có thể thu được dữ liệu hiệu suất lực và cấu trúc vi mô nguyên tử của vật liệu đồng bộ. Nó được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu quan hệ hiệu ứng vi mô trong vật liệu nano, vật liệu năng lượng mới và các lĩnh vực khác.

　　Hệ thống tại chỗ lực điện truyền qua gươngChủ yếu bao gồm một số bộ phận sau:

Thanh mẫu điện-lực tại chỗ: Là thành phần cốt lõi, thanh mẫu được tích hợp chip MEMS để thực hiện điều khiển tự động đa trường lực và hợp chất điện và đo phản hồi. Thiết kế của nó cần đáp ứng giới hạn không gian khoang của gương điện truyền, đồng thời đảm bảo độ ổn định cơ học cao và hiệu suất che chắn điện từ tốt để tránh nhiễu hình ảnh đường dẫn ánh sáng.

MEMS Mechanical Power Supplement Chip: Nó được xử lý bằng công nghệ hệ thống vi cơ điện (MEMS) để đạt được điều khiển độc lập của điện trường và tải cơ học. Thiết kế chip cần phải phù hợp với tải cơ học chính xác cao và truyền tín hiệu điện.

Hệ thống điều khiển nhiệt độ cơ học: Hỗ trợ kiểm tra tính chất cơ học động trong điều kiện nhiệt độ cao, đáp ứng nhu cầu đặc tính tại chỗ trong điều kiện cực * điều kiện làm việc.

Bộ điều khiển điện: Tích hợp đơn vị kiểm tra điện áp hiện tại, hỗ trợ đo điện áp tự động (I-V), đo hiện tại-thời gian (I-T), và có chức năng lưu dữ liệu tự động. Phạm vi đầu ra điện áp bao gồm chế độ bình thường ± 10V và chế độ điện áp cao ± 150V để phù hợp với nhu cầu thử nghiệm khác nhau.

Hệ thống điều khiển đầu dò nano: Thực hiện thao tác chính xác cao của đầu dò thông qua ổ đĩa gốm áp điện, đảm bảo đầu dò di chuyển trơn tru và thực hiện thí nghiệm quan sát tại chỗ có độ phân giải cao.

Gói phụ kiện và hệ thống chuẩn bị kim: Cung cấp các công cụ hỗ trợ và thiết bị chuẩn bị kim cần thiết cho thí nghiệm, đảm bảo tính toàn vẹn và tiện lợi của quy trình thí nghiệm.