Máy đo độ lệch phổ EllipticalNó là một dụng cụ đo quang học có độ chính xác cao, chủ yếu được sử dụng để phân tích các tính chất quang học của vật liệu (ví dụ: chỉ số khúc xạ, hệ số tuyệt chủng), độ dày màng (từ cấp nano đến micron) và thông tin cấu trúc vi mô của bề mặt/giao diện. Nguyên tắc cốt lõi của nó là sử dụng sự thay đổi trạng thái phân cực của ánh sáng sau khi phản xạ hoặc truyền qua bề mặt vật liệu, bằng cách phân tích sự thay đổi này để đảo ngược các đặc tính vật lý của vật liệu, được sử dụng rộng rãi trong chất bán dẫn, màng quang học, vật liệu nano, y sinh và các lĩnh vực khác.

Thiết bị có thể hoạt động mà không cần tiếp xúc, đo không phá hủy, không phá hủy mẫu; Đo độ dày có thể đạt đến cấp độ nano; Không cần đánh dấu hoặc tiền xử lý, phù hợp với nhiều loại vật liệu.

Chọn muaMáy đo độ lệch phổ EllipticalBạn có thể quan tâm đến một số điểm sau:

1, Phạm vi phổ: Chọn phạm vi phổ thích hợp theo đặc tính quang học của vật liệu đo. Ví dụ, vật liệu trong suốt cần tập trung vào vùng phổ chiết suất và vật liệu hấp thụ sóng ngắn có thể được mở rộng đến vùng trong suốt hồng ngoại để xác định độ dày.

Độ chính xác và độ lặp lại của phép đo: độ chính xác là chỉ số cốt lõi, cần xác minh độ chính xác bằng mẫu tiêu chuẩn (chẳng hạn như không khí); Độ lặp lại phản ánh sự ổn định của thiết bị và cần đo kết quả so sánh nhiều lần.

Phương pháp góc tới: Đo nhiều góc có thể cải thiện độ tin cậy, nhưng không phải tất cả các tình huống đều cần thiết. Các cấu trúc phức tạp như màng nhiều lớp, màng hấp thụ cần đo nhiều góc, trong khi màng đơn giản là một góc.

4. Phần mềm phân tích: đo thiên vị bầu dục là đo không trực tiếp, dữ liệu cần phù hợp với phân tích. Phần mềm phải có cơ sở dữ liệu vật liệu phong phú, khả năng xây dựng mô hình linh hoạt và các thuật toán hiệu quả để hỗ trợ đảo ngược tham số nhanh và chính xác.

5, Cấu hình phần cứng: Chọn bộ bù xoay, đế góc tự động, công nghệ bó hội tụ và các phần cứng khác theo nhu cầu.