Kỹ thuật gương quét (SEM) và phân tích phổ năng lượng tia X (EDS) kết hợp cho phép phát hiện thông tin về cấu trúc và nguyên tố của các chất gây ô nhiễm trong vật liệu pin. Tuy nhiên, các chất gây ô nhiễm trong pin thường có nồng độ thấp hơn và có thể mất nhiều thời gian hơn để thu thập hình ảnh khi nghiên cứu chúng bằng EDS truyền thống. Trong tài liệu ứng dụng này, chúng tôi giới thiệu một cách nhanh chóng và dễ dàng để mô tả các chất gây ô nhiễm bằng cách sử dụng một nền tảng SEM mới - Thermo Scientic. ™ Axia ™ ChemiSEM， Có thể nhanh chóng và dễ dàng phân tích cấu trúc vi mô vật liệu, phát hiện khuyết tật.