Rõ ràng,Máy nhiễu xạ tia X là phương tiện phân tích cơ bản và không thể thiếu trong các lĩnh vực liên quan đến vật liệu học.Có ưu thế không tổn hao gì, chuẩn bị mẫu đơn giản. Máy nhiễu xạ tia X nói chung chủ yếu bao gồm phần nguồn sáng tia X, máy đo góc, bàn mẫu, hệ thống đường quang, máy dò năm bộ phận lớn.

Trên cơ sở D2 Phaser đã có, Bruker kết hợp với lợi thế của máy dò mảng phân tán năng lượng dòng LYNXEYE có tính năng tuyệt vời, đã mạnh dạn thử nghiệm logic cấu trúc và chuyển động mới trên nền tảng nhiễu xạ máy tính để bàn, mạnh mẽ đưa ra một hệ thống nhiễu xạ máy tính để bàn xuyên biên giới -Phaser D6。

Tổng kết điểm sáng sản phẩm:

Ⅰ. Nguồn sáng X-ray tùy chọn

D6 Phaser cung cấp hai nguồn sáng tia X tùy chọn, 600W/1200W, với cường độ thử nghiệm tương đương với các mô hình sàn lớn để đáp ứng các nhu cầu ứng dụng khác nhau.

Ⅱ. Góc Finder với độ chính xác cao

D6 Phaser đảm bảo rằng trong phạm vi toàn phổ của mẫu corundum (20-140 °), sai số đo của bất kỳ đỉnh nhiễu xạ nào không vượt quá ± 0,01 °, tương đương với các mô hình sàn lớn.

Ⅲ. Mở rộng nền tảng đa chức năng

D6 Phaser cũng có thể thực hiện các thử nghiệm linh hoạt trước đây chỉ có trên các mô hình sàn lớn như:

◇ Kiểm tra tới màng (GID)

◇ Kiểm tra độ phản xạ phim (XRR) Kiểm tra ứng suất dư

◇ Kiểm tra cấu trúc dệt

◇ Kiểm tra truyền mao mạch

Từ quan điểm chức năng, thế hệ trước của máy tính để bàn nhiễu xạ D2 PHASER do hạn chế về kích thước không gian, chỉ có thể hoàn thành thử nghiệm phân tích bột, khối, màng thông thường và các mẫu khác, không thể đạt được nhiều chức năng hơn;

màD6 phaPhá vỡ các hạn chế về chức năng của thiết bị phát rách màn hình nền như:

① Kiểm tra chiếu phim (GID):Sử dụng sự phù hợp của đường dẫn ánh sáng song song và bảng mẫu trục Z có thể điều chỉnh chiều cao mẫu;

② Kiểm tra ứng suất&dệt:Áp dụng sự phối hợp giữa điểm lấy nét và bàn mẫu có chuyển động theo hướng Chi và Phi;

③ Kiểm tra nhiệt độ tại chỗ:Sử dụng kho mẫu thay đổi nhiệt độ tại chỗ để thực hiện;

④ Truyền mao mạch:Cần sự hợp tác của bảng mẫu mao mạch và quang học truyền qua, v.v., việc mở rộng các ứng dụng này sẽ đạt được sự mở rộng chức năng quan trọng trong vật liệu màng mỏng, vật liệu kim loại, dược phẩm, vật liệu gốm và các lĩnh vực khác để đạt được nền tảng đa chức năng của máy nhiễu xạ loại bàn.

Từ lựa chọn cấu hình cơ bản,D6 phaCũng cung cấp nhiều ứng dụng hơn:

① Công suất ống quang:Cung cấp ba lựa chọn, người dùng có thể chọn một phù hợp thích hợp hơn dựa trên ứng dụng;

② Thiết bị lấy mẫu tự động:Thiết bị lấy mẫu tự động 12 bit do D6 PHASER cung cấp cho người dùng lựa chọn, giúp tiết kiệm chi phí lao động.

Lựa chọn nước lạnh:D6 PHASER, ngoài việc làm mát bằng nước bên trong, người dùng cũng có thể chọn kết nối bên ngoài, v.v., theo đuổi và hỗ trợ các phương án tùy chỉnh cho các nhu cầu khác nhau của người dùng khác nhau.

Hơn nữa,D6 phaCũng là kế thừa ưu thế truyền thống của Brooke.

Máy đo góc độ chính xác cao của phương pháp quét theta/theta, cung cấp cho bạn vị trí góc chính xác, đặt nền tảng cho chất lượng pha của bạn; Cũng có thể mang theo toàn bộ hệ thống máy dò mảng phân tán năng lượng LYNXEYE, so với máy dò mảng truyền thống có nhiều chức năng phân biệt năng lượng hơn, phần lớn loại bỏ tiếng ồn và nhiễu nền đối với dữ liệu, cải thiện tỷ lệ tín hiệu tiếng ồn và tỷ lệ đỉnh/lưng, bảo vệ hộ tống cho phù hợp toàn phổ của bạn, cải tiến cấu trúc, định lượng không tiêu chuẩn và vân vân.

D6 phaPhương pháp thực hiện nhiễu xạ 2D D6 PHASER cung cấp hai phương pháp trong hình học phản xạPhương pháp thực hiện nhiễu xạ hai chiều, phương pháp quét Bragg-2D và Phi-1D:

Phương pháp Bragg-2DKhông cần phải di chuyển mẫu, thay vào đó, mẫu được tiếp xúc với chùm tia X trên diện rộng bằng cách chọn độ phân kỳ lớn hơn của đường dẫn ánh sáng tới và hiển thị trực quan các tín hiệu nhiễu xạ từ các hạt khác nhau trong không gian Δϖ vs. 2Theta.

Phương pháp Phi-1DSau đó, cần phải sử dụng bàn xoay mẫu, sử dụng chùm tia X hẹp hơn để chiếu vào mẫu, máy dò được định vị ở vị trí đỉnh 2Theta cụ thể để chụp ảnh hạt bằng cách quay mẫu đồng thời chụp ảnh nhanh máy dò liên tục. Cấu hình bảng mẫu của máy nhiễu xạ tia X tương ứng được thể hiện trong Hình 1.

Hình 1. Bàn mẫu cố định D6 PHASER (trái) cho nhiễu xạ Bragg2D và bàn mẫu xoay (phải) cho nhiễu xạ Bragg2D và Phi-1D 2D

Hình 2 cho thấy một bản đồ nhiễu xạ hai chiều của một mẫu bột hạt thô chứa một số lượng lớn các đốm không liên tục. Trong các phép đo nhiễu xạ bột một chiều thông thường, tín hiệu nhiễu xạ sẽ được tích hợp dọc theo các đường nhiễu xạ và người dùng sẽ không nhận ra rằng kích thước hạt mẫu không đồng đều. Và bây giờ nhờ vào phép đo nhiễu xạ hai chiều nhanh chóng, người dùng nhận ra rằng một chiều định lượng đang được thực hiện.Đo lường XRDTrước đó, các mẫu nên được nghiền nhỏ hơn.

Hình 2. Giao diện DIFFRAC.COMMANDER cho thấy Phi-1D quét mẫu đường thô

Trục ngang của hình ảnh tương ứng với vòng quay Phi, trong khi trục dọc hiển thị ảnh chụp nhanh của máy dò. Sử dụng thu thập dữ liệuD6 pha600W, mục tiêu Co, bộ lọc K-beta, chuẩn trực Soller 2,5 °, khe phân kỳ biến thiên (mở liên tục, 0,25 mm), không có màn hình tán xạ không khí. Sử dụng máy dò LYNXEYE-2 để quét phi liên tục với bước 0,9 độ, thời gian phơi sáng 1 giây, tổng thời gian quét 401 giây và máy dò đạt đến mở 2Theta 4,97 °.

Ví dụ thứ hai (Hình 3) cho thấy xu hướng ưu tiên của các hạt nhỏ. Các đường thẳng đứng cho thấy điều chế cường độ rộng hơn, tuy nhiên đối với các vật liệu có định hướng ngẫu nhiên, cường độ phải không đổi. Ngoài ra, các tín hiệu nhiễu xạ có chiều rộng khác nhau, cho thấy sự hiện diện của các chủng vi mô. Đối với lá nhôm thử nghiệm này, tín hiệu trung bình tốt hơn chỉ có thể đạt được thông qua các thử nghiệm định hướng khác nhau của mẫu. Tương ứng, khi đo mẫu bột, nên cố gắng định hướng lại các tinh thể trong quá trình chuẩn bị mẫu để chúng có xu hướng ngẫu nhiên hơn hoặc nén bột với áp suất tiếp xúc nhỏ hơn.

Hình 3. Phần mềm DIFFRAC.EVA 2D hiển thị bản đồ quét Phi-1D của các mẫu tấm nhôm cán được đo bằng tia X đặc trưng Co