IT2800 Source Tablean (A) Level Low Work Test Optimization Đề án tối ưu hóa

Với sự phát triển nhanh chóng của công nghệ vi điện tử và cải thiện mức độ thiết kế, tích hợp chip và khối lượng dữ liệu hoạt động tăng lên đáng kể. Điều này dẫn đến sự gia tăng đáng kể về mức tiêu thụ năng lượng của chip. Do đó, chip cần được thiết kế và thử nghiệm với công suất thấp. Cùng một phần của cuộc sống của các sản phẩm điện tử, chẳng hạn như thiết bị IOT, các sản phẩm chạy bằng pin di động, v.v., để đảm bảo trạng thái làm việc lâu hơn, cũng phải thực hiện kiểm tra tiêu thụ điện năng thấp.

Các tính năng của Low Power Testing

Dòng tĩnh thấp hơn và thấp hơn, uA hiện tại ngủ đông, thậm chí nA-giai đoạn rò rỉ hiện tại

Tín hiệu phức tạp, phạm vi thay đổi dòng điện động lớn, phát ra dòng điện ngủ đông microampli (uA) đến vài trăm mA hoặc thậm chí vài A

dòng điện

Chiều rộng xung hiện tại hẹp, thường ở mức vài trăm micro giây đến mili giây

Yêu cầu tốc độ lấy mẫu cao và đo liên tục trong thời gian dài

Chế độ kiểm tra năng lượng thấp

Chương trình truyền thống I, nguồn điện hiệu suất cao+đồng hồ vạn năng

Điều này chủ yếu là do kiểm tra tiêu thụ điện năng thấp thường có các đặc tính động nhanh, cần độ chính xác cao của nguồn điện, tốc độ phản hồi nhanh, ngoài ra tốc độ đọc lại của nguồn điện chậm hơn, để tránh bỏ lỡ đột biến hiện tại, thường cần phải hợp tác với vạn năng kỹ thuật số để thu thập dữ liệu.

Kế hoạch truyền thống II, Máy phân tích nguồn+Bảng nguồn/nguồn có độ chính xác cao

Sử dụng máy phân tích năng lượng để phân tích dữ liệu thay vì chức năng vạn năng kỹ thuật số, cả hai đều đắt tiền và đôi khi phải hoàn thành thử nghiệm với phần mềm tính phí.