Máy quang phổ phát xạ tia X(XES) Trong phân tích hóa học, với độ nhạy nguyên tố cao và khả năng phân biệt trạng thái hóa học, nó trở thành một công cụ quan trọng để nghiên cứu thành phần, cấu trúc và cơ chế phản ứng của vật chất.

　　Máy quang phổ phát xạ tia XPhân biệt trạng thái hóa học và phân tích vi vùng:

Khả năng phân biệt trạng thái hóa học

XES phân biệt các trạng thái oxy hóa khác nhau hoặc môi trường phối hợp của cùng một nguyên tố bằng cách đo sự dịch chuyển hóa học của tia X đặc trưng (tức là độ lệch đỉnh quang phổ). Ví dụ:

Trạng thái oxy hóa của sắt: Sự khác biệt về năng lượng của đường phát xạ Kα giữa Fe²⁺ (như FeO) và Fe³⁺ (như FeO) là khoảng 1-2 eV, có thể được phân biệt rõ ràng bởi XES.

Trạng thái hóa trị của lưu huỳnh: S²⁻ (sunfua) và SO₄²⁻ (sunfat) có sự khác biệt đáng kể về năng lượng dòng SKα, được sử dụng để tìm nguồn gây ô nhiễm môi trường.

Microzone và phân tích không phá hủy

Kết hợp với kính hiển vi điện tử quét (SEM) hoặc kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM), XES cho phép lập bản đồ trạng thái hóa học của các khu vực từ micron đến nano, tiết lộ sự không đồng đều của vật liệu.

Không cần chuẩn bị mẫu phức tạp, thích hợp để phân tích không phá hủy các vật liệu giòn hoặc không đồng nhất như gốm sứ, mô sinh học.