Máy quang phổ phát xạ tia XX-ray Emission Spectrometer là một thiết bị khoa học cho phép nghiên cứu định tính nguyên tố, phân tích định lượng và cấu trúc vật chất bằng cách phát hiện các tia X đặc trưng phát ra sau khi vật chất bị kích thích. Nguyên lý cốt lõi của nó dựa trên tia X đặc trưng được tạo ra bởi sự chuyển đổi electron trong lớp nguyên tử, với những ưu điểm như độ nhạy cao, không phá hủy và phát hiện đồng thời nhiều nguyên tố.
Máy quang phổ phát xạ tia XÁp dụng kịch bản:
Khoa học vật liệu
Đặc tính chất xúc tác: Theo dõi sự tiến hóa năng động của cấu trúc trung tâm hoạt động trong phản ứng điện xúc tác. Ví dụ, nhóm nghiên cứu của Đại học Khoa học và Công nghệ Trung Quốc đã sử dụng thời gian mili giây để phân biệt ED-XAFS, bắt được quá trình khử proton của niken-sắt hydroxit trong phản ứng tách oxy và sự hình thành loài Ni³⁺δ cao.
Phân tích thành phần hợp kim: nhanh chóng xác định lượng chính và hàm lượng nguyên tố vi lượng trong vật liệu kim loại, hướng dẫn tối ưu hóa quá trình.
Thăm dò địa chất và phân tích khoáng sản
Xác định cấp quặng: XRF (Máy quang phổ huỳnh quang tia X) có thể phát hiện không phá hủy hàm lượng nguyên tố đất hiếm trong quặng, chẳng hạn như máy XRF cầm tay "Heiko Guardian K5" được sử dụng để kiểm soát xuất khẩu đất hiếm hải quan.
Phân tích pha khoáng: Kết hợp với lợi thế độ phân giải cao của WDS (Máy quang phổ tia X phân tán bước sóng) để phân biệt sự phân bố của các nguyên tố vi lượng trong khoáng sản.
Giám sát môi trường
Phân tích vật chất hạt trong khí quyển: XRF là một trong ba phương tiện phân tích nguyên tố PM2.5, có thể phát hiện đồng thời hơn 20 nguyên tố như Al, Si, S, Cl.
Đánh giá ô nhiễm đất: Kiểm tra nhanh các khu vực bị ô nhiễm kim loại nặng (ví dụ: Pb, Cd, As).
Kiểm tra chất lượng công nghiệp
Phát hiện pin lithium: XRF được sử dụng để định lượng nguyên tố vật liệu tích cực của pin ba thành phần, tránh lạm dụng dẫn đến nổ và đảm bảo tuổi thọ.
Sản xuất chất bán dẫn: Phát hiện ô nhiễm kim loại trên bề mặt wafer và kiểm soát tỷ lệ tốt.
V. Xu hướng phát triển công nghệ